[發明專利]基于激光掃描、BQ、RQDt

在審

• 申請號: 202010893062.5
• 申請日: 2020-08-25
• 公開（公告）號: CN112132411A
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發明（設計）人: 胡高建;劉杰;張賀
• 申請（專利權）人: 紹興文理學院
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06F30/20;G06F30/13;G06F7/58;G01B11/24;G06T11/20;G06T17/00;G06K9/62
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于激光掃描、BQ、RQD_t各向異性的Q各向異性求解方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

(1)結構面三維激光掃描快速獲取，過程如下：

1.1：根據掃描目標和場地條件，選擇掃描機位點，架設三腳架，架設中要確保儀器按照一定的掃描路線可以完整的獲取邊坡巖體的三維空間點云信息，同時要盡可能保證三腳架臺面水平，并放置控制靶；

1.2：放置掃描儀主機在三腳架臺面，固定旋鈕，通過粗調腳架及微調掃描儀底座使主機氣泡居中，設置掃描儀端口參數；

1.3：啟動掃描控制軟件，配置掃描儀相關參數，進入掃描儀控制界面，規劃掃描角度，根據掃描目標設置掃描范圍，調整相機配置參數，獲取掃描目標圖像；

1.4：固定掃描范圍，獲取掃描間距，設定采樣間距，開始數據獲取，并實時查看掃描點云數據及彩色信息情況，根據掃描成果隨時調整掃描參數設定；

1.5：導出結構面點云數據；

(2)結構面極點圖和傾向玫瑰花圖繪制；

(3)基于BQ指標的巖體質量計算，過程如下：

3.1：根據結構面參數計算巖體完整性系數，公式如下：

式中：Jv為巖體體積節理數，單位條/m³；

3.2：Jv計算公式如下：

式中：L1，L2，...，Ln為垂直于結構面測線長度；N1，N2，...，Nn為同組結構面數目；

3.3：根據巖石單軸抗壓強度值和巖體完整性系數值，計算BQ值：

BQ＝90+3R_c+250K_v

式中：Rc是巖石單軸抗壓強度；Kv為巖體完整性系數；

3.4：在應用BQ計算公式過程中，遵循以下條件：

當Rc＞90Kv+30時，以Rc＝90Kv+30和Kv代入計算BQ值；

當Kv＞0.04Rc+0.4時，以Kv＝0.04Rc+0.4和Rc代入計算BQ值；

3.5：根據地下水、軟弱結構面產狀和天然應力影響對BQ進行修正，修正公式如下：

[BQ]＝BQ-100(K₁+K₂+K₃)

式中：K1為地下水影響修正系數；K2為軟件結構面產狀影響修正系數；K3為天然應力影響修正系數；

3.6：得到修正后的BQ巖體分級結果；

(4)巖體三維裂隙網絡模型生成和剖切；

(5)RQD_t各向異性圖繪制；

(6)基于BQ反演的最佳閾值t求解方法；

(7)RQD_t各向異性求解方法；

(8)Q各向異性求解方法。