[發(fā)明專利]一種機(jī)械密封泄漏故障預(yù)測(cè)方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010940111.6
• 申請(qǐng)日: 2020-09-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112100770A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-12-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙恒勇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 東臺(tái)市光明機(jī)械密封有限公司
• 主分類號(hào): G06F30/17
• 分類號(hào): G06F30/17;G01D21/02;G06F119/04
• 代理公司: 南京蘇博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32411
• 代理人: 伍兵

本發(fā)明公開(kāi)了一種機(jī)械密封泄漏故障預(yù)測(cè)方法，通過(guò)確定機(jī)械密封泄露的大體位置；對(duì)機(jī)械密封進(jìn)行同等條件的多組試驗(yàn)，從而從多組試驗(yàn)中收集泄露故障的關(guān)聯(lián)故障和非關(guān)聯(lián)故障，從而建立機(jī)械密封泄露故障的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)模型，包括運(yùn)行故障數(shù)據(jù)，分別建立正態(tài)分布模型、對(duì)數(shù)正態(tài)分布模型、指數(shù)分布模型和兩參數(shù)威布爾分布模型，并進(jìn)行模型參數(shù)反演和參數(shù)檢驗(yàn)，從而得到一個(gè)機(jī)械密封泄露故障數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)模型，對(duì)機(jī)械密封泄露故障數(shù)據(jù)模型的數(shù)據(jù)進(jìn)行選擇，從而預(yù)測(cè)設(shè)備機(jī)械密封的可靠性壽命。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及機(jī)械密封泄漏檢測(cè)領(lǐng)域，尤其涉及一種機(jī)械密封泄漏故障預(yù)測(cè)方法。

背景技術(shù)

目前機(jī)械密封主要用以解決旋轉(zhuǎn)軸用動(dòng)密封問(wèn)題，由于機(jī)械密封具有泄漏量少，工作可靠性程度高和壽命長(zhǎng)等許多優(yōu)點(diǎn)，目前已廣泛應(yīng)用于石油、化工、醫(yī)藥、燃料和國(guó)防等工業(yè)領(lǐng)域。

由于許多因素的影響，機(jī)械密封的使用壽命長(zhǎng)短各異，長(zhǎng)的可達(dá)2～4年，短的只有2～3個(gè)月，甚至幾周時(shí)間，若不能預(yù)測(cè)機(jī)械密封泄漏損失和泄漏率超標(biāo)時(shí)間，往往導(dǎo)致過(guò)早地更換新的密封件，或者因不能及時(shí)發(fā)現(xiàn)泄漏率超標(biāo)，延誤維修時(shí)間，引起易燃、易爆、有害介質(zhì)大量泄漏而導(dǎo)致事故。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種機(jī)械密封泄漏故障預(yù)測(cè)方法，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中的機(jī)械密封的使用壽命長(zhǎng)短各異，若不能預(yù)測(cè)機(jī)械密封泄漏損失和泄漏率超標(biāo)時(shí)間，延誤維修時(shí)間，引起易燃、易爆、有害介質(zhì)大量泄漏而導(dǎo)致事故的技術(shù)問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的一種機(jī)械密封泄漏故障預(yù)測(cè)方法，包括如下步驟：

對(duì)設(shè)備投入運(yùn)行時(shí)間點(diǎn)和泄漏時(shí)間點(diǎn)進(jìn)行記錄，采用光學(xué)檢測(cè)法通過(guò)電磁閥確定機(jī)械密封的泄漏時(shí)間點(diǎn)，并測(cè)量泄漏時(shí)間點(diǎn)的泄漏量，采集機(jī)械密封的泄漏液體量；

機(jī)械密封的四個(gè)端部分別安裝有溢流管，在溢流管內(nèi)安裝有差壓監(jiān)測(cè)儀，并實(shí)時(shí)傳輸管內(nèi)差壓數(shù)據(jù)至上位機(jī)，且在溢流管的端部安裝有阻流彎管，采集機(jī)械密封四個(gè)端部連接管內(nèi)的泄漏液體量的差壓，從而確定機(jī)械密封的泄漏方位；

收集機(jī)械密封在規(guī)定條件下使用，由于運(yùn)行環(huán)境的溫度、壓力和介質(zhì)因素造成機(jī)械密封部件磨損或劣化而引起的故障數(shù)據(jù)以及發(fā)生的時(shí)間點(diǎn)，收集機(jī)械密封由于誤用、維修不當(dāng)以及外界因素引起的故障數(shù)據(jù)以及發(fā)生的時(shí)間點(diǎn)，采用等時(shí)間間隔頻次法繪制泄漏故障間隔時(shí)間散點(diǎn)圖，將統(tǒng)計(jì)總時(shí)間劃分為等時(shí)間區(qū)間，以時(shí)間區(qū)間中間值為橫坐標(biāo)，對(duì)應(yīng)時(shí)間區(qū)間內(nèi)的故障發(fā)生數(shù)為縱坐標(biāo)，得到故障間隔時(shí)間內(nèi)故障發(fā)生分布圖；

建立機(jī)械密封故障分布模型，包括時(shí)間點(diǎn)和故障類型；

對(duì)機(jī)械密封故障分布模型進(jìn)行正態(tài)分布，在上位機(jī)得到機(jī)械密封故障正態(tài)分布圖，其中可直觀顯示機(jī)械密封的泄漏部位、故障方式以及故障時(shí)間點(diǎn)，從而可以預(yù)測(cè)出設(shè)備機(jī)械密封的可靠性壽命。

本發(fā)明的一種機(jī)械密封泄漏故障預(yù)測(cè)方法，通過(guò)確定機(jī)械密封泄露的大體位置；對(duì)機(jī)械密封進(jìn)行同等條件的多組試驗(yàn)，從而從多組試驗(yàn)中收集泄露故障的關(guān)聯(lián)故障和非關(guān)聯(lián)故障，從而建立機(jī)械密封泄露故障的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)模型，包括運(yùn)行故障數(shù)據(jù)，分別建立正態(tài)分布模型、對(duì)數(shù)正態(tài)分布模型、指數(shù)分布模型和兩參數(shù)威布爾分布模型，并進(jìn)行模型參數(shù)反演和參數(shù)檢驗(yàn)，從而得到一個(gè)機(jī)械密封泄露故障數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)模型，對(duì)機(jī)械密封泄露故障數(shù)據(jù)模型的數(shù)據(jù)進(jìn)行選擇，從而預(yù)測(cè)設(shè)備機(jī)械密封的可靠性壽命。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明的機(jī)械密封泄漏故障預(yù)測(cè)方法的流程圖。

圖2是本發(fā)明的關(guān)聯(lián)故障數(shù)據(jù)和非關(guān)聯(lián)故障數(shù)據(jù)的收集整理的流程圖。

具體實(shí)施方式