[發明專利]射頻前端模塊測試機校準方法和裝置

有效

• 申請號: 202010904048.0
• 申請日: 2020-09-01
• 公開（公告）號: CN111970065B
• 公開（公告）日: 2022-06-28
• 發明（設計）人: 胡信偉;侯林;張宇;馮勖;顧軍;李翔;張熙瑞
• 申請（專利權）人: 南京派格測控科技有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;H04B17/10;H04B17/11;H04B17/21
• 代理公司: 濟南信達專利事務所有限公司 37100
• 代理人: 李世喆

本發明提供了射頻前端模塊測試機校準方法和裝置，該方法包括：確定信號源和信號源射頻線的第一功率損耗值、輔衰減器的第二功率損耗值、耦合器和芯片輸入端射頻線的第三功率損耗值以及芯片輸出端射頻線和衰減器的第四功率損耗值；確定在不同頻率和功率組合的射頻信號下功放器、耦合器、耦合端射頻線和耦合端的第五功率損耗值、分析儀和分析儀射頻線的第六功率損耗值以及反射端和反射端射頻線的第七功率損耗值；根據第一功率損耗值至第七功率損耗值，對射頻前端模塊測試機的測試結果進行修正。本方案能夠提高射頻前端模塊測試機測試結果的準確性。

技術領域

本發明涉及測試技術領域，特別涉及射頻前端模塊測試機校準方法和裝置。

背景技術

在進行芯片自動化測試時，由于射頻信號在測試系統的各個部件之間傳輸中存在例如射頻線損耗、儀器的非線性反射以及射頻信號的反射等損耗，導致測試結果不準確，因此，對射頻前端模塊測試機的校準是非常有必要的。

測試設備的系統根據各個部件建立的等效電路模型中是否含有電源（電壓源或者電流源）主要分為有源儀器和無源部件，通常無源部件對射頻信號的功率影響不大，幾乎可以忽略。目前，測試機校準沒有相關的校準規范，一般由生產廠家校準，或者作為通用設備進行校準，并未針對每一個可能存在損耗的部件進行校準，從而導致校準參數不全面，因此，使得測試機的測試結果不準確。

發明內容

本發明提供了射頻前端模塊測試機校準方法和裝置，能夠提高射頻前端模塊測試機測試結果的準確性。

第一方面，本發明實施例提供了射頻前端模塊測試機校準方法，用于對包括有信號源、耦合端、反射端、分析儀、功放器、耦合器、衰減器、信號源射頻線、耦合端射頻線、反射端射頻線、芯片輸入端射頻線、芯片輸出端射頻線和分析儀射頻線的所述射頻前端模塊測試機進行校準，包括：

在分別將所述信號源、所述信號源射頻線、所述耦合器、所述芯片輸入端射頻線、芯片輸出端射頻線、所述衰減器和輔衰減器中的至少兩個與功率計依次相連接后，根據所述信號源輸入端射頻信號的功率和所述功率計所檢測到射頻信號的功率，確定所述信號源和所述信號源射頻線的第一功率損耗值、所述輔衰減器的第二功率損耗值、所述耦合器和所述芯片輸入端射頻線的第三功率損耗值以及所述芯片輸出端射頻線和所述衰減器的第四功率損耗值；

在將動態校準部件組合分別與所述功率計、所述分析儀射頻線和所述分析儀以及所述反射端射頻線和所述反射端相連接，并從所述信號源輸入具有不同頻率和功率組合的射頻信號后，根據所述信號源輸入端射頻信號的功率以及所述耦合端、所述反射端、所述分析儀和所述功率計所檢測到射頻信號的功率，確定在不同頻率和功率組合的射頻信號下所述功放器、所述耦合器、所述耦合端射頻線和所述耦合端的第五功率損耗值、所述分析儀和所述分析儀射頻線的第六功率損耗值以及所述反射端和所述反射端射頻線的第七功率損耗值，其中，所述動態校準部件組合中所述信號源、所述信號源射頻線、所述功放器、所述耦合器、所述芯片輸出射頻線和所述輔衰減器依次相連，且所述耦合端通過所述耦合端射頻線與所述耦合器相連接；

根據所述第一功率損耗值至所述第七功率損耗值，對所述射頻前端模塊測試機的測試結果進行修正。

在一種可能的設計中，根據待測試芯片的功率增益和所述衰減器的功率衰減，確定所述輔衰減器的功率衰減。

在一種可能的設計中，確定所述信號源和所述信號源射頻線的第一功率損耗值，包括：

在將所述信號源、所述信號源射頻線和所述功率計依次相連接后，根據如下公式(1)計算所述信號源和所述信號源射頻線的第一功率損耗值：

(1)

其中，ΔW₁用于表征所述信號源和所述信號源射頻線的第一功率損耗值，W_SG用于表征所述信號源輸入端射頻信號的功率，W_PM用于表征所述功率計所檢測到射頻信號的功率。