[發(fā)明專利]LED框架產(chǎn)品測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010883382.2
• 申請(qǐng)日: 2020-08-27
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112147150A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-12-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馬浩鋒;陳慧峰;卞智鋼;張圣琪
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 江陰新基電子設(shè)備有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/88
• 分類號(hào): G01N21/88;G01B11/00;G01N21/01;B65G47/22
• 代理公司: 江陰市輕舟專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32380
• 代理人: 曹鍵

本發(fā)明公開(kāi)了一種LED框架產(chǎn)品測(cè)試方法，采用LED框架產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試，其測(cè)試方法包括如下步驟：將滿料的兩個(gè)料框倉(cāng)分別放置于兩個(gè)料框提升機(jī)構(gòu)中待上料，其中相鄰的料框產(chǎn)品之間鋪設(shè)有隔紙；抓取機(jī)構(gòu)將其對(duì)應(yīng)下方的料框提升機(jī)構(gòu)中的料框產(chǎn)品抓送至輸送裝置中待輸送并將隔紙吸取送至上料裝置隔紙儲(chǔ)料機(jī)構(gòu)中，兩個(gè)抓取機(jī)構(gòu)先后交替工作；兩個(gè)輸送裝置先后交替工作對(duì)料框產(chǎn)品進(jìn)行輸送，料框產(chǎn)品在輸送過(guò)程中，依次經(jīng)過(guò)第一光檢裝置、第二光檢裝置和第三光檢裝置進(jìn)行多次光檢；收料裝置對(duì)光檢之后的料框產(chǎn)品進(jìn)行分類堆疊收集。本發(fā)明具有自動(dòng)化程度高、測(cè)試結(jié)果精確、減輕工人勞動(dòng)強(qiáng)度、提高工作效率、提高產(chǎn)品良率的優(yōu)點(diǎn)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于AOI光檢設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種LED框架產(chǎn)品測(cè)試方法。

背景技術(shù)

LED框架在生產(chǎn)過(guò)程中需對(duì)其進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，現(xiàn)有的LED框架產(chǎn)品測(cè)試流程主要包括上料、測(cè)試、下料，其自動(dòng)化程度低、人工成本高、工作效率低、測(cè)試結(jié)果不精確。

傳統(tǒng)的LED框架上料方式是由人工手動(dòng)抓取上料，上料效率低，其通過(guò)人工將產(chǎn)品取出之后還需將其下層的隔紙移出，此種上料方式存在兩個(gè)弊端：第一、人工接觸產(chǎn)品時(shí)可能會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品表面被氧化腐蝕，影響產(chǎn)品質(zhì)量；第二、由于隔紙較薄，取出隔紙時(shí)可能會(huì)按壓下方的產(chǎn)品，會(huì)對(duì)產(chǎn)品造成損傷，降低產(chǎn)品良率。

傳統(tǒng)的LED框架測(cè)試方式是將產(chǎn)品直接平放在光檢移動(dòng)治具上，治具在經(jīng)過(guò)相機(jī)的運(yùn)動(dòng)過(guò)程中，其產(chǎn)生的晃動(dòng)很有可能使產(chǎn)品的相對(duì)位置出現(xiàn)偏移，從而造成光檢誤判，使得檢測(cè)內(nèi)容與實(shí)際不符、測(cè)試結(jié)果不精確。

傳統(tǒng)的LED框架下料方式，在產(chǎn)品脫離機(jī)械抓手后，直接自由下落到收料盒中，再由人工將收集盒中的框架一片片按數(shù)量理順堆疊好，工作效率低下，工人勞動(dòng)強(qiáng)度大，不能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化生產(chǎn)；且在人工整理框架時(shí)，還會(huì)引起框架表面擦傷，導(dǎo)致產(chǎn)品不良，降低產(chǎn)品良率。

因此尋求一種自動(dòng)化程度高、測(cè)試結(jié)果精確、降低工人勞動(dòng)強(qiáng)度、提高工作效率、提高產(chǎn)品良率的LED框架產(chǎn)品測(cè)試方法尤為重要。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種LED框架產(chǎn)品測(cè)試方法，以解決上述背景技術(shù)中提出的自動(dòng)化程度低、測(cè)試結(jié)果不精確、工人勞動(dòng)強(qiáng)度大、工作效率低、產(chǎn)品不良率高的問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：一種LED框架產(chǎn)品測(cè)試方法，采用LED框架產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試，所述LED框架產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)包括機(jī)架，所述機(jī)架上自左至右依次設(shè)置有上料裝置、第一光檢裝置、第二光檢裝置、第三光檢裝置以及下料裝置，所述上料裝置、第一光檢裝置、第二光檢裝置和第三光檢裝置之間設(shè)置有輸送裝置，所述上料裝置包括上料裝置縱移機(jī)構(gòu)，所述上料裝置縱移機(jī)構(gòu)上設(shè)置有兩個(gè)可縱向移動(dòng)的抓取機(jī)構(gòu)，所述上料裝置縱移機(jī)構(gòu)的下方設(shè)置有前后兩個(gè)對(duì)稱布置的料框提升機(jī)構(gòu)，所述料框提升機(jī)構(gòu)的外側(cè)設(shè)置有上料裝置隔紙儲(chǔ)料機(jī)構(gòu)；

所述輸送裝置設(shè)置有前后兩個(gè)，前后兩個(gè)輸送裝置對(duì)稱布置；

其測(cè)試方法包括如下步驟：

步驟一、將滿料的兩個(gè)料框倉(cāng)分別放置于兩個(gè)料框提升機(jī)構(gòu)中待上料，其中相鄰的料框產(chǎn)品之間鋪設(shè)有隔紙；

步驟二、抓取機(jī)構(gòu)將其對(duì)應(yīng)下方的料框提升機(jī)構(gòu)中的料框產(chǎn)品抓送至輸送裝置中待輸送并將隔紙吸取送至上料裝置隔紙儲(chǔ)料機(jī)構(gòu)中，兩個(gè)抓取機(jī)構(gòu)先后交替工作；

步驟三、兩個(gè)輸送裝置先后交替工作對(duì)料框產(chǎn)品進(jìn)行輸送，料框產(chǎn)品在輸送過(guò)程中，依次經(jīng)過(guò)第一光檢裝置、第二光檢裝置和第三光檢裝置進(jìn)行多次光檢；

步驟四、收料裝置對(duì)光檢之后的料框產(chǎn)品進(jìn)行分類堆疊收集。

更進(jìn)一步的，所述抓取機(jī)構(gòu)包括升降組件、吸附組件和夾爪組件，