[發明專利]一種輻射發射RE測試設備以及測試方法

有效

• 申請號: 202010885754.5
• 申請日: 2020-08-28
• 公開（公告）號: CN111999567B
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 包嘉裕
• 申請（專利權）人: 上海商米科技集團股份有限公司;廣東川田科技有限公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 上海市匯業律師事務所 31325
• 代理人: 金煒霞

本發明實施例涉及一種輻射發射RE測試設備以及測試方法。所述設備包括：天線模塊，其包括針對預設頻段的多個天線；濾波模塊，其包括用于將相應天線接收電磁波所得的電信號進行濾波的多個濾波器；開關模塊，其依據將要檢測的頻段將與之電性連接的所述天線模塊及濾波模塊進行對應切換；放大模塊，其將經濾波所得的電信號進行放大；A/D轉換模塊，其將經放大所得的電信號轉換成數字信號；計算處理模塊，其將數字信號的功率值轉換成以dBuV為單位的接收點場強；以及輸出模塊，其用于判斷由所述計算處理模塊計算出的所述接收點場強是否大于RE測試標準場強值，并在是時輸出RE測試通過，否則輸出RE測試不通過。本發明實施例檢測準確、設備輕巧、成本低。

技術領域

本發明實施例涉及輻射測試，具體涉及一種輻射發射RE測試設備以及測試方法。

背景技術

輻射發射(Radiated Emission；簡稱RE)測試是測量待測設備（EUT）通過空間傳播的輻射騷擾場強。現有技術主要以專業認證實驗室的探測天線配合頻譜儀及暗室環境來實現RE測試，其造價昂貴，需要幾百萬的成本，占地面積較大，不適用于一般智能設備研發公司。

對于智能設備硬件研發公司來說，產品在國內外認證中碰到的RE相關問題經常困擾工程師。前期在產品設計和調試階段，由于缺乏標準化測試設備，導致經常忽略RE的預測試，以至于當產品到達認證階段，RE測試問題才在認證實驗室暴露出來，這個時候需要花費大量時間和昂貴的實驗室費用來整改，且經常因為整改困難導致需要改動設計方案，增加試產階段，大大增加了研發成本，延誤產品進度。

針對上述問題，本發明需要提供一種輻射發射RE測試設備以及測試方法，可以模擬認證實驗室暗室測試、準確地探測出RE問題，并且成本低廉、操作便利。

發明內容

為了解決現有技術存在的問題，本發明的至少一個實施例提供了一種輻射發射RE測試設備以及測試方法。

第一方面，本發明實施例提出一種輻射發射RE測試設備，其包括：

天線模塊，其包括針對預設頻段的多個天線，所述多個天線各自具有對應的天線有效長度及阻抗；

濾波模塊，其包括與所述多個天線相匹配的多個濾波器，所述多個濾波器分別用于將相應天線接收電磁波所得的電信號進行濾波；

開關模塊，其與所述天線模塊及濾波模塊電性連接，用于將與所要檢測的頻段相對應的所述天線模塊中的天線以及所述濾波模塊中的濾波器切換成電性連接；

放大模塊，其與所述濾波模塊電性連接，用于將經所述濾波模塊濾波所得的電信號進行放大；

A/D轉換模塊，其與所述放大模塊電性連接，用于將經所述放大模塊放大所得的電信號轉換成數字信號；

計算處理模塊，其用于根據所述A/D轉換模塊輸出的數字信號得到數字信號的功率值，并根據相應天線的天線有效長度及阻抗將所述功率值轉換成以dBuV為單位的接收點場強；以及

輸出模塊，其用于判斷由所述計算處理模塊計算出的所述接收點場強是否大于RE測試標準場強值，并在是時輸出RE測試通過，否則輸出RE測試不通過。

在一些實施例中，所述多個天線為1/4波長天線或者半波振子天線，所述預設頻段位于30 MHz至6 GHz的范圍內。

在一些實施例中，所述開關模塊包括多路雙向選擇開關以及驅動單元，多路雙向選擇開關的一選擇端可切換地與多個天線之一電性連接，其另一選擇端可切換地與所述多個濾波器之一電性連接，所述驅動單元根據將要檢測的頻段驅動所述多路雙向選擇開關將所述天線模塊及所述濾波模塊切換到與所述頻段相對應的天線及濾波器。

在一些實施例中，所述放大模塊為增益可調的低噪聲放大器，所述低噪聲放大器通過調到不同的增益等級來適配不同的測試距離，所述測試距離為3米、5米、7米或10米。