[發明專利]一種表征水合物藏滲流能力的方法及裝置

在審

• 申請號: 202010926577.0
• 申請日: 2020-09-07
• 公開（公告）號: CN112014293A
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發明（設計）人: 楊永飛;王煜舒;于曉聰;姚軍;王珂;李英文;王子杰;張凱;孫海;張磊;宋文輝
• 申請（專利權）人: 中國石油大學（華東）;中國地質大學（武漢）
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種表征水合物藏滲流能力的方法，其特征在于，包括如下步驟：

獲取水合物藏的水合物飽和度、儲層顆粒的平均直徑、儲層顆粒數量，以及原始含水飽和度；

根據水合物藏的水合物飽和度、儲層顆粒的平均直徑、儲層顆粒數量，按照第一預定規則獲得第一模型的預測含水飽和度，按照第二預定規則獲得第二模型的預測含水飽和度，按照第三預定規則獲得第三模型的預測含水飽和度，以及按照第四預定規則獲得第四模型的預測含水飽和度；

將原始含水飽和度與第一模型的預測含水飽和度擬合，獲得第一相關系數，將原始含水飽和度與第二模型的預測含水飽和度擬合，獲得第二相關系數，將原始含水飽和度與第三模型的預測含水飽和度擬合，獲得第三相關系數，將原始含水飽和度與第四模型的預測含水飽和度擬合，獲得第四相關系數；

根據第一相關系數、第二相關系數、第三相關系數、以及第四相關系數，按照第五預定規則判斷儲層顆粒運移對滲流的影響。

2.根據權利要求1所述的表征水合物藏滲流能力的方法，其特征在于，所述第一預定規則為按照以下公式計算得到第一模型的預測含水飽和度：

其中，y_1i表示為第一模型的第i個預測含水飽和度；S_i表示為第i個水合物飽和度；d_i表示為第i個儲層顆粒的平均直徑，單位：米；n_i表示為第i個儲層顆粒數量，單位：個；i取1至m中的正整數；m表示為原始含水飽和度的數量。

3.根據權利要求1所述的表征水合物藏滲流能力的方法，其特征在于，所述第二預定規則為按照以下公式計算得到第二模型的預測含水飽和度：

其中，y_2i表示為第二模型的第i個預測含水飽和度；S_i表示為第i個水合物飽和度；d_i表示為第i個儲層顆粒的平均直徑，單位：米；n_i表示為第i個儲層顆粒數量，單位：個；i取1至m中的正整數；m表示為原始含水飽和度的數量。

4.根據權利要求1所述的表征水合物藏滲流能力的方法，其特征在于，所述第三預定規則為按照以下公式計算得到第三模型的預測含水飽和度：

其中，y_3i表示為第三模型的第i個預測含水飽和度；S_i表示為第i個水合物飽和度；d_i表示為第i個儲層顆粒的平均直徑，單位：米；n_i表示為第i個儲層顆粒數量，單位：個；i取1至m中的正整數；m表示為原始含水飽和度的數量。

5.根據權利要求1所述的表征水合物藏滲流能力的方法，其特征在于，所述第四預定規則為按照以下公式計算得到第四模型的預測含水飽和度：

其中，y_4i表示為第四模型的第i個預測含水飽和度；S_i表示為第i個水合物飽和度；d_i表示為第i個儲層顆粒的平均直徑，單位：米；n_i表示為第i個儲層顆粒數量，單位：個；i取1至m中的正整數；m表示為原始含水飽和度的數量。

6.根據權利要求1所述的表征水合物藏滲流能力的方法，其特征在于，所述第五預定規則為：比較第一相關系數、第二相關系數、第三相關系數、以及第四相關系數，越接近1，則儲層顆粒的存在對于儲層滲流能力的影響越接近實際情況。