[發明專利]一種適用于射頻芯片并行測試的測試資源調度管理方法在審
| 申請號： | 202010927171.4 | 申請日： | 2020-09-07 |
| 公開（公告）號： | CN112099929A | 公開（公告）日： | 2020-12-18 |
| 發明（設計）人： | 徐寶令;閻濤;張海慶;喬宏志;徐瑞杰;苗繼超 | 申請（專利權）人： | 中電科儀器儀表有限公司 |
| 主分類號： | G06F9/48 | 分類號： | G06F9/48;G06F11/22 |
| 代理公司： | 青島華慧澤專利代理事務所(普通合伙) 37247 | 代理人： | 劉娜 |
| 地址： | 266000 山*** | 國省代碼： | 山東;37 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 適用于 射頻 芯片 并行 測試 資源 調度 管理 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種適用于射頻芯片并行測試的測試資源調度管理方法，其特征在于，包括如下過程：
(1)首先按照射頻芯片測試指標所需硬件資源進行指標體系劃分，使各個指標體系的硬件之間無耦合；
(2)以各個指標體系為測試節點組成測試序列環，且每個測試節點均設置各自的體系鎖；
(3)分別從各個不同測試節點開始，同時啟動測試線程，啟動瞬間各個測試線程分別執有當前測試節點的體系鎖；
(4)各測試線程沿測試序列環的同一個方向依次進行各個測試節點的測試，各測試線程完成對當前測試節點的指標體系測試后，立即釋放該測試節點的體系鎖；下一測試線程獲取該測試節點的體系鎖后，鎖定并完成該測試節點的指標體系測試；否則下一測試線程無法獲取該測試節點的體系鎖，并處于掛起等待狀態；
(5)各個測試線程依次按照步驟(4)的方法沿著測試序列環的同一個方向完成各個指標體系的測試。
2.根據權利要求1所述的一種適用于射頻芯片并行測試的測試資源調度管理方法，其特征在于，所述指標體系包括頻譜指標體系、功率指標體系、噪聲指標體系、S參數指標體系和功耗指標體系。
3.根據權利要求2所述的一種適用于射頻芯片并行測試的測試資源調度管理方法，其特征在于，所述體系鎖包括頻譜鎖、功率鎖、噪聲鎖、S參數鎖和功耗鎖。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中電科儀器儀表有限公司，未經中電科儀器儀表有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010927171.4/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
