[發明專利]一種具有自動篩選功能的智能制造芯片檢測裝置

在審

• 申請號: 202010935969.3
• 申請日: 2020-09-08
• 公開（公告）號: CN112207045A
• 公開（公告）日: 2021-01-12
• 發明（設計）人: 徐展拓
• 申請（專利權）人: 徐展拓
• 主分類號: B07C5/00
• 分類號: B07C5/00;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提供一種具有自動篩選功能的智能制造芯片檢測裝置，包括主體，所述主體的內部設置安裝有殼體，所述殼體的上表面固定安裝有安裝部件，所述安裝部件的相對的一側設置安裝有電磁鐵，所述殼體的左右內壁上均固定安裝有夾緊機構，兩個所述夾緊機構相對的一側均固定安裝有活動桿，所述活動桿的軸端固定連接有固定板。該具有自動篩選功能的智能制造芯片檢測裝置，通過檢測機構對芯片進行有效檢測，當芯片合格時，利用機械手抓起合格的芯片進入下一步工序中，當芯片不合格時，通過夾緊機構拉動活動桿，通過活動齒輪嚙合連接帶動轉動齒輪轉動，從而使活動底板向下運動，從而使失效的芯片掉落至收集機構中，從而使設備達到了自動篩選的功能。

技術領域

本發明屬于芯片技術領域，尤其涉及一種具有自動篩選功能的智能制造芯片檢測裝置。

背景技術

芯片又稱為集成電路，到了20世紀中后期半導體制造技術進步，使得集成電路成為可能，相對于手工組裝電路使用個別的分立電子組件，集成電路可以把很大數量的微晶體管集成到一個小芯片，是一個巨大的進步，集成電路的規模生產能力，可靠性，電路設計的模塊化方法確保了快速采用標準化集成電路代替了設計使用離散晶體管。

隨著科學技術的發展，芯片被廣泛使用在各個領域上，芯片的固有可靠性取決于產品的可靠性設計，且芯片在生產的過程中，需要通過相應的檢測工序對芯片進行檢測，以盡可能排除掉存在問題的芯片，防止產品失效，現有技術中對芯片的檢測方法是在自動測試設備上進行檢測，但是現有設備在芯片放置時常常會放歪，從而導致檢測機構對其進行檢測時將芯片損壞，從而造成廠家的經濟損失，故不便于廠家使用，且檢測機構長時間運作，不能間歇性提供能源，導致消耗大量的能源，從而造成能源的浪費，不利于國家節能環保理念。

于是，有鑒于此，針對現有的結構及缺失予以研究改良，提供具有自動篩選功能的智能制造芯片檢測裝置，以期達到更具有更加實用價值性的目的。

發明內容

為了解決上述技術問題，本發明提供一種具有自動篩選功能的智能制造芯片檢測裝置，由以下具體技術手段所達成：

一種具有自動篩選功能的智能制造芯片檢測裝置，包括主體，所述主體的內部設置安裝有殼體，所述殼體的上表面固定安裝有安裝部件，所述安裝部件的相對的一側設置安裝有電磁鐵，所述殼體的左右內壁上均固定安裝有夾緊機構，兩個所述夾緊機構相對的一側均固定安裝有活動桿，所述活動桿的軸端固定連接有固定板，所述活動桿的下側固定安裝有第一齒輪條，所述第一齒輪條通過活動齒輪嚙合連接有轉動齒輪，所述轉動齒輪的一側設置連接有活動底板，所述主體的內壁頂部固定安裝有安裝支架，所述安裝支架的下側設置連接有外殼，所述外殼的內部設置有驅動機構，所述驅動機構的下側活動安裝有主動齒輪，所述主動齒輪的外側通過從動齒輪嚙合連接有第二齒輪條，所述第二齒輪條固定貼合在外殼的內壁上，所述外殼的內部固定安裝有固定部件，所述固定部件的下側固定安裝有第一電動推桿和第二電動推桿，所述第一電動推桿的下端設置安裝有檢測機構，所述第二電動推桿的下端設置安裝有機械手。

進一步的，所述電磁鐵與芯片通過的磁性連接，芯片本身存在磁鐵，芯片放置的過程中，通過電磁鐵與芯片內部磁鐵產生磁性連接，對下放的芯片進行自動校準。

進一步的，所述活動桿的內部開設有凹槽，且凹槽的內壁上設置安裝有緩沖彈簧，所述緩沖彈簧的左端固定連接有連接桿，所述連接桿的左端固定連接有固定板，通過設置緩沖彈簧可以緩解部分夾緊機構對芯片的夾持力，從而實現對芯片的有效保護。

進一步的，所述活動齒輪和轉動齒輪的軸心處均設置有活動軸，且活動軸的前后兩端均與殼體內壁相連接。

進一步的，所述活動底板設置呈中軸線斷開，通過活動齒輪嚙合連接帶動轉動齒輪轉動，從而使活動底板相互打開，使活動底板相互分離。

進一步的，所述殼體的內壁底側設置安裝有收集機構，通過活動底板向下打開，從而使失效的芯片掉落至收集機構中。