[發明專利]測試裝置

在審

• 申請號: 202010923721.5
• 申請日: 2020-09-04
• 公開（公告）號: CN114137384A
• 公開（公告）日: 2022-03-04
• 發明（設計）人: 劉俊良;曾筱婷;王禮民;涂家豪;彭俊瑋
• 申請（專利權）人: 思達科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/073;G01R1/04
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 聶慧荃;閆華

1.一種測試裝置，包括：

一底板；

一第一電路板，設置在該底板上；

一加強件，設置在該底板上，并位于該底板的中心部位，同時穿經該第一電路板設置；

一第二電路板，設置在該加強件的中心部位；以及

一測試卡，其一部分位于該加強件下方，另一部分穿經該底板、該第一電路板、該加強件以及該第二電路板設置。

2.如權利要求1所述的測試裝置，其中該底板呈圓形，該底板的中心部位凹設有一第一凹接部，用以供該加強件容置，而該第一凹接部的中心處穿設有一第一通孔。

3.如權利要求2所述的測試裝置，其中該第一電路板的中心處穿設有一第二通孔，該第二通孔對應該底板的該第一凹接部設置。

4.如權利要求3所述的測試裝置，其中該加強件的中心處凹設有一第二凹接部，用以供該第二電路板容置，而該第二凹接部的中心處穿設有一第三通孔。

5.如權利要求4所述的測試裝置，其中該第二電路板中心處穿設有一第四通孔，該第四通孔、該第三通孔、該第二通孔以及該第一通孔相互連通，以供該測試卡的該另一部分穿經設置。

6.如權利要求1所述的測試裝置，其中該測試卡具有一本體部以及多個探針，該本體部位于該加強件下方，該多個探針穿經該底板、該第一電路板、該加強件以及該第二電路板設置，并與該第二電路板電性連接。

7.如權利要求5所述的測試裝置，其中該底板的該第一通孔呈具有圓邊角的正方形。

8.如權利要求7所述的測試裝置，其中該加強件的中心處朝下凸設有一凸接部，該凸接部對應穿經該底板的該第一通孔設置。

9.如權利要求8所述的測試裝置，其中該凸接部具有一輪廓，與該底板的該第一通孔的輪廓對應。

10.如權利要求5所述的測試裝置，其中該第一電路板的表面具有一第一電路圖案，該第二電路板的表面具有一第二電路圖案，該第一電路圖案與該第二電路圖案通過多個接合導線而相互電性連接。

11.如權利要求10所述的測試裝置，其中該測試卡具有一本體部以及多個探針，該本體部位于該加強件下方，該多個探針穿經該底板的該第一通孔、該第一電路板的該第二通孔、該加強件的該第三通孔以及該第二電路板的該第四通孔設置，并通過與該第二電路板的該第二電路圖案電性連接。

12.如權利要求5所述的測試裝置，其中該底板的表面具有一第一定位標示，該加強件的表面具有一第三定位標示，當該加強件組裝于底板上時，該加強件的該第三定位標示對準該底板的該第一定位標示設置。

13.如權利要求12所述的測試裝置，其中該第二電路板具有一第二定位標示，當該第一電路板設置在該底板上時，該第一電路板的該第二定位標示對準該加強件的該第三定位標示設置。

14.如權利要求1所述的測試裝置，其中該底板、該加強件以及該第二電路板為一體成型。