[發明專利]一種基于元素分布和顏色光譜聯用的多尺度非均質瓷釉無損檢測方法

在審

• 申請號: 202010896285.7
• 申請日: 2020-08-31
• 公開（公告）號: CN113567483A
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發明（設計）人: 徐嫦松;李偉東;魯曉珂
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海硅酸鹽研究所
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223;G01N21/31
• 代理公司: 上海瀚橋專利代理事務所(普通合伙) 31261
• 代理人: 曹芳玲;鄭優麗

1.一種基于元素分布和顏色光譜聯用的多尺度非均質瓷釉無損檢測方法，其特征在于，包括：

（1）采集非均質瓷釉中待測目標區域的元素分布信息，得到元素分布數據集；

（2）采集非均質瓷釉中待測目標區域的角度分辨反射光譜信息，得到角度分辨反射光譜數據集；

（3）匹配并分析非均質瓷釉待測目標區域的元素分布數據集和角度分辨反射光譜數據集。

2.根據權利要求1所述的無損檢測方法，其特征在于，在采集信息之前，將非均質瓷釉的釉面進行預處理。

3.根據權利要求2所述的無損檢測方法，其特征在于，所述預處理包括：

（1）觀察非均質瓷釉的釉面，選取微區代表性區域或宏觀代表性區域作為待測目標區域；

（2）利用脫脂棉蘸取無水乙醇對非均質瓷釉的待測目標區域進行擦拭，并靜置至干燥；

（3）利用記號筆標注待測目標區域。

4.根據權利要求1-3中任一項所述的無損檢測方法，其特征在于，所述元素分布數據集的采集過程包括：

（1）根據待測樣品尺寸和器型，選擇配備大樣品臺的能量色散X射線熒光光譜儀或高精度可移動能量色散X射線熒光光譜儀作為元素分布信息采集設備；

（2）依照《古代陶瓷科技信息提取規范》系列標準，利用已知含量的標準樣品，建立能量色散X射線熒光光譜儀的標準曲線；

（3）采集非均質瓷釉的待測目標區域的能量色散X射線熒光光譜數據；

（4）根據譜圖標定元素種類，形成元素分布數據集。

5.根據權利要求1-4中任一項所述的無損檢測方法，其特征在于，所述角度分辨反射光譜數據集的采集過程包括：

（1）根據待測樣品釉面光澤度，選擇參比物，所述參比物包括陶瓷標準色板或/和漫反射白板；

（2）利用配備具有樣品臺的光譜儀，采集參比物有入射光及無入射光時的角度分辨反射光譜曲線，分別作為光源譜及背景譜；

（3）將待測樣品放置于樣品臺，調整光源入射方向垂直于待測樣品表面，在待測目標區域中選擇典型位置，采集角度分辨反射光譜曲線；

（4）將光源譜作為反射率為100%的譜線，將背景譜作為反射率為0%的譜線，計算樣品的波長-反射率曲線，作為最終的角度分辨反射光譜曲線。