[發明專利]顯示裝置和用于檢測顯示裝置中的數據鏈路線缺陷的方法在審
| 申請號: | 202010910091.8 | 申請日: | 2020-09-02 |
| 公開(公告)號: | CN112782878A | 公開(公告)日: | 2021-05-11 |
| 發明(設計)人: | 李俊燁;禹相墉;高尚范;池縵箕 | 申請(專利權)人: | 樂金顯示有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13;G02F1/1345;G09G3/00;G09G3/36 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 唐京橋;喬圖 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示裝置 用于 檢測 中的 數據鏈 路線 缺陷 方法 | ||
1.一種顯示裝置,包括:
顯示面板,其被分為顯示區域和非顯示區域,使得數據線和柵極線以交叉的方式布置在所述顯示區域中,從而以矩陣的形式限定像素;
復用器,其在所述顯示面板的非顯示區域中布置在所述數據線的一側;
自動探針AP測試電路,其在所述顯示面板的非顯示區域中布置在所述數據線的另一側;以及
數據驅動器,用于通過所述復用器向所述顯示面板的數據線供應數據電壓,
其中,所述復用器和所述AP測試電路檢測分別連接至所述數據線的鏈路線的缺陷,以及
其中,在執行驅動電路安裝過程之前,所述AP測試電路檢查所述顯示面板的數據線的缺陷或所述像素的薄膜晶體管的缺陷,并且檢測分別連接至所述數據線的鏈路線的缺陷。
2.根據權利要求1所述的顯示裝置,其中,所述復用器以時分方式將來自所述數據驅動器的數據電壓供應至所述顯示面板的數據線。
3.根據權利要求1所述的顯示裝置,其中:
所述AP測試電路包括:
多個AP焊盤,以及
多個AP開關元件,每個AP開關元件連接在所述數據線中相應之一與所述多個AP焊盤中相應之一之間;以及
所述多個AP開關元件在進行AP測試和所述鏈路線的缺陷檢查時接通。
4.根據權利要求3所述的顯示裝置,其中,在進行所述鏈路線的缺陷檢查時,向所述多個AP焊盤中的奇數編號的AP焊盤施加正數據電壓,并且向所述多個AP焊盤中的偶數編號的AP焊盤施加負數據電壓。
5.根據權利要求4所述的顯示裝置,其中:
所述復用器包括:
多個第一復用器開關元件,所述多個第一復用器開關元件連接在所述數據驅動器的每個通道與第(3n-2)條數據線之間,并且由第一復用器MUX控制信號控制,其中n是自然數,
多個第二復用器開關元件,所述多個第二復用器開關元件連接在所述數據驅動器的每個通道與第(3n-1)條數據線之間,并且由第二MUX控制信號控制,以及
多個第三復用器開關元件,所述多個第三復用器開關元件連接在所述數據驅動器的每個通道與第(3n)條數據線之間,并且由第三MUX控制信號控制;以及
在進行所述鏈路線的缺陷檢查時,
所述復用器接通所述第一復用器開關元件以驅動所述顯示面板,并且檢測以暗線的形式暗顯示在所述顯示面板上的圖像,
所述復用器接通所述第二復用器開關元件以驅動所述顯示面板,并且檢測以暗線的形式暗顯示在所述顯示面板上的圖像,以及
所述復用器接通所述第三復用器開關元件以驅動所述顯示面板,并且檢測以暗線的形式暗顯示在所述顯示面板上的圖像。
6.根據權利要求5所述的顯示裝置,其中:
第(6k-5)條數據線經由所述第一復用器開關元件Tr1中相應之一連接至所述數據驅動器的奇數編號的通道,其中k是自然數,
第(6k-4)條數據線經由所述第二復用器開關元件Tr2中相應之一連接至所述數據驅動器的偶數編號的通道,
第(6k-3)條數據線經由所述第三復用器開關元件Tr3中相應之一連接至所述數據驅動器的奇數編號的通道,
第(6k-2)條數據線經由所述第一復用器開關元件Tr1中相應之一連接至所述數據驅動器的偶數編號的通道,
第(6k-1)條數據線經由所述第二復用器開關元件Tr2中相應之一連接至所述數據驅動器的奇數編號的通道,以及
第(6k)條數據線經由所述第三復用器開關元件Tr3中相應之一連接至所述數據驅動器的偶數編號的通道。
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