[發明專利]高抖動容限的無基準頻率檢測器

在審

• 申請號: 202010897394.0
• 申請日: 2015-12-01
• 公開（公告）號: CN112953522A
• 公開（公告）日: 2021-06-11
• 發明（設計）人: 谷亮;曹玉明;雷工;黨殷;顧一凡;李洪義;瑪曼莎·德什潘德;施守波;段彥
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H03L7/091
• 分類號: H03L7/091
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

一種高抖動容限的無基準頻率檢測器采樣裝置用于根據數據信號對時鐘信號進行采樣，以產生第一采樣信號；用于根據延遲信號對所述時鐘信號進行采樣，以產生第二采樣信號；以及耦合到所述采樣裝置的控制電路，其中，所述控制電路用于根據所述第一采樣信號和所述第二采樣信號用于調整時鐘信號的頻率。

相關申請案交叉申請

本申請要求2015年10月28日遞交的發明名稱為“高抖動容限的無基準頻率檢測器”的第14/925,716號美國非臨時專利申請案的在先申請優先權，該在先申請的全部內容以引用的方式并入本文本中。

背景技術

通過高速系統，例如在高度集成系統上的兩個芯片之間或者單個芯片內的電路之間，傳輸的數據通常在沒有伴隨時鐘信號的情況下發送。雖然無時鐘數據傳輸降低了復雜度和功耗，但是需要數據接收器來生成時鐘信號以恢復數據。接收器可使用時鐘和數據恢復(CDR)電路來生成與接收數據的相位和頻率同步的時鐘信號。因此，準確檢測接收數據的相位和頻率或者時鐘信號和數據信號之間的相位和頻率偏移對于保證高質量數據通信是很重要的，尤其是對于以約10吉比特/秒(Gbps)至約100Gbps工作的高速數據系統。

發明內容

在一個實施例中，本發明包括一種裝置，包括：第一采樣電路，用于根據數據信號對時鐘信號進行采樣，以產生第一采樣信號；第二采樣電路，用于根據延遲數據信號對所述時鐘信號進行采樣，以產生第二采樣信號；以及耦合到所述第一采樣電路和所述第二采樣電路的控制電路，其中，所述控制電路用于根據所述第一采樣信號和所述第二采樣信號執行與非(NAND)運算，以產生用于激活所述時鐘信號的頻率調整的激活信號。

在另一個實施例中，本發明包括一種方法，包括：根據數據信號對時鐘信號進行采樣，以產生第一采樣信號；將所述數據信號延遲四分之一的時間單位的持續時間，以產生延遲信號；根據所述延遲信號對所述時鐘信號進行采樣，以產生第二采樣信號；以及根據所述第一采樣信號和所述第二采樣信號執行NAND運算，以產生用于激活電荷泵將所述時鐘信號的頻率對齊到所述數據信號的頻率的激活信號。

在又一個實施例中，本發明包括一種裝置，包括：NAND門，包括第一NAND門輸入端口、第二NAND門輸入端口和NAND門輸出端口；以及電壓電流(V2I)轉換器，包括V2I轉換激活端口和V2I轉換輸出電流端口，其中，所述V2I轉換激活端口耦合到所述NAND門輸出，所述V2I轉換輸出電流端口耦合到頻率檢測環路濾波器。

在下文的詳細描述以及結合附圖和權利要求中，可以更清楚地理解這些和其它特征。

附圖說明

為了更透徹地理解本發明，現參閱結合附圖和具體實施方式而描述的以下簡要說明，其中的相同參考標號表示相同部分。

圖1為無基準頻率檢測器的示意圖。

圖2為示出圖1的無基準頻率檢測器在鎖定條件下模擬的波形的圖。

圖3為示出圖1的無基準頻率檢測器在抖動時捕獲到的波形的圖。

圖4為示出圖1的無基準頻率檢測器在經歷抖動時捕獲到的眼圖的圖。

圖5為根據本發明一實施例的容抖無基準頻率檢測器的示意圖。

圖6為根據本發明一實施例的一種實施容抖無基準頻率檢測器的方案的示意圖。

圖7為根據本發明一實施例的反相電路的示意圖。

圖8為根據本發明一實施例的緩沖電路的示意圖。

圖9為根據本發明一實施例的電流模式邏輯到互補型金屬氧化物半導體(CML-to-CMOS)電平轉換電路的示意圖。

圖10為根據本發明一實施例的NAND門電路的示意圖。

圖11為根據本發明一實施例的示出圖5的容抖無基準頻率檢測器在經歷抖動時捕獲的波形的圖。