[發明專利]熒光圖像分析裝置

在審

• 申請號: 202010902890.0
• 申請日: 2020-09-01
• 公開（公告）號: CN112444508A
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發明（設計）人: 城川政宜;住吉研
• 申請（專利權）人: 天馬日本株式會社
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華;何月華

1.一種熒光圖像分析裝置，包括：

一個或多個處理器；以及

一個或多個存儲裝置，

其中，所述一個或多個存儲裝置存儲基準熒光樣品圖像和對象熒光樣品圖像，

其中，所述基準熒光樣品圖像是通過用線性偏振光照射面內熒光強度的關系已知的基準熒光樣品并捕獲來自所述基準熒光樣品的熒光的第一預定偏振分量而獲得的圖像，

其中，所述對象熒光樣品圖像是通過用線性偏振光照射對象熒光樣品并捕獲來自所述對象熒光樣品的熒光的第二預定偏振分量而獲得的圖像，以及

其中，所述一個或多個處理器被配置為：

基于所述基準熒光樣品圖像來確定用于校正在捕獲的圖像的像素之間測量的光強度中的不均勻性的校正系數；以及

基于所述校正系數校正所述對象熒光樣品圖像的像素的光強度。

2.根據權利要求1所述的熒光圖像分析裝置，其中，來自所述基準熒光樣品的熒光的面內強度是均勻的。

3.根據權利要求1所述的熒光圖像分析裝置，其中，所述第一預定偏振分量和所述第二預定偏振分量是相同的偏振分量。

4.根據權利要求1所述的熒光圖像分析裝置，

其中，所述一個或多個存儲裝置存儲通過捕獲包括所述第一預定偏振分量的多個偏振分量而獲得的基準熒光樣品圖像以及通過捕獲所述多個偏振分量而獲得的對象熒光樣品圖像，以及

其中，所述一個或多個處理器被配置為基于通過捕獲所述多個偏振分量而獲得的基準熒光樣品圖像，使用所述校正系數來對通過捕獲對應的相同的偏振分量而獲得的所述對象熒光樣品圖像中的每一個對象熒光樣品圖像進行校正。

5.根據權利要求1所述的熒光圖像分析裝置，其中，所述一個或多個處理器被配置為基于預定的偏移值來校正所述對象熒光樣品圖像的像素的光強度。

6.根據權利要求1所述的熒光圖像分析裝置，其中，所述一個或多個處理器被配置為：

確定所述對象熒光樣品圖像中的除所述對象熒光樣品的區域以外的區域中的背景光強度；以及

基于所述背景光強度校正所述對象熒光樣品圖像的像素的光強度。

7.根據權利要求1所述的熒光圖像分析裝置，其中，所述一個或多個處理器被配置為基于預定的擬合函數來確定所述基準熒光樣品圖像中的像素的光強度。

8.根據權利要求1所述的熒光圖像分析裝置，其中，所述一個或多個處理器被配置為：

基于圖像傳感器噪聲的預定閾值，從所述基準熒光樣品圖像的像素和所述對象熒光樣品圖像的像素中檢測圖像傳感器的固定模式噪聲；

在確定所述校正系數時，從所述基準熒光樣品圖像中排除具有噪聲的像素；以及

在確定所述對象熒光樣品圖像的像素的光強度時，從所述對象熒光樣品圖像中排除具有噪聲的像素。

9.一種熒光偏振測量系統，包括：

根據權利要求4所述的熒光圖像分析裝置；以及

偏振相機，所述偏振相機包括圖像傳感器和偏振濾光器，所述圖像傳感器和所述偏振濾光器中的每一者被配置為使所述多個偏振分量中的一個偏振分量透射，

其中，所述熒光圖像分析裝置被配置為控制所述偏振相機通過捕獲所述多個偏振分量來獲取基準熒光樣品圖像，并通過捕獲所述多個偏振分量來獲取對象熒光樣品圖像，以及

其中，通過捕獲所述多個偏振分量來獲取所述基準熒光樣品圖像和所述對象熒光樣品圖像的測量時間段具有相同的長度。