[發(fā)明專利]支持采用外部輸入/輸出接口對(duì)測(cè)試、調(diào)試或追蹤信息的傳遞的裝置、系統(tǒng)和方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010895855.0 | 申請(qǐng)日: | 2016-07-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112214363A | 公開(公告)日: | 2021-01-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | R·H·屈尼斯;S·M·梅農(nóng);P·埃德 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 英特爾IP公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/22 | 分類號(hào): | G06F11/22;G06F11/34 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 付曼;姜冰 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 支持 采用 外部 輸入 輸出 接口 測(cè)試 調(diào)試 追蹤 信息 傳遞 裝置 系統(tǒng) 方法 | ||
經(jīng)由通用輸入/輸出(I/O)接口來交換測(cè)試、調(diào)試或追蹤(TDT)信息的技術(shù)和機(jī)制。在實(shí)施例中,裝置的I/O接口耦合到外部TDT單元,其中I/O接口與互連標(biāo)準(zhǔn)兼容,所述互連標(biāo)準(zhǔn)支持除了任何測(cè)試信息、調(diào)試信息或追蹤信息之外的數(shù)據(jù)的傳遞。一個(gè)或多個(gè)電路組件駐留于裝置上或者以其它方式經(jīng)由I/O接口來耦合到外部TDT單元。經(jīng)由I/O接口所交換的信息通過評(píng)估一個(gè)或多個(gè)電路組件的一個(gè)或多個(gè)TDT操作的執(zhí)行來生成或者引起一個(gè)或多個(gè)TDT操作的執(zhí)行。在另一個(gè)實(shí)施例中,裝置的膠連邏輯將I/O接口與測(cè)試接入點(diǎn)進(jìn)行接口,所述測(cè)試接入點(diǎn)耦合在一個(gè)或多個(gè)電路組件與I/O接口之間。
相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用
本申請(qǐng)要求2015年10月23日提交的美國(guó)臨時(shí)申請(qǐng)No. 60/245,931的權(quán)益,通過引用將其全部?jī)?nèi)容結(jié)合到本文中。
技術(shù)領(lǐng)域
本文所討論的實(shí)施例一般涉及微電子電路裝置,以及更具體地(但排他地)涉及使用通用接口來評(píng)估集成電路的操作。
背景技術(shù)
當(dāng)前,典型膝上型電腦、平板電腦、智能電話或其它系統(tǒng)包括片上系統(tǒng)(SoC)和/或其它集成電路(IC),其經(jīng)由JTAG(或cJTAG)接口來調(diào)試和測(cè)試。典型地,期望經(jīng)由存在于系統(tǒng)上的高速接口從系統(tǒng)電路(例如SoC或其它IC)發(fā)送調(diào)試追蹤。JTAG測(cè)試數(shù)據(jù)輸出(TDO)引腳也能夠用來發(fā)送輸出調(diào)試追蹤,盡管以更低數(shù)據(jù)速率進(jìn)行。典型地,IEEE-1149.1 JTAG接口以大約100 MHz運(yùn)行。IEEE標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)還已經(jīng)經(jīng)由IEEE-1149.7標(biāo)準(zhǔn)來發(fā)展2引腳JTAG接口(又稱作緊湊JTAG或cJTAG),其將TMS和TCK信號(hào)用于調(diào)試和測(cè)試。由于JTAG接口的數(shù)據(jù)速率典型地為大約100 Mhz并且大多數(shù)追蹤要求比JTAG數(shù)據(jù)速率要高得多,所以追蹤按常規(guī)經(jīng)由專用高速串行追蹤端口從系統(tǒng)發(fā)出。然而,隨著裝置趨向于具有更少外部連接器的“封閉機(jī)箱”解決方案,存在對(duì)消除特定于支持測(cè)試、調(diào)試和/或追蹤信息的外部端口的增加需求。
附圖說明
作為示例而不是作為限制來在附圖中的圖中示出本發(fā)明的各種實(shí)施例,并且其中:
圖1是示出根據(jù)常規(guī)技術(shù)的、執(zhí)行調(diào)試和追蹤操作的片上系統(tǒng)的元件的功能框圖。
圖2是示出根據(jù)實(shí)施例的、提供執(zhí)行測(cè)試、調(diào)試或追蹤(TDT)功能性的系統(tǒng)的元件的功能框圖。
圖3是示出根據(jù)實(shí)施例的、評(píng)估電路組件的方法的元件的流程圖。
圖4是示出根據(jù)實(shí)施例的、支持追蹤和調(diào)試操作的系統(tǒng)的元件的功能框圖。
圖5是示出根據(jù)實(shí)施例的、基于存儲(chǔ)器映射輸入/輸出信息來評(píng)估電路的系統(tǒng)的元件的功能框圖。
圖6是示出根據(jù)實(shí)施例的、基于存儲(chǔ)器映射輸入/輸出信息來評(píng)估電路的系統(tǒng)的元件的功能框圖。
圖7是示出根據(jù)實(shí)施例的、執(zhí)行TDT操作的系統(tǒng)的元件的功能框圖。
圖8A、圖8B是各自示出根據(jù)對(duì)應(yīng)實(shí)施例的、評(píng)估一個(gè)或多個(gè)電路組件的相應(yīng)系統(tǒng)的元件的功能框圖。
圖9A、圖9B是各自示出根據(jù)對(duì)應(yīng)實(shí)施例的、評(píng)估一個(gè)或多個(gè)電路組件的相應(yīng)系統(tǒng)的元件的功能框圖。
圖10是示出根據(jù)實(shí)施例的、執(zhí)行菊花鏈裝置的TDT評(píng)估的系統(tǒng)的元件的功能框圖。
圖11是示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的示范計(jì)算機(jī)裝置的功能框圖。
具體實(shí)施方式
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤





