[發明專利]一種提高偏振消光比測量精度的方法

有效

• 申請號: 202010935402.6
• 申請日: 2020-09-08
• 公開（公告）號: CN112161779B
• 公開（公告）日: 2022-06-10
• 發明（設計）人: 張一琪;項國慶;張愛國;徐瑞;閆繼送;張志輝
• 申請（專利權）人: 中電科思儀科技股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京天奇智新知識產權代理有限公司 11340
• 代理人: 陳嵐崴

1.一種提高偏振消光比測量精度的方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1：將測試光路通過光纖接入消光比測試儀檢偏系統中；

步驟2：按順序初始化5個序列x_in(i＝1，2，3，4，5)；即x_1n，x_2n，x_3n，x_4n，x_5n，此五個序列用于存放從電機起始位置開始等間距采集的光功率數據，其中i代表序列的序號，n代表每個序列中光功率采集序號，為了保證等間距采樣，每個序列中相鄰兩個點對應位置差d是相同的，并且相鄰兩個序列的初始點對應位置差也為d；令i＝1；

步驟3：激活序列1，設置電機轉動的初始位置a，開始測試；

步驟4：電機勻速轉動并從初始位置計時；

步驟5：每隔5t秒采集一次光功率值，得到光功率采樣序列x_in＝{x_i1，x_i1+5，...，x_i(1+5(n-1))}(i＝1，2，3，4，5；n＞0)，即一組光功率數據；

步驟6：判斷是否激已激活第五個序列；若已經激活第五個序列，完成5次光功率采集，即一個光功率采集周期結束，則執行步驟7的操作，否則重令i＝i+1；激活下一個序列，并設置初始位置a＝a+t，并激活新序列，重復執行步驟4；

步驟7：將得到的5個序列的元素按照時間索引進行排序，得到新的光功率采集序列y_m(m＝5n)＝{x₁₁，x₂₁，x₃₁，x₄₁，x₅₁，…，x_1(1+5(n-1))，x_2(1+5(n-1))，x_3(1+5(n-1))，x_4(1+5(n-1))，x_5(1+5(n-1))}(n＞0)；即為最終采樣序列，實現了等間距采樣，并且提高了采樣精度；

步驟8：搜索序列y_m的最大值和最小值y_max，y_min，計算消光比P＝y_max-y_min。

2.如權利要求1所述的提高偏振消光比測量精度的方法，其特征在于，所述步驟1中的檢偏系統，是采用對數放大采集電路的檢偏系統，具體：測試光經光纖連接器再經過第一透鏡準直后，通過旋轉檢偏器改變光的偏振態，再經過第二透鏡匯聚，出來的光信號最后通過光電探測器、對數信號采集模塊后轉換成數字量，送到MCU主控制器中計算出功率值和消光比值。

3.如權利要求2所述的提高偏振消光比測量精度的方法，其特征在于，所述MCU主控制器還設置與電機模塊相連接，將位置數據發送到電機模塊，電機模塊帶動旋轉檢偏器轉動，后再經循環至MCU主控制器接收采集模塊采集到的光功率值并計算。

4.如權利要求3所述的提高偏振消光比測量精度的方法，其特征在于，所述MCU主控制器還設置與數據存儲模塊、LCD顯示模塊、按鍵控制模塊相互連接相互通訊；MCU主控制器還設置與外部接口相連接，用于遠程控制訪問功能。