[發明專利]一種斷塊圈閉含油氣性的評價方法和裝置

有效

• 申請號: 202010920004.7
• 申請日: 2020-09-04
• 公開（公告）號: CN112065370B
• 公開（公告）日: 2022-05-17
• 發明（設計）人: 陳迪;龐雄奇;龐宏;李敏;龐礡;吳松;張心罡;徐幟
• 申請（專利權）人: 中國石油大學(北京)
• 主分類號: G06Q50/02
• 分類號: G06Q50/02;E21B47/06;E21B47/00;E21B49/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 韓蕾;劉鑫

1.一種斷塊圈閉含油氣性的評價方法，其包括如下步驟：

通過實驗測錄獲得目標斷塊圈閉的地質參數；

根據目標斷塊圈閉的地質參數，構建獲得斷塊圈閉綜合評價指數；

根據斷塊圈閉綜合評價指數計算獲得目標斷塊圈閉油氣富集指數；

根據計算的目標斷塊圈閉油氣富集指數的數值評價斷塊圈閉含油氣性，目標斷塊圈閉油氣富集指數的數值越大，表明含油氣性越好，油氣越富集；

所述目標斷塊圈閉油氣富集指數符合如下公式(1)：

其中，FI為目標斷塊圈閉油氣富集指數，數值范圍為0～1，Ft為斷塊圈閉綜合評價指數。

2.根據權利要求1所述的評價方法，其中，FI值大于0.5的斷塊圈閉作為優先鉆探的目標圈閉。

3.根據權利要求1所述的評價方法，其中，所述地質參數包括斷塊圈閉所在目的層的主控斷層的垂直斷距、油藏平均埋深、主控斷層的傾角、主控斷層的斷層面正壓力、砂地比、斷層涂抹因子。

4.根據權利要求3所述的評價方法，其中，根據目標斷塊圈閉的地質參數，構建獲得斷塊圈閉綜合評價指數包括：

根據目標斷塊圈閉的地質參數計算獲得斷層綜合評價指數，所述斷層綜合評價指數符合如下公式(2)：

F_f＝0.323×F-0.049×H+0.465×θ-0.102×P_f+0.125×S-0.406×SGRC (2)

其中，F_f為斷層綜合評價指數；F為主控斷裂的垂直斷距，m；H為油藏平均埋深，m；θ為主控斷層的傾角，°；P_f為主控斷層的斷層面正壓力，MPa；S為砂地比，％；SGRC為斷層涂抹因子，％/m；

根據目標斷塊圈閉的地質參數計算獲得地層綜合評價指數，所述地層綜合評價指數符合如下公式(3)：

F_s＝0.088×F+0.467×H-0.161×θ+0.492×P_f+0.278×S+0.01×SGRC (3)

其中，F_s為地層綜合評價指數；F為主控斷裂的垂直斷距，m；H為油藏平均埋深，m；θ為主控斷層的傾角，°；P_f為主控斷層的斷層面正壓力，MPa；S為砂地比，％；SGRC為斷層涂抹因子，％/m；

根據斷層綜合評價指數和地層綜合評價指數計算獲得斷塊圈閉綜合評價指數，所述斷塊圈閉綜合評價指數符合如下公式(4)：

F_t＝0.59×F_f+0.41×F_s (4)

其中，F_t為斷塊圈閉綜合評價指數；F_f為斷層綜合評價指數；F_s為地層綜合評價指數。

5.根據權利要求3所述的評價方法，其中，所述主控斷層的斷層面正壓力符合如下公式(5)：

其中，P_f是主控斷層的斷層面正壓力，MPa；ρ為上覆巖石密度，g/cm³，g為重力加速度，9.876m/s²；H為油藏平均埋深，m；θ為主控斷層的傾角，°；σ為斷塊所在層位的最大主應力值，MPa；α₁為最大主應力的走向角度，°；α₂為斷層走向角度，°。