[發明專利]用于測試顯示面板的探針頭

在審

• 申請號: 202010896033.4
• 申請日: 2020-08-31
• 公開（公告）號: CN112444650A
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發明（設計）人: 李镕寬
• 申請（專利權）人: 普羅-2000有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067
• 代理公司: 北京市隆安律師事務所 11323
• 代理人: 權鮮枝

公開了一種用于測試顯示面板的探針頭，其包括主體、構造成與面板接觸的第一接觸部、構造成與面板接觸的第二接觸部、構造成將主體連接到第一接觸部的第一臂、以及構造成將主體連接到第二接觸部的第二臂。其中，第一臂和第二臂每個都從主體水平延伸。第一臂和第二臂布置成在垂直方向間隔開。第一接觸部和第二接觸部布置成在前后方向間隔開。第一臂布置在第二臂的下面。第一接觸部布置在第二接觸部的前方。而且，布置在主體和第二臂之間的邊界上的第二角部位于布置在主體和第一臂之間的邊界上的第一角部的后方。

相關申請的交叉引用

本申請要求2019年8月30日提交的韓國專利申請No.2019-0107472的優先權和權益，其全部內容通過引用合并于此。

技術領域

實施例涉及一種用于測試顯示面板的探針頭(probe pin)。

背景技術

對包括移動顯示面板的顯示面板進行各種測試。例如，可以對設置在箱內探針(in-chamber probe,ICP)單元或點亮探針單元的探針塊上的母板進行點亮測試等。在顯示面板測試期間，探針頭的接觸端會形成刮痕。在接觸端形成刮痕時產生的刮屑可堆積在接觸端的前方。這種刮屑會引起干擾接觸端的電接觸的問題。

發明內容

本發明旨在提供一種探針頭，該探針頭在刮痕處具有優異的電接觸。

本發明的各方面不限于上述方面，并且本領域技術人員將從以下公開內容中理解本發明的其他未陳述方面。

根據本發明的一方面，提供一種探針頭，其包括主體、構造成與面板接觸的第一接觸部、構造成與面板接觸的第二接觸部、構造成將主體連接到第一接觸部的第一臂、以及構造成將主體連接到第二接觸部的第二臂。其中，第一臂和第二臂每個都從主體水平延伸。第一臂和第二臂布置成在垂直方向間隔開。第一接觸部和第二接觸部布置成在前后方向間隔開。第一臂布置在第二臂的下面。第一接觸部布置在第二接觸部的前方。而且，布置在主體和第二臂之間的邊界上的第二角部位于布置在主體和第一臂之間的邊界上的第一角部的后方。

第一接觸部可以包括具有在向上方向逐漸減小的前后寬度的區域，第二接觸部可以包括具有在向上方向逐漸增大的前后寬度的區域。

在面板中，第二接觸部可以形成與第一接觸部形成的刮痕至少部分重疊的刮痕。

第一接觸部的前表面和第二接觸部的后表面之間的前后寬度可以在向上方向減小。

第一接觸部的后表面和第二接觸部的前表面可以布置成彼此面對。而且，第一接觸部的后表面和第二接觸部的前表面可以布置成在垂直方向向前方傾斜。

第一接觸部可以包括構造成與面板接觸的第一尖端。第二接觸部可以包括構造成與面板接觸的第二尖端。第一尖端可以布置在第一臂的前方。第二尖端可以布置在第二臂的前方。

第二臂的底表面和第一臂的頂表面之間的垂直距離可以小于第一接觸部的后表面和第二接觸部的前表面之間的最小距離。

第一臂可以包括水平布置的第一孔和第二孔，并且第二孔可以布置在第一孔的上方。

第二孔的前后寬度可以大于第一孔的前后寬度。

第二孔可以包括通過向下彎曲后端而形成的彎曲部分。

彎曲部分可以包括在前后方向與第一孔重疊的區域。

在垂直方向，第一孔的頂表面和第二孔的底表面之間的垂直距離可以小于第一孔的垂直高度和第二孔的垂直高度中的每一個。

附圖說明

通過參考附圖詳細描述本發明的示例性實施例，本發明的上述和其他目的、特征和優點對于本領域的普通技術人員將變得更加顯而易見，其中：

圖1是根據實施例的探針頭的視圖；