[發明專利]一種半導體襯底清洗設備在審
| 申請號: | 202010896615.2 | 申請日: | 2020-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN112090855A | 公開(公告)日: | 2020-12-18 |
| 發明(設計)人: | 傅梅英 | 申請(專利權)人: | 菏澤景月裝飾有限公司 |
| 主分類號: | B08B3/14 | 分類號: | B08B3/14;H01L21/67 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 274000 山東省*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 半導體 襯底 清洗 設備 | ||
本發明公開了一種半導體襯底清洗設備,其結構包括支架、機體、排水管、控制器、頂蓋、放置臺,支架頂端與機體底部焊接連接,排水管頂端固定安裝于機體底面,控制器后面與機體前面固定連接,本發明進行清洗之后,通過電磁原理驅動撥水器,將產生的金屬廢屑向兩邊撥動,使其被磁鐵結構吸附固定在清洗槽底部,避免金屬廢屑重新吸附在半導體襯底上,同時推動上方的刮油器將上浮在清洗液表面的潤滑油層刮取,并將其吸附在吸油板內,使半導體襯底在取出后不會重新附著一層油污,保證了半導體襯底清洗設備的清洗效果,防止半導體襯底清洗后再次被污染。
技術領域
本發明涉及半導體領域,具體的是一種半導體襯底清洗設備。
背景技術
襯底是具有特定晶面和適當電學、光學和機械特性用于生長外延層的潔凈單晶體薄片,常見的半導體襯底有單晶硅,由于制備半導體過程中經常會使用到金屬材料,常常會發生金屬粉末碎屑粘黏在半導體襯底上,同時為了保持切割面的光滑度,在切割制備硅晶片時,經常會使用潤滑劑來降低硅晶片表面的摩擦,因此,硅晶片襯底容易表面附著潤滑油與金屬粉末碎屑的混合物,在清洗結束后,潤滑油與金屬碎屑粉末混合物漂浮在水晶面上,取出硅晶體時容易重新沾染雜質,令清洗效果不佳。
發明內容
針對上述問題,本發明提供一種半導體襯底清洗設備。
為了實現上述目的,本發明是通過如下的技術方案來實現:一種半導體襯底清洗設備,其結構包括支架、機體、排水管、控制器、頂蓋、放置臺,所述支架頂端與機體底部焊接連接,所述排水管頂端固定安裝于機體底面,所述控制器后面與機體前面固定連接,所述機體頂部設有鉸接相連的頂蓋,所述放置臺左側固定安裝于機體右側;所述機體包括外殼、支撐器、清洗筒、磁鐵結構、撥水器、刮油器、滑軌,所述外殼內層通過支撐器與清洗筒連接,所述磁鐵結構底部與清洗筒內環固定連接,所述撥水器外環與清洗筒正面活動卡合,所述刮油器兩側與滑軌外環相貼合在一起,所述滑軌左側與清洗筒內環固定連接,所述支撐器內部設有彈簧結構,所述磁鐵結構有兩個,兩個磁鐵結構所帶磁性相反。
更進一步的,所述撥水器包括撥動軸、旋轉器、軸承、電源,所述旋轉器固定安裝于撥動軸左側,所述軸承內環與撥動軸一側固定連接,所述電源底部固定安裝于外殼內層,所述電源與旋轉器電連接,所述軸承有兩個,兩個軸承分別位于撥動軸兩端,所述電源有兩個,一個電源輸出正電流,另一個電源輸出負電流。
更進一步的,所述旋轉器包括整流環、電纜、分段桿,所述整流環外環與電纜一側固定連接,所述分段桿外環與整流環內環相疊合在一起,所述整流環與分段桿中段都設有穿透槽結構。
更進一步的,所述磁鐵結構包括永磁鐵、正面網、側輸出罩,所述永磁鐵內環與側輸出罩一側焊接連接,所述正面網底部與側輸出罩另一側固定連接,所述正面網余側輸出罩都使用四氧化三鐵材料制造,有吸附金屬的能力。
更進一步的,所述刮油器包括推壓把、隔離殼、滾輪、吸油板、拆裝座、刮油頭,所述推壓把底端與隔離殼頂端固定連接,所述滾輪后面與隔離殼內部活動卡合,所述吸油板底部通過拆裝座與隔離殼連接,所述刮油頭左側與隔離殼右側固定連接,所述刮油頭為鍥型結構,所述吸油板使用多層吸油紙堆疊制成。
更進一步的,所述拆裝座包括底板、彈力倉、卡頭、彈出彈簧,所述彈力倉固定安裝于底板內部,所述卡頭右側與彈力倉左側固定連接,所述彈出彈簧頂端與底板底部焊接連接,所述卡頭為圓柱體結構,且弧面朝下。
有益效果
與現有技術相比,本發明具有如下有益效果:
本發明進行清洗之后,通過電磁原理驅動撥水器,將產生的金屬廢屑向兩邊撥動,使其被磁鐵結構吸附固定在清洗槽底部,避免金屬廢屑重新吸附在半導體襯底上,同時推動上方的刮油器將上浮在清洗液表面的潤滑油層刮取,并將其吸附在吸油板內,使半導體襯底在取出后不會重新附著一層油污,保證了半導體襯底清洗設備的清洗效果,防止半導體襯底清洗后再次被污染。
附圖說明
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于菏澤景月裝飾有限公司,未經菏澤景月裝飾有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010896615.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種納米片狀材料的輔助分散方法
- 下一篇:一種單增李斯特菌的檢測方法





