[發(fā)明專利]一種適用于多種位寬并行輸入數(shù)據(jù)的CRC校驗控制系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010889797.0 | 申請日: | 2020-08-28 |
| 公開(公告)號: | CN112036117B | 公開(公告)日: | 2023-06-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李磊;羅敏濤;趙翠華;李紅橋;黃九余;張斌 | 申請(專利權(quán))人: | 西安微電子技術(shù)研究所 |
| 主分類號: | G06F30/398 | 分類號: | G06F30/398;G06F11/10 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 61200 | 代理人: | 高博 |
| 地址: | 710065 陜西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 適用于 多種 并行 輸入 數(shù)據(jù) crc 校驗 控制系統(tǒng) | ||
本發(fā)明公開了一種適用于多種位寬并行輸入數(shù)據(jù)的CRC校驗控制系統(tǒng),AHB接口單元實現(xiàn)對AHB訪問協(xié)議的解析;CRC計算單元對數(shù)據(jù)源進(jìn)行CRC計算后,將CRC值進(jìn)行輸出;CRC預(yù)置值單元用于和CRC計算的結(jié)果進(jìn)行比較;比較單元實現(xiàn)對校驗值和預(yù)置值進(jìn)行比對;計數(shù)單元實現(xiàn)對校驗過程進(jìn)行超時計數(shù)和對數(shù)據(jù)源進(jìn)行計數(shù),生成中斷產(chǎn)生單元所需的條件;中斷產(chǎn)生單元實現(xiàn)控制系統(tǒng)對外中斷的產(chǎn)生。通過采用基于校驗數(shù)據(jù)源選擇最佳計算多項式的機制、數(shù)據(jù)并行校驗機制以及中斷控制處理機制等,實現(xiàn)對不同數(shù)據(jù)源采用不同多項式的快速并行校驗,同時又能通過中斷處理機制,提升控制系統(tǒng)工作的可靠性,解決了嵌入系統(tǒng)、SoC系統(tǒng)內(nèi)數(shù)據(jù)可靠性問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于嵌入式系統(tǒng)、集成電路設(shè)計技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種適用于多種位寬并行輸入數(shù)據(jù)的CRC校驗控制系統(tǒng)。
背景技術(shù)
高安全高可靠SoC對可靠性要求極高,也就意味著對存儲系統(tǒng)中數(shù)據(jù)的可靠性提出了很高的要求。通常來講,存儲系統(tǒng)通過SRAM、FLASH等常用存儲器件實現(xiàn),該類器件在對數(shù)據(jù)存儲過程中,受到內(nèi)部系統(tǒng)傳輸或外接不確定因素的影響,時常會出現(xiàn)存儲的數(shù)據(jù)與原始數(shù)據(jù)不一致等問題。為解決上述問題,設(shè)計中通常會引入循環(huán)冗余校驗(CyclicRedundancy?Check,CRC)機制,對存儲系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗,來確保數(shù)據(jù)的可靠性。因此,設(shè)計一種CRC校驗控制系統(tǒng)就顯得尤為重要,以高通用的控制系統(tǒng)為甚。
目前,主流的CRC校驗控制結(jié)構(gòu)均采用單一的計算多項式式,沒有充分考慮數(shù)據(jù)的特性(譬如位寬、數(shù)據(jù)量)以及控制器工作的可靠性,從而導(dǎo)致此類控制結(jié)構(gòu)的通用性差、校驗性能不高、工作可靠性差。因此,迫切地需要一種以最短的時間開銷實現(xiàn)對數(shù)據(jù)源的校驗,同時可選擇多種計算多項式式以提升通用性的校驗控制系統(tǒng),此外還需要考慮校驗系統(tǒng)穩(wěn)定可靠工作,具備健全的可靠保障機制。目前,現(xiàn)有的轉(zhuǎn)換結(jié)構(gòu)均未能考慮此類問題,在不同層面上都反映出相應(yīng)技術(shù)的缺失,經(jīng)檢索相關(guān)文獻(xiàn),也沒有能很好解決該問題的方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于針對上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足,提供一種適用于多種位寬并行輸入數(shù)據(jù)的CRC校驗控制系統(tǒng),針對SoC存儲系統(tǒng)內(nèi)大批量數(shù)據(jù)對可靠性要求高的特點,通過采用基于校驗數(shù)據(jù)源選擇最佳計算多項式的機制、數(shù)據(jù)并行校驗機制以及中斷控制處理機制等,可實現(xiàn)對不同數(shù)據(jù)源采用不同多項式的快速并行校驗,同時又能通過中斷處理機制,提升控制系統(tǒng)工作的可靠性,解決了嵌入系統(tǒng)、SoC系統(tǒng)內(nèi)數(shù)據(jù)可靠性問題。
本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
一種適用于多種位寬并行輸入數(shù)據(jù)的CRC校驗控制系統(tǒng),包括AHB接口單元,
AHB接口單元的一端與AHB總線連接,另一端分別與CRC計算單元和CRC預(yù)置值單元的輸入端連接,CRC計算單元和CRC預(yù)置值單元的輸出端經(jīng)比較單元與中斷產(chǎn)生單元連接,中斷產(chǎn)生單元連接計數(shù)單元,被校驗的數(shù)據(jù)源經(jīng)AHB接口單元進(jìn)行解析后,將數(shù)據(jù)輸入到CRC計算單元,經(jīng)CRC計算多項式實現(xiàn)計算,得到CRC值,通過比較單元對計算值和CRC預(yù)置值單元的預(yù)置值比較得到結(jié)果,通過中斷產(chǎn)生單元進(jìn)行結(jié)果輸出,最終實現(xiàn)數(shù)據(jù)的CRC校驗控制。
具體的,CRC計算多項式包括8、16、32和64位位寬的計算多項式。
進(jìn)一步的,8、16、32和64位位寬的計算多項式具體為:
f_crc8(x)=x8+x2+x+1
f_crc16(x)=x16+x15+x2+x+1
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