[發(fā)明專利]紫外發(fā)光芯片、其制備方法及應(yīng)用有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010925500.1 | 申請日: | 2020-09-04 |
| 公開(公告)號: | CN112018219B | 公開(公告)日: | 2022-06-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 賀龍飛;吳華龍;張康;何晨光;劉云洲;趙維;陳志濤 | 申請(專利權(quán))人: | 廣東省科學(xué)院半導(dǎo)體研究所 |
| 主分類號: | H01L33/06 | 分類號: | H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00;A61L2/10;A61L9/20;C02F1/32 |
| 代理公司: | 北京商專永信知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11400 | 代理人: | 李彬彬;王鵬 |
| 地址: | 510651 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 紫外 發(fā)光 芯片 制備 方法 應(yīng)用 | ||
1.一種紫外發(fā)光芯片,其特征在于,從下到上依次包括:襯底、緩沖層、電子傳輸層、紫外光有源區(qū)、電子阻擋層、空穴傳輸層和p型層;
其中,所述紫外光有源區(qū)在正向電流注入下能夠同時發(fā)射深紫外光和近紫外光;
所述紫外光有源區(qū)包括深紫外量子阱區(qū)和近紫外量子阱區(qū);
所述深紫外量子阱區(qū)的阱層的材料采用AlGaN或AlInGaN,所述深紫外量子阱區(qū)的壘層的材料采用AlGaN;
所述近紫外量子阱區(qū)的阱層的材料采用AlGaN、GaN、InGaN或者AlInGaN中的任一種,且所述InGaN為低In組分的InGaN,所述近紫外量子阱區(qū)的壘層的材料采用AlGaN;
所述近紫外量子阱區(qū)插入在所述深紫外量子阱區(qū)中間;或
所述近紫外量子阱區(qū)先于所述深紫外量子阱區(qū)生長形成。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫外發(fā)光芯片,其特征在于,所述深紫外量子阱區(qū)包括阱層和壘層,所述阱層和所述壘層交替生長。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的紫外發(fā)光芯片,其特征在于,所述深紫外量子阱區(qū)的阱層的材料為AlxGa1-xN或AlxInyGa1-x-yN,所述壘層的材料為AlzGa1-zN;其中,0<x<z<1,0<y<1。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的紫外發(fā)光芯片,其特征在于,所述深紫外量子阱區(qū)的阱層的數(shù)量不少于三個。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫外發(fā)光芯片,其特征在于,所述近紫外量子阱區(qū)包括阱層和壘層,所述阱層和所述壘層交替生長。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的紫外發(fā)光芯片,其特征在于,所述近紫外量子阱區(qū)的阱層的材料為AlxGa1-xN、GaN、InyGa1-yN或者AlxInyGa1-x-yN中的任一種,所述壘層的材料為AlzGa1-zN;其中,0<x<z<1,0<y<1。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的紫外發(fā)光芯片,其特征在于,所述近紫外量子阱區(qū)的阱層的數(shù)量為至少一個。
8.一種紫外發(fā)光芯片的制備方法,其特征在于,包括步驟:
S1、在MOCVD設(shè)備中放入襯底;
S2、將反應(yīng)源材料放入所述MOCVD設(shè)備中,同時設(shè)置所述MOCVD設(shè)備中的載氣和生長溫度;
S3、在所述襯底上依次生長緩沖層、電子傳輸層、紫外有源區(qū)、電子阻擋層和空穴傳輸層;其中,所述紫外光有源區(qū)生長為先在生長好的電子傳輸層上生長阱層和壘層交替結(jié)構(gòu)的近紫外量子阱區(qū),再在生長好的近紫外量子阱區(qū)上生長阱層和壘層交替結(jié)構(gòu)的深紫外量子阱區(qū),所述深紫外量子阱區(qū)的阱層的材料為AlGaN或AlInGaN,所述深紫外量子阱區(qū)的壘層的材料為AlGaN;所述近紫外量子阱區(qū)的阱層的材料為AlGaN、GaN、InGaN或者AlInGaN中的任一種,且所述InGaN為低In組分的InGaN,所述近紫外量子阱區(qū)的壘層的材料為AlGaN;
S4、對生長完畢的紫外光芯片的外延片激活空穴傳輸層的空穴,并在電子傳輸層和空穴傳輸層上分別制作n電極和p電極。
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