[發明專利]一種基于誤差核心分布的完好性保護級計算方法

在審

• 申請號: 202010892642.2
• 申請日: 2020-08-31
• 公開（公告）號: CN112034491A
• 公開（公告）日: 2020-12-04
• 發明（設計）人: 郝碩;蔚保國;趙精博;王垚;應俊俊;盛傳貞;惠沈盈
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第五十四研究所
• 主分類號: G01S19/11
• 分類號: G01S19/11;G01S19/08;G01S19/07;G01S19/39;G01S19/41
• 代理公司: 河北東尚律師事務所 13124
• 代理人: 王文慶

1.一種基于誤差核心分布的完好性保護級計算方法，其特征在于，包括如下步驟：

（101）統計差分定位誤差分布，得到不同偽距誤差值ΔY對應的概率值P；

（102）設定完好性風險，當前共有M顆衛星，從衛星數為M開始遍歷，一直遍歷到衛星數為4，計算每個衛星數所對應的真實完好性概率，得到真實完好性概率大于完好性風險的最大衛星數N；

（103）利用當前所有衛星中任意N顆衛星進行定位，對每N顆衛星進行計算得到一個用戶的定位范圍；遍歷所有N顆衛星，取所有定位范圍的最大值和最小值，得到最大的定位范圍；

（104）根據步驟（103）得到的定位范圍，計算得到保護級和定位結果；

（105）按照以上方式，遍歷所有的概率值P，計算出不同概率值P所對應的保護級和定位結果；

（106）按照以下兩種不同的用戶需求，得到最后輸出的保護級和定位結果：

i）取垂直保護級最小的概率值P所對應的保護級和定位結果作為最后輸出的保護級和定位結果；

ii）取保護級平方根最小的概率值P所對應的保護級和定位結果作為最后輸出的保護級和定位結果。