[發明專利]一種檢測極片預鋰量的方法

有效

• 申請號: 202010897859.2
• 申請日: 2020-08-31
• 公開（公告）號: CN112179895B
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 張俊;曹勇;許濤
• 申請（專利權）人: 合肥國軒高科動力能源有限公司
• 主分類號: G01N21/73
• 分類號: G01N21/73;G01N21/31
• 代理公司: 合肥市長遠專利代理事務所(普通合伙) 34119
• 代理人: 干桂花

1.一種檢測極片預鋰量的方法，其特征在于，包括如下步驟：用PET膜覆蓋極片上的極耳，對PET膜和極片同時進行鍍鋰處理，然后截取PET膜與強酸混勻并用水稀釋配制成待測溶液，檢測待測溶液中鋰元素的濃度；最后計算極片上的預鋰層厚度d＝C*V/(ρ*S)，其中，C為待測溶液中鋰元素的濃度，單位為μg/mL；V為待測溶液體積，單位為mL；S為截取PET膜的面積，單位為mm²；ρ為鋰的密度＝0.534g/cm³。

2.根據權利要求1所述檢測極片預鋰量的方法，其特征在于，強酸為硝酸和鹽酸的混合酸。

3.根據權利要求1或2所述檢測極片預鋰量的方法，其特征在于，用電感耦合等離子體原子發射光譜儀或原子吸收光譜儀檢測待測溶液中鋰元素的濃度。

4.根據權利要求1-3任一項所述檢測極片預鋰量的方法，其特征在于，鍍鋰方法為真空鍍鋰。

5.根據權利要求1-4任一項所述檢測極片預鋰量的方法，其特征在于，極片為負極片。

6.根據權利要求1-5任一項所述檢測極片預鋰量的方法，其特征在于，PET膜的厚度為50-100μm。

7.根據權利要求5所述檢測極片預鋰量的方法，其特征在于，負極片中的活性材料包括：軟碳材料、硬碳材料、氧化亞硅材料、納米硅碳材料及鈦酸鋰中的至少一種。

8.根據權利要求2所述檢測極片預鋰量的方法，其特征在于，硝酸和鹽酸的純度級別為光譜純。