[發(fā)明專利]光線檢測方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010894965.5 | 申請日： | 2020-08-31 |
| 公開（公告）號： | CN114112316A | 公開（公告）日： | 2022-03-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 林文飛 | 申請（專利權(quán)）人： | 盛陶盟（香港）有限公司 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02;G01J1/58 |
| 代理公司： | 北京中原華和知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11019 | 代理人： | 壽寧;張華輝 |
| 地址： | 中國香港九龍觀塘鴻圖*** | 國省代碼： | 香港;81 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 光線 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種光線檢測方法，其特征在于，其步驟包含：
一發(fā)光元件發(fā)出一第一光線；
以一光線檢測裝置對應(yīng)接收該第一光線；
該光線檢測裝置的一熒光粉層接收該第一光線后，該熒光粉層對應(yīng)該第一光線的波長激發(fā)出一第二光線；以及
當(dāng)該熒光粉層激發(fā)出該第二光線的波長為一預(yù)設(shè)波長時，該發(fā)光元件為一正常狀態(tài)。
2.如權(quán)利要求1所述的光線檢測方法，其特征在于，其中該光線檢測裝置的一熒光粉層接收該第一光線后，該熒光粉層對應(yīng)該第一光線的波長激發(fā)出一第二光線的步驟后更包含步驟：
當(dāng)該熒光粉層激發(fā)出該第二光線的波長非該預(yù)設(shè)波長時，該發(fā)光元件為一異常狀態(tài)。
3.如權(quán)利要求1所述的光線檢測方法，其特征在于，其中該預(yù)設(shè)波長在500nm至610nm之間。
4.一種光線檢測裝置，其特征在于，其包含：
一基層；以及
一熒光粉層，其設(shè)置于該基層的一上方。
5.如權(quán)利要求4所述的光線檢測裝置，其特征在于，其中該基層為不透光的層。
6.如權(quán)利要求4所述的光線檢測裝置，其特征在于，其中該熒光粉層使用T5熒光粉。
7.如權(quán)利要求4所述的光線檢測裝置，其特征在于，更包含一玻璃層，該玻璃層設(shè)置于該熒光粉層的一上方。
8.如權(quán)利要求7所述的光線檢測裝置，其特征在于，其中該玻璃層包覆該熒光粉層。
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