[發(fā)明專利]一種寬變化頻率及范圍的光強度檢測電路和方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010907062.6 | 申請日： | 2020-09-01 |
| 公開（公告）號： | CN112179490B | 公開（公告）日： | 2023-02-17 |
| 發(fā)明（設計）人： | 孫濤;王佳;王淼 | 申請（專利權(quán)）人： | 北京九辰智能醫(yī)療設備有限公司 |
| 主分類號： | G01J1/44 | 分類號： | G01J1/44;A61B3/10 |
| 代理公司： | 北京高航知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11530 | 代理人： | 李浩 |
| 地址： | 100176 北京市大興區(qū)北京經(jīng)濟*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 變化 頻率 范圍 強度 檢測 電路 方法 | ||
1.一種光強度檢測電路，其特征在于，包括：APD、邏輯控制模塊、電壓可調(diào)的DC-DC高壓模塊、APD偏置電壓調(diào)節(jié)模塊、APD偏置電壓檢測模塊和電流采集模塊；其中，
所述DC-DC高壓模塊的輸入端與直流電源連接，所述DC-DC高壓模塊的輸出端與所述APD連接，用于為所述APD提供偏置電壓；
所述APD偏置電壓調(diào)節(jié)模塊分別與所述邏輯控制模塊和DC-DC高壓模塊連接，用于根據(jù)邏輯控制模塊發(fā)出的調(diào)節(jié)信號調(diào)節(jié)所述DC-DC高壓模塊的輸出電壓；
所述APD偏置電壓檢測模塊分別與所述邏輯控制模塊和APD連接，用于實時采集APD的偏置電壓數(shù)據(jù)并輸入到邏輯控制模塊；
所述電流采集模塊包括無感電阻和電阻電壓檢測單元，所述無感電阻串聯(lián)于APD的電流回路中；所述電阻電壓檢測單元分別與所述邏輯控制模塊和無感電阻連接，用于實時采集無感電阻的電壓值并輸入到邏輯控制模塊；
所述邏輯控制模塊根據(jù)獲取的無感電阻的電壓值計算APD的導通電流；并進一步根據(jù)獲取的無感電阻的電壓值以及APD的偏置電壓調(diào)節(jié)DC-DC高壓模塊的電壓輸出大小，以使得APD的導通電流保持設定的第一區(qū)間范圍以及APD的偏置電壓保持在設定的第二區(qū)間范圍。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光強度檢測電路，其特征在于，所述邏輯控制模塊與所述APD偏置電壓檢測模塊之間設置有ADC模塊，所述APD偏置電壓檢測模塊采集的偏置電壓信號經(jīng)ADC模塊后輸入到邏輯控制模塊；和/或
所述邏輯控制模塊與APD偏置電壓調(diào)節(jié)模塊之間設置有DAC模塊；所述邏輯控制模塊輸出的APD偏置電壓調(diào)節(jié)信號經(jīng)DAC模塊后形成模擬電壓輸入到APD偏置電壓調(diào)節(jié)模塊；由APD偏置電壓調(diào)節(jié)模塊根據(jù)輸入的模擬電壓調(diào)節(jié)所述DC-DC高壓模塊的輸出電壓。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光強度檢測電路，其特征在于，所述邏輯控制模塊與所述電阻電壓檢測單元之間設置有ADC模塊；所述電阻電壓檢測單元采集的無感電阻的電壓信號經(jīng)ADC模塊后輸入到邏輯控制模塊。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光強度檢測電路，其特征在于，所述DC-DC高壓模塊輸出電壓范圍為92-200V；所述無感電阻的電阻值為1-10K歐姆。
5.一種根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項所述的光強度檢測電路的光強度檢測方法，其應用于邏輯控制模塊，其特征在于，包括：
獲取由APD偏置電壓檢測模塊采集的APD偏置 電壓數(shù)據(jù)；將獲取的APD偏置電壓與設定的第一區(qū)間范圍進行比對，若APD偏置電壓在第一區(qū)間范圍內(nèi)，則不進行調(diào)節(jié)；若APD 偏置電壓低于第一區(qū)間范圍，則通過APD偏置電壓調(diào)節(jié)模塊提高DC-DC高壓模塊的輸出電壓；若APD偏置電壓高于第一區(qū)間范圍，則通過APD偏置電壓調(diào)節(jié)模塊降低DC-DC高壓模塊的輸出電壓；
當光源照射APD時，獲取電阻電壓檢測單元采集的無感電阻電壓值，并計算APD的導通電流；將獲取的APD導通電流與設定的第二區(qū)間范圍進行比對，若APD的導通電流小于第二區(qū)間范圍的下限值，則通過APD偏置電壓調(diào)節(jié)模塊提高DC-DC高壓模塊的輸出電壓；若APD的導通電流高于第二區(qū)間范圍的上限值，則通過APD偏置電壓調(diào)節(jié)模塊降低DC-DC高壓模塊的輸出電壓。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種光強度檢測方法，其特征在于，還包括存儲所述第一區(qū)間范圍和第二區(qū)間范圍的上下限值。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種光強度檢測方法，其特征在于，當在根據(jù)APD導通電流與設定的第二區(qū)間范圍進行比對調(diào)節(jié)DC-DC高壓模塊的輸出電壓時；若使得APD偏置電壓高于或低于第一區(qū)間范圍，則向上層系統(tǒng)發(fā)出警報信息。
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