[發明專利]一種實驗室內測量熔渣揮發性能的測試方法及其系統

有效

• 申請號: 202010892621.0
• 申請日: 2020-08-31
• 公開（公告）號: CN112179802B
• 公開（公告）日: 2022-04-08
• 發明（設計）人: 王琳;儲洪強;蔣林華
• 申請（專利權）人: 河海大學
• 主分類號: G01N5/04
• 分類號: G01N5/04;G01N25/20
• 代理公司: 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224
• 代理人: 嚴志平

1.一種實驗室內測量熔渣揮發性能的測試方法，其特征在于：采用實驗室內測量熔渣揮發性能的測試系統，所述實驗室內測量熔渣揮發性能的測試系統包括單絲熱電偶測試設備和分析天平，所述單絲熱電偶測試設備包括反應室，所述反應室內設置有單絲熱電偶，所述反應室上方固定有放大成像裝置，所述反應室兩側對稱各設有一個導管，所述導管兩側連通不同氣氛，所述單絲熱電偶分別與加熱元件和測溫元件電連接，所述加熱元件與電源控制系統電連接，所述測溫元件與溫度記錄裝置電連接，所述放大成像裝置、溫度記錄裝置和電源控制系統均與中央處理器電連接；

包括以下步驟：

S01，利用分析天平測量單絲熱電偶質量m_t；

S02，取熔渣置于表面皿中，將單絲熱電偶加熱至待測量熔渣液相線溫度以下，然后將單絲熱電偶插入待測渣中，粘取待測量爐渣，將單絲熱電偶降溫至室溫，測量含渣單絲熱電偶質量m₀；

S03，將S02得到的含渣單絲熱電偶置于反應室，調整單絲熱電偶的位置處于反應室中央位置，調整CCD視頻捕獲器焦距，使CCD視頻捕獲器中的視野清晰；

S04，將待測量熔渣以最高升溫速率加熱至目標溫度T₁，保溫一定時間t₁，然后將待測量熔渣以最高冷卻速率降溫至室溫，最高升溫速率和最高冷卻速率均大于220℃/s，測量含渣熱電偶質量m₁，熔渣的揮發速率k表示為：k＝(m-m₀)/t₁；

S05，重復S04的測試過程，直至一輪測試熔渣質量下降不超過1％；

S06，實驗結束后，取出熔渣，做后續成分和結構分析，結合揮發速率k，綜合分析熔渣揮發性能。

2.根據權利要求1所述的一種實驗室內測量熔渣揮發性能的測試方法，其特征在于：S02中，將單絲熱電偶加熱至待測量熔渣液相線溫度200℃以下。

3.根據權利要求1所述的一種實驗室內測量熔渣揮發性能的測試方法，其特征在于：S04中，時間t₁為3～10min。

4.根據權利要求1所述的一種實驗室內測量熔渣揮發性能的測試方法，其特征在于：所述放大成像裝置包括顯微系統和CCD視頻，所述CCD視頻位于所述顯微系統上方，所述CCD視頻與所述中央處理器電連接。

5.根據權利要求1所述的一種實驗室內測量熔渣揮發性能的測試方法，其特征在于：所述分析天平的精度到0.01mg。