[發(fā)明專利]一種用于飛機(jī)蒙皮對(duì)縫測(cè)量的線激光標(biāo)定方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010891686.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-08-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112229420A | 公開(公告)日: | 2021-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李瀧杲;黃翔;李根;魯小翔;褚文敏;周蒯;李航宇;樓佩煌;錢曉明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南京航空航天大學(xué);南京航空航天大學(xué)蘇州研究院 |
| 主分類號(hào): | G01C25/00 | 分類號(hào): | G01C25/00;G01C15/00;G06T7/80 |
| 代理公司: | 蘇州國(guó)卓知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32331 | 代理人: | 康進(jìn)廣 |
| 地址: | 210016*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 飛機(jī) 蒙皮 測(cè)量 激光 標(biāo)定 方法 | ||
1.一種用于飛機(jī)蒙皮對(duì)縫測(cè)量的線激光標(biāo)定方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1:基于EPNP算法解算標(biāo)定靶標(biāo)(2)與相機(jī)(1)之間的位姿轉(zhuǎn)換關(guān)系;
S2:基于線面相交的原理,解算位姿圖像中光條骨架在相機(jī)(1)坐標(biāo)系中的空間坐標(biāo);
S3:使用RANSAC算法過濾光條骨架點(diǎn)中的噪聲點(diǎn),并對(duì)骨架點(diǎn)進(jìn)行擬合,獲取激光發(fā)射器(3)的光平面方程。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于飛機(jī)蒙皮對(duì)縫測(cè)量的線激光標(biāo)定方法,其特征在于,所述S1中還包括使用光束法平差對(duì)位姿轉(zhuǎn)換關(guān)系進(jìn)行優(yōu)化,獲得參考靶標(biāo)平面在相機(jī)(1)坐標(biāo)系中平面方程。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于飛機(jī)蒙皮對(duì)縫測(cè)量的線激光標(biāo)定方法,其特征在于,所述S1中具體包括以下內(nèi)容:
S21:選擇標(biāo)定靶標(biāo)(2)上四個(gè)特征點(diǎn)作為虛擬控制點(diǎn);
S22:將標(biāo)定靶標(biāo)(2)上的所有特征點(diǎn)映射到以虛擬控制點(diǎn)為基點(diǎn)的歐式空間中。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于飛機(jī)蒙皮對(duì)縫測(cè)量的線激光標(biāo)定方法,其特征在于,所述S21中四個(gè)特征點(diǎn)為標(biāo)定靶標(biāo)(2)世界坐標(biāo)系的原點(diǎn)和X/Y/Z軸正方向距離原點(diǎn)單位長(zhǎng)度的特征點(diǎn),虛擬控制點(diǎn)坐標(biāo)為標(biāo)定靶標(biāo)(2)上特征點(diǎn)在世界坐標(biāo)系下坐標(biāo)為
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于飛機(jī)蒙皮對(duì)縫測(cè)量的線激光標(biāo)定方法,其特征在于,所述世界坐標(biāo)系到相機(jī)(1)坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)化為剛體變換,虛擬控制點(diǎn)與特征點(diǎn)之間的轉(zhuǎn)換關(guān)系為
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于飛機(jī)蒙皮對(duì)縫測(cè)量的線激光標(biāo)定方法,其特征在于,所述S2中還包括利用位姿轉(zhuǎn)換關(guān)系將平面靶標(biāo)上光條骨架特征點(diǎn)轉(zhuǎn)換到相機(jī)(1)坐標(biāo)系中,變換標(biāo)定靶標(biāo)(2)位姿,獲取屬于同一光平面中的多根光條骨架的空間點(diǎn)集。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于飛機(jī)蒙皮對(duì)縫測(cè)量的線激光標(biāo)定方法,其特征在于,所述S3中具體包括以下內(nèi)容:
S31:使用空間點(diǎn)集擬合光平面方程;
S32:針對(duì)圖像噪聲對(duì)光平面方程擬合的影響,使用RANSAC算法優(yōu)化光平面擬合參數(shù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種用于飛機(jī)蒙皮對(duì)縫測(cè)量的線激光標(biāo)定方法,其特征在于,所述S32中優(yōu)化光平面擬合參數(shù)具體包括以下內(nèi)容:
S41:在當(dāng)前相機(jī)(1)坐標(biāo)系下,組成初始點(diǎn)集S,對(duì)點(diǎn)集S使用特征值法擬合初始平面方程AsXc+BsYc+CsZc+Ds=0;
S42:所有骨架點(diǎn)到初始平面AsXc+BsYc+CsZc+Ds=0的距離為
S43:光條骨架點(diǎn)中各點(diǎn)到初始平面距離di的標(biāo)準(zhǔn)差σ為統(tǒng)計(jì)每個(gè)初始平面的內(nèi)點(diǎn)數(shù)量M;
S44:重復(fù)S41-S43步驟,設(shè)置迭代次數(shù)為K,選取內(nèi)點(diǎn)數(shù)量最多的點(diǎn)集,選取M最大的模型,將其內(nèi)點(diǎn)設(shè)為點(diǎn)集Sf;
S45:使用特征值法擬合點(diǎn)集Sf,獲取待擬合平面方程。
9.根據(jù)權(quán)利要求1-8任一所述的一種用于飛機(jī)蒙皮對(duì)縫測(cè)量的線激光標(biāo)定方法,其特征在于,所述S3中光平面方程為AlXc+BlYc+ClZc+Dl=0。
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