[發(fā)明專利]一種通用型電連接器的檢驗裝置和檢驗方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010883216.2 | 申請日： | 2020-08-28 |
| 公開（公告）號： | CN112068041A | 公開（公告）日： | 2020-12-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 韓來望;邵煒程;杜維杰;關(guān)孟澤 | 申請（專利權(quán)）人： | 天津津航技術(shù)物理研究所 |
| 主分類號： | G01R31/70 | 分類號： | G01R31/70 |
| 代理公司： | 天津市鼎拓知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 12233 | 代理人： | 劉雪娜 |
| 地址： | 300000 天津*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 通用型 連接器 檢驗 裝置 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種通用型電連接器的檢驗裝置及方法，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中電連接器檢驗效率低、對器件有損傷的問題。所述通用型電連接器的檢驗裝置包括：印刷電路板PCB、設(shè)置于印刷電路板上的成對單芯插孔、與成對單芯插孔的數(shù)量相同且一一對應(yīng)電連接的成對測試點及成對轉(zhuǎn)換電連接器；檢驗時，將轉(zhuǎn)換電連接器與待測電連接器相連，再將轉(zhuǎn)換電連接器的專用插針與PCB板的單芯插孔相連，連接完成后通過測試點對待測電連接器進(jìn)行檢驗。本發(fā)明將型號產(chǎn)品電連接器的測試點轉(zhuǎn)化到檢驗裝置上面的測試點，操作簡便，檢驗效率高，對型號產(chǎn)品中電連接器無損傷，避免了漏檢，實現(xiàn)型號產(chǎn)品電連接器的無損、高效檢驗。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于電子設(shè)備檢驗領(lǐng)域，具體涉及一種通用型電連接器的檢驗裝置和檢驗方法。
背景技術(shù)
電子設(shè)備間進(jìn)行物理連接時，通過電連接器進(jìn)行互連。隨著計算機技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)在所涉及到的電子設(shè)備間的電路連接，通常需要多芯電連接器。多芯電連接器的各個插針針腳一般通過焊接的方式連接于電路板中。焊接完成后，要對電連接器進(jìn)行通斷、短路、接線關(guān)系的測試和檢驗，以保證電連接器的功能正常。
現(xiàn)有技術(shù)中，對多芯電連接器的檢驗中，需要兩名操作人員配合進(jìn)行，使用數(shù)字萬用表的表筆直接接觸電連接器的插針或者插孔進(jìn)行通斷、短路、接線關(guān)系的測試和檢驗。但是，人工萬用表檢驗，操作難度大、效率低，而且存在漏檢和損傷電連接器的風(fēng)險。而且不同的電子設(shè)備間的電氣連接，針對不同的功能需要不同型號的電連接器，人工檢驗過程中需要適應(yīng)電連接器的不同，進(jìn)一步降低了檢驗效率，不利于批量生產(chǎn)。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷或不足，本發(fā)明旨在提供一通用型電連接器的檢驗裝置和檢驗方法，將對待測電連接器的檢驗測試點，統(tǒng)一轉(zhuǎn)化到檢驗裝置上的測試點，同時轉(zhuǎn)化過程中將多芯拆分為單芯，簡化檢驗流程，提高檢驗效率。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實施例采用如下技術(shù)方案：
第一方面，本發(fā)明實施例提供了一種通用型電連接器的檢驗裝置，所述通用型電連接器的檢驗裝置包括：印刷電路板PCB、設(shè)置于印刷電路板上的成對單芯插孔、成對測試點及成對轉(zhuǎn)換電連接器；其中，
所述成對測試點數(shù)量與所述成對單芯插孔的數(shù)量相同，且一一對應(yīng)電連接；所述轉(zhuǎn)換電連接器一端具有多芯插口，另一端具有與多芯插口的芯數(shù)相同且與PCB板上單芯插孔對應(yīng)的專用插針；
檢驗時，將轉(zhuǎn)換電連接器與待測電連接器相連，再將轉(zhuǎn)換電連接器的專用插針與PCB板的單芯插孔相連，連接完成后通過測試點對待測電連接器進(jìn)行檢驗。
上述方案中，所述成對測試點并列、對稱的成列設(shè)置于所述PCB板中央，成對單芯插孔并列對稱分布于測試點兩側(cè)。
上述方案中，所述成對測試點互成逆序地成列設(shè)置于所述PCB板中央，成對單芯插孔互成逆序地分布于測試點兩側(cè)。
上述方案中，所述成對測試點錯位排列于PCB板一側(cè)，成對單插孔對應(yīng)地錯位排列于PCB板另一側(cè)。
上述方案中，所述成對測試點互成逆序地錯位排列于PCB板一側(cè)，成對單插孔互成逆序地、對應(yīng)于測試點地錯位排列于PCB板另一側(cè)。
上述方案中，所述成對單芯插孔具有N對；且當(dāng)待檢測的電連接器芯數(shù)為M時，M≤N。
上述方案中，所述電連接器的多芯插口，芯數(shù)根據(jù)待測電連接器的芯數(shù)進(jìn)行選擇。
上述方案中，所述單芯插孔通過焊接的方式焊接在PCB板的通孔上。
上述方案中，所述裝置還包括萬用表，在檢驗過程中，測試點與萬用表的表筆連接，對與測試點對應(yīng)的單芯插孔插接的任意芯進(jìn)行檢驗。
第二方面，本發(fā)明實施例還提供了一種通用型電連接器檢驗方法，所述檢驗方法包括如下步驟：
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