[發(fā)明專利]一種相似產(chǎn)品壽命遷移篩選方法和系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010889701.0 | 申請日: | 2020-08-28 |
| 公開(公告)號: | CN112036084B | 公開(公告)日: | 2022-08-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 馬劍;尚芃超;鄒新宇;丁宇;呂琛 | 申請(專利權(quán))人: | 北京航空航天大學(xué) |
| 主分類號: | G06F30/27 | 分類號: | G06F30/27;G01R31/367;G01R31/392;G01R31/396;G06F119/04 |
| 代理公司: | 北京元本知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11308 | 代理人: | 秦力軍 |
| 地址: | 100191*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 相似 產(chǎn)品 壽命 遷移 篩選 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種跨配方相似產(chǎn)品壽命遷移預(yù)測方法,其特征在于,包括:
預(yù)處理待測配方相似產(chǎn)品短期循環(huán)壽命測試數(shù)據(jù)得到目標(biāo)樣本數(shù)據(jù),預(yù)處理其他配方相似產(chǎn)品全壽測試容量數(shù)據(jù)得到多個訓(xùn)練數(shù)據(jù);
通過進(jìn)行曲線形態(tài)篩選,從多個訓(xùn)練數(shù)據(jù)中篩選出與目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)曲線類型相似的第一訓(xùn)練數(shù)據(jù);
通過容量退化率相似度篩選,從第一訓(xùn)練數(shù)據(jù)篩選出與目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)的容量退化趨勢相似的第二訓(xùn)練數(shù)據(jù);
通過壽命分布相似度篩選,從第二訓(xùn)練數(shù)據(jù)篩選出與目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)壽命分布相似的第三訓(xùn)練數(shù)據(jù);
通過距離度量最小篩選,從第三訓(xùn)練數(shù)據(jù)中篩選出與目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)的距離度量最小的第四訓(xùn)練數(shù)據(jù);
將第四訓(xùn)練數(shù)據(jù)作為跨配方相似產(chǎn)品壽命預(yù)測的可遷移樣本數(shù)據(jù);
利用適應(yīng)于所述可遷移樣本數(shù)據(jù)的壽命預(yù)測模型對跨配方相似產(chǎn)品進(jìn)行壽命遷移預(yù)測。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,利用適應(yīng)于所述可遷移樣本數(shù)據(jù)的壽命預(yù)測模型對跨配方相似產(chǎn)品進(jìn)行壽命遷移預(yù)測包括:
利用所述可遷移樣本數(shù)據(jù)對預(yù)先針對其他配方相似產(chǎn)品訓(xùn)練的模型進(jìn)行精調(diào)訓(xùn)練,得到所述壽命預(yù)測模型;
利用所述壽命預(yù)測模型對待測配方相似產(chǎn)品的當(dāng)前測試數(shù)據(jù)進(jìn)行壽命預(yù)測處理,得到待測配方相似產(chǎn)品的剩余使用壽命RUL。
3.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述預(yù)處理包括對目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)和訓(xùn)練數(shù)據(jù)進(jìn)行歸一化處理;
所述利用所述壽命預(yù)測模型對待測配方相似產(chǎn)品的當(dāng)前測試數(shù)據(jù)進(jìn)行壽命預(yù)測處理,得到待測配方相似產(chǎn)品的剩余使用壽命RUL包括:
將待測配方相似產(chǎn)品的當(dāng)前測試數(shù)據(jù)輸入所述壽命預(yù)測模型,輸出待測配方相似產(chǎn)品的剩余使用壽命RUL標(biāo)簽值;
對待測配方相似產(chǎn)品的剩余使用壽命RUL標(biāo)簽值進(jìn)行反歸一化處理,得到待測配方相似產(chǎn)品的剩余使用壽命RUL預(yù)測值。
4.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,從多個訓(xùn)練數(shù)據(jù)中篩選出與目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)曲線類型相似的第一訓(xùn)練數(shù)據(jù)包括:
將目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)和多個訓(xùn)練數(shù)據(jù)分別圖形化為目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)曲線和多個訓(xùn)練數(shù)據(jù)曲線;
將目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)曲線和多個訓(xùn)練數(shù)據(jù)曲線分為直線,凹曲線和凸曲線三類;
根據(jù)直線、凹曲線和凸曲線類型進(jìn)行篩選,排除與目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)曲線類型不同的訓(xùn)練數(shù)據(jù)曲線,得到第一訓(xùn)練數(shù)據(jù)。
5.如權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,從第一訓(xùn)練數(shù)據(jù)篩選出與目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)的容量退化趨勢相似的第二訓(xùn)練數(shù)據(jù)包括:
計算第一訓(xùn)練數(shù)據(jù)從初始狀態(tài)退化到測試結(jié)束時容量曲線的變化率,保留與目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)最近接的幾個第一訓(xùn)練數(shù)據(jù);
將保留的第一訓(xùn)練數(shù)據(jù)作為第二訓(xùn)練數(shù)據(jù)。
6.如權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,從第二訓(xùn)練數(shù)據(jù)篩選出與目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)壽命分布相似的第三訓(xùn)練數(shù)據(jù)包括:
通過測量運行到試驗停止閾值時的循環(huán)次數(shù),比較第二訓(xùn)練數(shù)據(jù)的壽命分布,并保留最接近目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)的壽命分布的幾個第二訓(xùn)練數(shù)據(jù);
將保留的最接近目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)的壽命分布的第二訓(xùn)練數(shù)據(jù)作為第三訓(xùn)練數(shù)據(jù)。
7.如權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,從第三訓(xùn)練數(shù)據(jù)中篩選出與目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)的距離度量最小的第四訓(xùn)練數(shù)據(jù)包括:
選用切比雪夫距離對容量曲線進(jìn)行篩選,計算幾個第三訓(xùn)練數(shù)據(jù)的退化曲線與目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)的容量退化曲線間的切比雪夫距離;
選擇切比雪夫距離最小的第三訓(xùn)練數(shù)據(jù)作為第四訓(xùn)練數(shù)據(jù)。
8.如權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述預(yù)處理還包括:
剔除待測配方相似產(chǎn)品短期測試樣本數(shù)據(jù)和其他配方相似產(chǎn)品全壽測試容量數(shù)據(jù)庫中不穩(wěn)定的起始數(shù)據(jù)和未體現(xiàn)退化趨勢的數(shù)據(jù);
對剔除后的短期測試樣本數(shù)據(jù)和全壽測試容量數(shù)據(jù)庫中的數(shù)據(jù)進(jìn)行平滑處理,得到目標(biāo)樣本數(shù)據(jù)和預(yù)測訓(xùn)練數(shù)據(jù)。
9.如權(quán)利要求1-8任一項所述的方法,其特征在于,所述相似產(chǎn)品是鋰電池。
10.一種跨配方相似產(chǎn)品壽命遷移預(yù)測系統(tǒng),其特征在于,包括處理器、存儲器,存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的程序以及用于實現(xiàn)所述處理器和所述存儲器之間連接通信的數(shù)據(jù)總線,所述程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)上述權(quán)利要求1-9任一項所述的跨配方相似產(chǎn)品壽命遷移預(yù)測方法。
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