[發(fā)明專利]器件仿真模型的構(gòu)建方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010933606.6
• 申請(qǐng)日: 2020-09-08
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112149372A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-12-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李卓翰;高小麗;許敏;王習(xí)文;張紀(jì)東
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F30/367
• 分類號(hào): G06F30/367
• 代理公司: 北京華夏泰和知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11662
• 代理人: 曾軍;盧萬(wàn)騰

本申請(qǐng)涉及一種器件仿真模型的構(gòu)建方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，屬于器件仿真技術(shù)領(lǐng)域。該方法通過(guò)獲取待仿真器件的實(shí)測(cè)電氣特性變化數(shù)據(jù)，獲取待仿真器件的初始的仿真模型，初始的仿真模型中包括用于反映待仿真器件電氣特性的c個(gè)關(guān)鍵參數(shù)，采用模擬退火算法對(duì)c個(gè)關(guān)鍵參數(shù)的初始值進(jìn)行更新迭代，每次更新迭代過(guò)程中，獲取待仿真器件的當(dāng)前仿真模型的仿真電氣特性變化數(shù)據(jù)，根據(jù)實(shí)測(cè)電氣特性變化數(shù)據(jù)和仿真電氣特性變化數(shù)據(jù)的相似度，判斷關(guān)鍵參數(shù)的值是否更新；根據(jù)模擬退火算法結(jié)束時(shí)c個(gè)關(guān)鍵參數(shù)的值，獲得仿真器件的最終仿真模型。用以解決現(xiàn)有器件模型仿真過(guò)程中構(gòu)建模型花費(fèi)時(shí)間長(zhǎng)、效率低且模型參數(shù)準(zhǔn)確度低的問(wèn)題。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及器件仿真技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種器件仿真模型的構(gòu)建方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

在電磁兼容仿真項(xiàng)目中，干擾源器件模型充當(dāng)整個(gè)系統(tǒng)的主要干擾源，對(duì)表現(xiàn)系統(tǒng)的EMI特性有著重要意義，目前器件建模的方式主要是以數(shù)學(xué)公式為主，以仿真電路模擬器(Simulation program with integrated circuit emphasis，簡(jiǎn)稱SPICE)建模的方式舉例，在仿真電路模擬器中需要建模的待測(cè)器件的數(shù)學(xué)模型為現(xiàn)有的，設(shè)計(jì)員只需人為為器件的關(guān)鍵參數(shù)添加數(shù)值即能成功建模。然而這些關(guān)鍵參數(shù)數(shù)值往往取決于器件廠家的數(shù)據(jù)手冊(cè)，由于技術(shù)保密等原因，數(shù)據(jù)手冊(cè)的數(shù)據(jù)并不完整，因此利用數(shù)據(jù)手冊(cè)上的數(shù)值來(lái)建模器件，得到的器件模型在電氣特性等方面并不準(zhǔn)確。

而現(xiàn)有通過(guò)先搭建關(guān)于待測(cè)器件的電路，根據(jù)電路實(shí)測(cè)出器件的特性波形，由實(shí)測(cè)的特性波形反推器件的建模參數(shù)，能夠保證器件模型數(shù)據(jù)來(lái)源的準(zhǔn)確性。然而器件模型的關(guān)鍵參數(shù)相互之間聯(lián)系緊密，數(shù)學(xué)公式復(fù)雜多變，反推的過(guò)程十分困難，而人為根據(jù)經(jīng)驗(yàn)設(shè)置參數(shù)值，反復(fù)進(jìn)行調(diào)參，花費(fèi)時(shí)間長(zhǎng)、效率低且構(gòu)建的模型參數(shù)準(zhǔn)確度低。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N器件仿真模型的構(gòu)建方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，用以解決現(xiàn)有器件模型仿真過(guò)程中構(gòu)建模型花費(fèi)時(shí)間長(zhǎng)、效率低且模型參數(shù)準(zhǔn)確度低的問(wèn)題。

第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種器件仿真構(gòu)建的模型的構(gòu)建方法，該方法包括：

獲取待仿真器件的實(shí)測(cè)電氣特性變化數(shù)據(jù)，其中，所述實(shí)測(cè)電氣特性變化數(shù)據(jù)為對(duì)包含在實(shí)測(cè)電路中的所述待仿真器件的電氣特性變化進(jìn)行檢測(cè)獲得；

獲取所述待仿真器件的初始的仿真模型，所述初始的仿真模型中包括用于反映所述待仿真器件電氣特性的c個(gè)關(guān)鍵參數(shù)，所述c為正整數(shù)；

采用模擬退火算法對(duì)所述c個(gè)關(guān)鍵參數(shù)的初始值進(jìn)行更新迭代，每次更新迭代過(guò)程中，獲取所述待仿真器件的當(dāng)前仿真模型的仿真電氣特性變化數(shù)據(jù)，根據(jù)所述實(shí)測(cè)電氣特性變化數(shù)據(jù)和所述仿真電氣特性變化數(shù)據(jù)的相似度，判斷所述關(guān)鍵參數(shù)的值是否更新；

根據(jù)所述模擬退火算法結(jié)束時(shí)所述c個(gè)關(guān)鍵參數(shù)的值，獲得所述仿真器件的最終仿真模型。

可選的，獲取待仿真器件的實(shí)測(cè)電氣特性變化數(shù)據(jù)，包括：

獲取所述實(shí)測(cè)電路中的所述待仿真器件的實(shí)測(cè)電氣特性變化曲線；

對(duì)所述實(shí)測(cè)電氣特性變化曲線等間隔采樣，獲得所述實(shí)測(cè)電氣特性變化曲線的實(shí)測(cè)離散化數(shù)據(jù)序列；

根據(jù)所述實(shí)測(cè)離散化數(shù)據(jù)序列以及采樣間隔，計(jì)算每個(gè)所述實(shí)測(cè)離散化數(shù)據(jù)所在位置的實(shí)測(cè)曲線斜率；

將所述實(shí)測(cè)離散化數(shù)據(jù)序列和所述實(shí)測(cè)曲線斜率，作為所述實(shí)測(cè)電氣特性變化數(shù)據(jù)。

可選的，采用模擬退火算法對(duì)所述c個(gè)關(guān)鍵參數(shù)的初始值進(jìn)行更新迭代，每次更新迭代過(guò)程中，獲取所述待仿真器件的當(dāng)前仿真模型的仿真電氣特性變化數(shù)據(jù)，根據(jù)所述實(shí)測(cè)電氣特性變化數(shù)據(jù)和所述仿真電氣特性變化數(shù)據(jù)的相似度，判斷所述關(guān)鍵參數(shù)的值是否更新，包括：

隨機(jī)生成所述c個(gè)關(guān)鍵參數(shù)的初始值，獲得所述待仿真器件的當(dāng)前仿真模型；