[發(fā)明專利]一種基于雙包層光纖的多參量測量裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010930633.8
• 申請日: 2020-09-07
• 公開（公告）號: CN112146690A
• 公開（公告）日: 2020-12-29
• 發(fā)明（設計）人: 苑立波;王洪業(yè)
• 申請（專利權）人: 桂林電子科技大學
• 主分類號: G01D5/353
• 分類號: G01D5/353
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于雙包層光纖的多參量測量裝置，其特征在于：包括依次相連的光源、單模光纖、起偏器、偏振控制器、刻制有傾斜光柵的雙包層光纖以及信號解調器，所述的雙包層光纖具有內外兩層包層，傾斜光柵刻制在纖芯上，光源發(fā)出的光經(jīng)過傾斜光柵后形成梳狀透射譜，透射譜包含Bragg諧振峰，內包層諧振峰以及外包層諧振峰，當傾斜光柵外部環(huán)境變化時，傾斜光柵透射譜發(fā)生變化，通過監(jiān)測諧振峰波長和強度變化實現(xiàn)對溫度、彎曲、軸向應變、折射率等參量的實時檢測。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種基于雙包層光纖的多參量測量裝置，其特征在于所述傾斜光柵長度為5mm-50mm；傾斜角度不超過45°。

3.根據(jù)權利要求1所述的一種基于雙包層光纖的多參量測量裝置，其特征在于所述的雙包層光纖的纖芯直徑與單模光纖相同，雙包層光纖外包層直徑為125μm。

4.根據(jù)權利要求1所述的一種基于雙包層光纖的多參量測量裝置，其特征在于所述的雙包層光纖內包層直徑為11μm-110μm。

5.根據(jù)權利要求1所述的一種基于雙包層光纖的多參量測量裝置，其特征在于所述的雙包層光纖纖芯與內包層及內包層與外包層之間均存在折射率差，兩個折射率差可以是相同的也可以是不同的。

6.根據(jù)權利要求1所述的一種基于雙包層光纖的多參量測量裝置，其特征在于所述的雙包層光纖的折射率變化可以是階躍型的也可以是漸變型的。

7.根據(jù)權利要求1所述的一種基于雙包層光纖的多參量測量裝置，其特征在于所述的光源為寬帶光源，其所輸出的光譜范圍涵蓋傾斜光柵的輸出光譜。

8.根據(jù)權利要求1所述的一種基于雙包層光纖的多參量測量裝置，其特征在于所述的信號解調器針對于測量的參量不同，可以是光譜分析儀，也可以是由光電二極管和信號采集卡組成的解調系統(tǒng)。