[發明專利]一種介質濾波器自動調試方法及系統

有效

• 申請號: 202010885613.3
• 申請日: 2020-08-28
• 公開（公告）號: CN112164855B
• 公開（公告）日: 2022-07-01
• 發明（設計）人: 黃森銘;麥土日;梁鋒;曾艷軍;田志飛
• 申請（專利權）人: 深圳順絡電子股份有限公司
• 主分類號: H01P11/00
• 分類號: H01P11/00
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司 44223
• 代理人: 孟學英

1.一種介質濾波器自動調試方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1：將待調試的介質濾波器放置在夾具單元上；

S2：對所述待調試的介質濾波器進行輪廓識別，確定所述待調試的介質濾波器的介質濾波器型號；

S3：對所述待調試的介質濾波器進行介質濾波器測試，若所述待調試的介質濾波器為合格介質濾波器，則不再進行后續調試，若所述待調試的介質濾波器為不合格介質濾波器，則獲得所述待調試的介質濾波器的S參數，進行后續調試；

S4：根據所述S參數計算出所述待調試的介質濾波器的實際值，所述實際值包括頻率和耦合系數，通過所述實際值與對應的理論值的偏差值確定調試位置和對應調試量；

當所述介質濾波器的頻率值偏正時，對所述介質濾波器的孔壁進行銀層刻蝕；當所述介質濾波器的頻率值偏負值時，對所述介質濾波器孔底進行銀層刻蝕；

S5：根據所述對應調試量對所述待調試的介質濾波器進行調試，所述調試包括去除偏差位置的銀層使得所述待調試的介質濾波器的基底材料裸露出來，去除銀層的面積與偏差值的關系為m階項式，具體如下：

S=ax^m+bx^m-1+……+c

其中，x是頻率的偏差值，S是調試面積，a、b和c是系數。

2.如權利要求1所述的介質濾波器自動調試方法，其特征在于，還包括：

S6：實時監測調試后的所述待調試的介質濾波器，若所述待調試的介質濾波器為合格介質濾波器，則不再進行后續調試，若所述待調試的介質濾波器為不合格介質濾波器，則再次獲得所述待調試的介質濾波器的S參數，進行再次調試至所述待調試的介質濾波器為合格介質濾波器。

3.如權利要求1或2所述的介質濾波器自動調試方法，其特征在于，對所述待調試的介質濾波器進行輪廓識別包括特征輪廓的識別，所述特征輪廓包括盲孔位、通孔位和槽位信息，對所述特征輪廓進行特征編號，所有的所述特征編號具有唯一性，通過特征確認，確定所述待調試的介質濾波器的介質濾波器型號。

4.如權利要求3所述的介質濾波器自動調試方法，其特征在于，預先設置合格介質濾波器的濾波結果，根據對所述待調試的介質濾波器的濾波結果進行監測判定是否合格。

5.如權利要求4所述的介質濾波器自動調試方法，其特征在于，根據所述S參數計算出所述待調試的介質濾波器的回損零點數量和對應的頻率點、截止頻率和通帶寬度，使用濾波器標準傳遞函數擬合出所述待調試的介質濾波器的波形，同步確定頻率和耦合系數。

6.如權利要求5所述的介質濾波器自動調試方法，其特征在于，預先設置頻率和/或耦合系數偏差值閾值，當所述待調試的介質濾波器的偏差值超過所述偏差值閾值時，對所述待調試的介質濾波器進行調試。

7.如權利要求6所述的介質濾波器自動調試方法，其特征在于，若第一次調試后所述待調試的介質濾波器不合格，則再次計算得到頻率的偏差值x₂，調試面積公式為：

S₂= a(x+ x₂)^m+b(x+ x₂)^m-1+……+c-S。