[發明專利]基于內調制光源法的光源頻閃測試儀的校準方法及校準系統

有效

• 申請號: 202010935920.8
• 申請日: 2020-09-08
• 公開（公告）號: CN112129493B
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發明（設計）人: 李文興;胡婉君;王卓念
• 申請（專利權）人: 廣州廣電計量檢測股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 陳偉斌

1.一種基于內調制光源法的光源頻閃測試儀的校準方法，其特征在于：所述的校準方法包括以下步驟：

S1：產生穩定的頻率參考信號；

S2：根據不同的頻率參考信號選擇不同的輸出波形信號，并通過控制器對激光光源進行內調制和對激光光源進行溫度控制；

S3：將激光光源通過內調制產生的頻閃光信號通過光隔離器，以此為了減少光功率的擾動；

S4：將通過光隔離器輸出的光信號光束后進行放大處理，并輸出到參考探測器上，參考探測器將接收到的光信號進行光電轉換輸出到頻率計上，同時將頻率參考信號輸出給頻率計；所述的頻率計對光信號進行測量、數值顯示，記下該數值；

S5：將待校準的光源頻閃測試儀替換參考探測器和頻率計，即光源產生的頻閃光信號通過放大處理后，輸出到待校準的光源頻閃測試儀；

S6：通過利用待校準的光源頻閃測試儀對光信號直接進行測量，通過不斷的調試，使得待校準的光源頻閃測試儀讀取數值與頻率計讀取的數值一致，完成校準；

所述的輸出波形信號包括正弦波、方波、脈沖波、幅度調制信號、脈沖寬度調制信號、振幅鍵控調制信號、自定義波形幾種信號，實現閃爍頻率、閃爍指數、閃爍百分比的計量；

所述的閃爍指數的計算公式如下：

式中，S1表示一個周期內平均值以上部分的波形面積，S2表示一個周期內平均值以下部分的波形面積；

所述的閃爍百分比的計算公式如下：

通過自定義波形的y_max、y_min值并進行計算，輸出不同調制深度值的光信號。

2.根據權利要求1所述的基于內調制光源法的光源頻閃測試儀的校準方法，其特征在于：所述的頻率計可以采用示波器替換。

3.一種基于權利要求1、2任一項所述的基于內調制光源法的光源頻閃測試儀的校準方法的校準系統，其特征在于：所述的系統包括原子頻率標準儀、任意波形發生器、激光二極管控制器、激光二極管、光隔離器、擴束器、參考探測器、頻率計、待校準的光源頻閃測試儀；

所述的原子頻率標準儀，分別為任意波形發生器、頻率計提供穩定的頻率參考信號；

所述的任意波形發生器，根據不同的頻率參考信號選擇不同的輸出波形信號，實現對激光二極管控制器提供調制信號；

所述的激光二極管控制器，用于驅動激光二極管、并對激光二極管進行溫度控制，同時接收任意波形發生器的調制信號，對激光二極管進行內調制；

所述的激光二極管可根據不同的需求進行設置，產生激光光源；

所述的光隔離器，用于減少反射回激光器的光，實現減少光功率的擾動；

所述的擴束器，用于對輸出光信號的光束進行放大處理，增大光斑直徑，降低功率密度；

所述的參考探測器將接收到的光信號進行光電轉換輸出到頻率計上，頻率計對光信號進行測量、數值顯示，記下該數值；

利用所述的待校準的光源頻閃測試儀替換所述的參考探測器、頻率計，即將擴束器輸出的光信號輸入待校準的光源頻閃測試儀，通過調整光源頻閃測試儀使得顯示數值與頻率計顯示的數值一致，完成校準。

4.根據權利要求3所述的校準系統，其特征在于：所述的參考探測器的頻帶寬度大于輸出光信號的頻帶寬度。

5.根據權利要求4所述的校準系統，其特征在于：所述的校準系統還包括智能終端，所述的智能終端通過通信接口分別與激光器、原子頻率標準儀、頻率計、任意波形發生器、激光二極管控制器、帶有程控接口的光源頻閃測試儀電性連接，實現數據采集和校準參數。

6.根據權利要求5所述的校準系統，其特征在于：所述的通信接口包括USB、LAN、GPIB。

7.根據權利要求4～6任一項所述的校準系統，其特征在于：所述的頻率計可以采用示波器替換。