[發明專利]地震剖面成像方法、裝置和電子設備有效
| 申請號: | 202010907288.6 | 申請日: | 2020-09-01 |
| 公開(公告)號: | CN111983682B | 公開(公告)日: | 2021-04-30 |
| 發明(設計)人: | 劉禮農;張江杰;李正偉;許宏橋;高紅偉;張劍鋒 | 申請(專利權)人: | 中國科學院地質與地球物理研究所 |
| 主分類號: | G01V1/30 | 分類號: | G01V1/30 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 蔣姍 |
| 地址: | 100000 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 地震 剖面 成像 方法 裝置 電子設備 | ||
1.一種地震剖面成像方法,其特征在于,包括:
對初始共偏移距疊前數據集進行處理,以得到傾角道集;
根據所述傾角道集得到成像空間的各個成像點的第一偏移孔徑集合;
根據所述初始共偏移距疊前數據集得到常Q掃描道集;
根據所述常Q掃描道集生成等效Q值模型;
基于所述等效Q值模型校正所述成像空間的各個成像點的第一偏移孔徑集合,以得到所述成像空間的各個成像點的第二偏移孔徑集合;
基于預設偏移速度模型、所述等效Q值模型、所述第二偏移孔徑集合,對所述初始共偏移距疊前數據集進行高精度衰減成像處理,得到偏移剖面和疊前道集;
所述第二偏移孔徑集合表示為:
所述第一偏移孔徑集合表示為:
其中,所述第二偏移孔徑集合ApertureQ與所述第一偏移孔徑集合Aperture的對應關系表示為:
其中,(x,y,T)表示成像點的坐標,表示主測線方向偏移孔徑的左邊界,表示主測線方向偏移孔徑的右邊界,表示聯絡測線方向偏移孔徑的左邊界,表示聯絡測線方向偏移孔徑的右邊界,f表示初始共偏移距疊前數據集的主頻,fQ表示預設的提高分辨率處理后的共偏移距疊前數據主頻,Qeff表示等效Q值模型在成像點處的取值,表示校正后主測線方向偏移孔徑的左邊界,表示校正后主測線方向偏移孔徑的右邊界;表示校正后聯絡測線方向偏移孔徑的左邊界,表示校正后聯絡測線方向偏移孔徑的右邊界。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對初始共偏移距疊前數據集進行處理,以得到傾角道集,包括:
根據所述初始共偏移距疊前數據集進行處理,以得的主測線方向的傾角道集;
根據所述初始共偏移距疊前數據集進行處理,以得的聯絡測線方向的傾角道集。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述主測線方向的傾角道集表示為:
所述聯絡測線方向的傾角道集表示為:
其中,表示主測線方向的傾角道集,表示聯絡測線方向的傾角道集,T0=2T表示成像點(x,y,T)處的垂直雙程旅行時,f′m表示地震道的半導數,N表示輸入的所述初始共偏移距疊前數據集的總道數,(xs,ys)表示第m地震道對應的炮點坐標,(xg,yg)表示第m地震道對應的檢波點坐標,τs表示炮點到成像點的走時,τg表示檢波點到成像點的走時,與走時相關的傾角與表示為:
其中,Vrms表示成像點(x,y,T)處的均方根速度。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述初始共偏移距疊前數據集得到常Q掃描道集,包括:
根據預設的等效Q值序列構建常Q模型;
根據所述常Q模型,對所述初始共偏移距疊前數據集進行反Q濾波處理,得到第二共偏移距疊前數據集;
基于介質吸收后的地震波傳播群速度,對所述第二共偏移距疊前數據集應用常規疊前時間偏移流程進行處理,以得到常Q掃描道集。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述常Q掃描道集生成等效Q值模型,包括:
基于所述常Q掃描道集,根據分析時窗內不同等效Q值對應的偏移剖面的分辨率,確定分析時窗處的等效Q值取值,以建立等效Q值模型。
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