[發明專利]基于光斬波法的光源頻閃測試儀的校準方法及校準系統

在審

• 申請號: 202010935932.0
• 申請日: 2020-09-08
• 公開（公告）號: CN112197939A
• 公開（公告）日: 2021-01-08
• 發明（設計）人: 李文興;謝銳華;胡婉君;王卓念
• 申請（專利權）人: 廣州廣電計量檢測股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 陳偉斌

1.一種基于光斬波法的光源頻閃測試儀的校準方法，其特征在于：所述的校準方法包括以下步驟：

S1：根據不同計量需求設置激光光源；為了減少光功率的擾動變化，將激光光源通過光隔離器輸入光學斬波器；

S2：將穩定頻率參考信號輸入光學斬波器，利用光學斬波器將連續光信號變為某一頻率下特定占空比的光信號；

S3：對具有占空比的光信號的光束進行放大處理，增大光斑直徑，降低功率密度；

S4：經過放大處理后的光信號輸出到參考探測器上，參考探測器將接收到的光信號進行光電轉換輸出到頻率計上；同時將穩定頻率參考信號輸入頻率計，利用頻率計對光信號進行測量、數值顯示，并記下該數值；

S5：將待校準的光源頻閃測試儀替換參考探測器和頻率計，即光源產生的頻閃光信號通過放大處理后，輸出到待校準的光源頻閃測試儀；

S6：通過利用待校準的光源頻閃測試儀對光信號直接進行測量，通過不斷的調試，直到待校準的光源頻閃測試儀讀取數值與頻率計讀取的數值一致，完成校準。

2.根據權利要求1所述的基于光斬波法的光源頻閃測試儀的校準方法，其特征在于：所述的頻率計可以采用示波器替換。

3.根據權利要求1或2任一項所述的基于光斬波法的光源頻閃測試儀的校準方法，其特征在于：所述的光斬波器將連續光信號變為某一頻率下特定占空比的光信號，實現閃爍頻率、閃爍指數、閃爍百分比幾種參數的計量。

4.根據權利要求3所述的基于光斬波法的光源頻閃測試儀的校準方法，其特征在于：所述的閃爍指數的計算公式如下：

式中，S1表示一個周期內平均值以上部分的波形面積，S2表示一個周期內平均值以下部分的波形面積。

5.根據權利要求4所述的基于光斬波法的光源頻閃測試儀的校準方法，其特征在于：所述的閃爍百分比的計算公式如下：

通過自定義波形的y_max、y_min值并進行計算，輸出不同調制深度值的光信號。

6.一種基于權利要求1、2、4、5任一項所述的基于光斬波法的光源頻閃測試儀的校準方法的校準系統，其特征在于：所述的系統包括原子頻率標準儀、激光器、光隔離器、光學斬波器、擴束器、參考探測器、頻率計、待校準的光源頻閃測試儀；

所述的原子頻率標準儀，分別為光學斬波器、頻率計提供穩定的頻率參考信號；

所述的激光器可根據不同的需求進行設置，用于產生激光光源；

所述的光隔離器，用于減少反射回激光器的光，實現減少光功率的擾動變化；

所述的光學斬波器，用于將連續光信號變為某一頻率下特定占空比的光信號；

所述的擴束器，用于對輸出光信號的光束進行放大處理，增大光斑直徑，降低功率密度；

所述的參考探測器將接收到的光信號進行光電轉換輸出到頻率計上，頻率計對光信號進行測量、數值顯示，記下該數值；

利用所述的待校準的光源頻閃測試儀替換所述的參考探測器、頻率計，即將擴束器輸出的光信號輸入待校準的光源頻閃測試儀，通過調整光源頻閃測試儀使得顯示數值與頻率計顯示的數值一致，完成校準。

7.根據權利要求6所述的基于光斬波法的光源頻閃測試儀的校準系統，其特征在于：所述的參考探測器的頻帶寬度大于輸出光信號的頻帶寬度。

8.根據權利要求7所述的基于光斬波法的光源頻閃測試儀的校準系統，其特征在于：所述的校準系統還包括智能終端，所述的智能終端通過通信接口分別與激光器、原子頻率標準儀、頻率計、光學斬波器、帶有程控接口的光源頻閃測試儀電性連接，實現數據采集和校準參數。

9.根據權利要求8所述的基于光斬波法的光源頻閃測試儀的校準方法，其特征在于：所述的通信接口包括USB、LAN、GPIB。

10.根據權利要求6～9任一項所述的基于光斬波法的光源頻閃測試儀的校準系統，其特征在于：所述的頻率計可以采用示波器替換。