[發明專利]一種高爐料面聚類方法

在審

• 申請號: 202010898856.0
• 申請日: 2020-08-31
• 公開（公告）號: CN112063782A
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 張華文;張森;尹怡欣
• 申請（專利權）人: 北京科技大學
• 主分類號: C21B5/00
• 分類號: C21B5/00;C21B7/24
• 代理公司: 北京市廣友專利事務所有限責任公司 11237
• 代理人: 張仲波

1.一種高爐料面聚類方法，所述方法包括：

獲取高爐料面的坐標信息；

基于所述坐標信息，確定聚類分析策略；

根據所述聚類分析策略，輸出聚類參數。

2.根據權利要求1所述的高爐料面聚類方法，其中，通過機械擺臂雷達獲取所述高爐料面的坐標信息。

3.根據權利要求1或2所述的高爐料面聚類方法，其中，所述通過機械擺臂雷達獲取所述坐標信息包括為所述機械雷達可以檢測到的徑向料線上的10點位置。

4.根據權利要求2所述的高爐料面聚類方法，其中，所述機械擺臂雷達特征在于對高爐料面徑向料形進行成像，且只需在爐頂選擇一個位置開孔安裝。

5.根據權利要求1所述的高爐料面聚類方法，其中，所述基于所述坐標信息，確定聚類分析策略為采用基于Nystrom的譜聚類算法。

6.根據權利要求1或5所述的高爐料面聚類方法，其中，所述基于Nystrom的譜聚類算法包括：

將計算全體樣本的相似度矩陣轉化為求采樣樣本間的相似度矩陣和采樣樣本與剩余樣本間的相似度矩陣；

事先確定高斯核函數的尺度參數、聚類數目和特征向量的個數。

7.根據權利要求6所述的高爐料面聚類方法，其中，確定所述尺度參數、聚類數目和特征向量的個數的方法包括：

求取數據集中點與點之間的歐氏距離確定尺度參數；

利用有效性指標的評估結果確定聚類數目；

根據聚類數目取相同的值確定特征向量的個數。

8.根據權利要求1所述的高爐料面聚類方法，其中，所述根據所述聚類分析策略，輸出聚類參數包括計算時間、迭代次數和/或誤差平方和。