[發(fā)明專利]測(cè)試管理方法、系統(tǒng)、設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010913986.7
• 申請(qǐng)日: 2020-09-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112052169A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-12-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 董飛洋;程志
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳創(chuàng)維-RGB電子有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 胡海國(guó)

1.一種測(cè)試管理方法，其特征在于，所述測(cè)試管理方法包括：

獲取待測(cè)試項(xiàng)目，從預(yù)設(shè)測(cè)試用例庫(kù)中獲取與所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例；

按照所述與所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例對(duì)所述待測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，并獲取每一測(cè)試用例的測(cè)試結(jié)果；

根據(jù)所述與所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例的測(cè)試結(jié)果是否成功生成測(cè)試報(bào)告。

2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試管理方法，其特征在于，所述從預(yù)設(shè)測(cè)試用例庫(kù)中獲取與所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例的步驟包括：

獲取待測(cè)試項(xiàng)目的特征參數(shù)，從預(yù)設(shè)測(cè)試用例庫(kù)中獲取與所述待測(cè)試項(xiàng)目的特征參數(shù)對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例，所述特征參數(shù)包括項(xiàng)目標(biāo)識(shí)、項(xiàng)目地區(qū)參數(shù)、項(xiàng)目功能參數(shù)中的至少一種。

3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試管理方法，其特征在于，所述按照所述與所述待測(cè)試項(xiàng)目標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例對(duì)待測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試的步驟包括：

獲取所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)；

按照測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)高低順序?qū)Υ郎y(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試。

4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試管理方法，其特征在于，所述按照所述與所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例對(duì)所述待測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，并獲取每一測(cè)試用例的測(cè)試結(jié)果的步驟包括：

按照所述與所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例對(duì)待測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，獲取每一測(cè)試用例的實(shí)際執(zhí)行結(jié)果；

將測(cè)試用例的實(shí)際執(zhí)行結(jié)果與所述測(cè)試用例的預(yù)期執(zhí)行結(jié)果進(jìn)行比對(duì)，根據(jù)比對(duì)的匹配度確定每一測(cè)試用例的測(cè)試結(jié)果。

5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試管理方法，其特征在于，所述根據(jù)比對(duì)的匹配度確定每一測(cè)試用例的測(cè)試結(jié)果的步驟包括：

若測(cè)試用例的實(shí)際執(zhí)行結(jié)果與預(yù)期執(zhí)行結(jié)果的匹配度小于預(yù)設(shè)閾值，則所述測(cè)試用例的測(cè)試結(jié)果為測(cè)試失敗；

若測(cè)試用例的實(shí)際執(zhí)行結(jié)果與預(yù)期執(zhí)行結(jié)果的匹配度大于或者等于預(yù)設(shè)閾值，則所述測(cè)試用例的測(cè)試結(jié)果為測(cè)試成功。

6.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試管理方法，其特征在于，所述按照所述與所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例對(duì)所述待測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，并獲取每一測(cè)試用例的測(cè)試結(jié)果的步驟之后，還包括：

確定所述待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試類型；

若所述待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試類型為自動(dòng)化測(cè)試，則在檢測(cè)到所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例的首次測(cè)試結(jié)果為測(cè)試失敗時(shí)，對(duì)測(cè)試失敗的測(cè)試用例進(jìn)行重試，將重試結(jié)果作為測(cè)試失敗的測(cè)試用例的實(shí)際測(cè)試結(jié)果。

7.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試管理方法，其特征在于，所述根據(jù)所述與所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例的測(cè)試結(jié)果是否成功生成測(cè)試報(bào)告的步驟包括：

若所述與所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例中存在測(cè)試結(jié)果為測(cè)試失敗的測(cè)試用例，則根據(jù)測(cè)試結(jié)果為測(cè)試失敗的測(cè)試用例的用例詳情以及實(shí)際執(zhí)行結(jié)果生成問(wèn)題單報(bào)告，并將所述問(wèn)題單報(bào)告上傳至缺陷管理系統(tǒng)。

8.一種測(cè)試管理系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試管理系統(tǒng)包括：

用例獲取模塊，用于獲取待測(cè)試項(xiàng)目，從預(yù)設(shè)測(cè)試用例庫(kù)中獲取與所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例；

用例測(cè)試模塊，用于按照所述與所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例對(duì)所述待測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，并獲取每一測(cè)試用例的測(cè)試結(jié)果；

報(bào)告生成模塊，用于根據(jù)所述與所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例的測(cè)試結(jié)果是否成功生成測(cè)試報(bào)告。

9.一種測(cè)試管理設(shè)備，其特征在于，所述測(cè)試管理設(shè)備包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的測(cè)試管理程序，所述測(cè)試管理程序被所述處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的測(cè)試管理方法的步驟。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有測(cè)試管理程序，所述測(cè)試管理程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的測(cè)試管理方法的步驟。