[發明專利]測量方法及裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202010899128.1
• 申請日: 2020-08-31
• 公開（公告）號: CN112102391A
• 公開（公告）日: 2020-12-18
• 發明（設計）人: 周楊;趙夢彪;劉文韜;錢晨
• 申請（專利權）人: 北京市商湯科技開發有限公司
• 主分類號: G06T7/60
• 分類號: G06T7/60;G06T7/73;G06T7/33
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強;董文俊

1.一種測量方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取第一點在第一相機坐標系下的第一像點和第一面在所述第一相機坐標系下的第一投影平面；所述第一面為二維圖像中待測量物體的上底面；所述二維圖像通過二維成像設備采集得到，所述第一相機坐標系為所述二維成像設備的相機坐標系；所述第一點為所述待測量物體上深度值小于第一類點的最小深度值的點，且所述第一點不屬于所述上底面；所述第一點或為所述待測量物體的下底面所屬平面中除所述第一類點之外的點；所述第一類點包括所述下底面中的點；

確定所述第一像點到所述第一投影平面的距離，得到第一距離；

依據所述第一距離，得到所述待測量物體的高度。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述獲取第一點在第一相機坐標系下的第一像點和第一面在所述第一相機坐標系下的第一投影平面之前，所述方法還包括：

獲取所述二維圖像、所述二維圖像的深度圖和所述二維成像設備的內部參數；

從所述深度圖中獲取所述上底面中至少三個第二點的深度值；

依據所述內部參數、所述至少三個第二點的深度值和所述至少三個第二點在所述二維圖像的像素坐標系下的坐標，得到所述至少三個第二點在所述第一相機坐標系下的像點；

對所述至少三個第二點在所述第一相機坐標系下的像點進行平面擬合處理，得到所述第一投影平面。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在所述第一點為所述待測量物體的下底面所屬平面中除所述第一類點之外的點的情況下，所述下底面包括第一角點和與所述第一角點相鄰的第二角點；

在所述確定所述第一像點到所述第一投影平面的距離，得到第一距離之前，所述方法還包括：

確定第一線段與第二線段之間的像素點區域，作為第一待選區域；所述第一線段為過所述第一角點和所述第二角點的線段；所述第二線段為所述二維圖像中與所述二維圖像的像素坐標系的橫軸平行、且縱坐標最大的邊；

從所述第一待選區域選取一個點作為所述第一點。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述從所述第一待選區域選取一個點作為所述第一點，包括：

在所述第一線段位于所述待測量物體的正面的情況下，確定過所述第一線段的中點且與所述像素坐標系的縱軸平行的直線，得到第一直線；

從所述第一待選區域中選取位于所述第一直線上的點，作為所述第一點。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在所述第一線段位于所述待測量物體的側面的情況下，確定過所述第一線段的中點且與所述像素坐標系的橫軸平行的直線，得到第二直線；

從所述第一待選區域中選取位于所述第二直線上的點，作為所述第一點。

6.根據權利要求3至5中任意一項所述的方法，其特征在于，所述確定第一線段與第二線段之間的像素點區域，作為第一待選區域，包括：

在所述第一線段與所述第二線段之間不存在邊緣的情況下，確定所述第一線段與所述第二線段之間的像素點區域，作為所述第一待選區域；

在所述第一線段與所述第二線段之間存在邊緣的情況下，確定所述邊界邊緣與所述第一線段之間的像素點區域為所述第一待選區域。

7.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述第一點為所述待測量物體上深度值小于第二類點的最小深度值的點，且所述第一點不屬于所述上底面的情況下，所述待測量物體還包括側面，所述側面的形狀為矩形；所述側面包括：屬于所述上底面的第三角點、屬于所述下底面的第四角點以及過所述第三角點和所述第四角點的第一對角線；所述第一點屬于所述第一對角線；

所述依據所述第一距離，得到所述待測量物體的高度，包括：

確定所述第一距離和第一值的乘積，得到所述待測量物體的高度；所述第一值為第二距離與第三距離的比值；所述第二距離為所述第三角點與所述第一點之間的距離，所述第三距離為所述第三角點與所述第四角點之間的距離。