[發(fā)明專利]一種用于LCD屏幕的缺陷檢測方法、裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010882209.0
• 申請日: 2020-08-28
• 公開（公告）號: CN111815630B
• 公開（公告）日: 2020-12-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王曉曼
• 申請（專利權(quán)）人: 歌爾股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06K9/62
• 代理公司: 北京市隆安律師事務(wù)所 11323
• 代理人: 權(quán)鮮枝

1.一種用于LCD屏幕的缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

獲取LCD屏幕的屏幕圖像；

對所述屏幕圖像中的缺陷進行粗略查找，提取出缺陷所在的可疑區(qū)域；

基于可疑區(qū)域?qū)υ摽梢蓞^(qū)域中的每個像素點進行聚類處理，得到聚類結(jié)果，每個聚類結(jié)果對應(yīng)一個可疑缺陷；

根據(jù)所述聚類結(jié)果計算該聚類結(jié)果對應(yīng)的可疑缺陷的寬度和長度，基于可疑缺陷的寬度和長度確定該可疑缺陷是否為屏幕缺陷，以及所屬的屏幕缺陷類型；

其中，根據(jù)所述聚類結(jié)果計算該聚類結(jié)果對應(yīng)的可疑缺陷的寬度和長度，包括：

將每個聚類結(jié)果對應(yīng)的可疑缺陷從所述屏幕圖像上裁剪出來，得到每個可疑缺陷對應(yīng)的裁剪圖像；對所述裁剪圖像進行邊緣檢測，得到邊緣圖像，并計算邊緣圖像上每個輪廓點與其臨近的輪廓點構(gòu)成的第一直線，以及根據(jù)每個輪廓點計算與第一直線垂直的第二直線；基于第一直線計算每個輪廓點對應(yīng)的可疑缺陷的長度參考值，基于第二直線計算每個輪廓點對應(yīng)的可疑缺陷的寬度參考值；根據(jù)每個輪廓點對應(yīng)的可疑缺陷的長度參考值與寬度參考值，計算可疑缺陷的長度與寬度。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，基于第一直線計算每個輪廓點對應(yīng)的可疑缺陷的長度參考值，基于第二直線計算每個輪廓點對應(yīng)的可疑缺陷的寬度參考值，包括：

對每個輪廓點，計算由所述邊緣圖像上屬于第一直線的兩個輪廓點所確定的第一最長線段，所述第一最長線段為基于該輪廓點計算得到的可疑缺陷的長度參考值；以及，計算由該輪廓點與所述邊緣圖像上屬于第二直線的輪廓點所確定的第二最長線段，所述第二最長線段為基于該輪廓點計算得到的可疑缺陷的寬度參考值；

根據(jù)每個輪廓點對應(yīng)的可疑缺陷的長度參考值與寬度參考值，計算可疑缺陷的長度與寬度，包括：

過濾掉輪廓點中的干擾點，得到有效輪廓點；

計算所述邊緣圖像上所有有效輪廓點對應(yīng)的長度參考值的均值得到可疑缺陷的長度，以及計算邊緣圖像上所有有效輪廓點對應(yīng)的寬度參考值的均值得到可疑缺陷的寬度。

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，過濾掉輪廓點中的干擾點，得到有效輪廓點，包括：

計算每個輪廓點對應(yīng)的第二直線的斜率角；

對全部輪廓點對應(yīng)的第二直線的斜率角進行投票，篩選出斜率角與得票最多的斜率角的差值在預設(shè)角度范圍內(nèi)的第二直線對應(yīng)的輪廓點，得到有效輪廓點。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，基于可疑區(qū)域?qū)υ摽梢蓞^(qū)域中的每個像素點進行聚類處理，包括：

根據(jù)屏幕像素點與屏幕圖像像素點之間的對應(yīng)關(guān)系設(shè)置平滑寬度，基于所述平滑寬度對所述屏幕圖像上所述可疑區(qū)域進行平滑處理，得到平滑后的圖像；

通過最大類間方差計算平滑后的圖像中每個像素點對應(yīng)的全局二值化閾值，以及通過最大熵算法計算平滑后的圖像中每個像素點對應(yīng)的局部閾值；

根據(jù)平滑后的圖像中每個像素點對應(yīng)的全局二值化閾值、局部閾值將圖像二值化，得到二值圖像；

在二值圖像上對該可疑區(qū)域中的每個像素點進行聚類處理。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，基于可疑區(qū)域?qū)υ摽梢蓞^(qū)域中的每個像素點進行聚類處理，包括：

對可疑區(qū)域內(nèi)符合聚類條件的任一像素點進行聚類處理，并判斷該可疑區(qū)域內(nèi)是否還有未被聚類處理且符合聚類條件的其他像素點；

如果有其他像素點，對其他像素點進行聚類處理，直至所有符合聚類條件的像素點都被聚類處理；

如果沒有其他像素點，結(jié)束對該可疑區(qū)域中的像素點的聚類處理。

6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，對可疑區(qū)域內(nèi)符合聚類條件的任一像素點進行聚類處理，包括：

設(shè)置二值圖像中表示缺陷的像素點灰度值為第一灰度值；

設(shè)置二值圖像中表示背景的像素點灰度值為第二灰度值，第二灰度值的像素點為不符合聚類條件的像素點；

對可疑區(qū)域內(nèi)為第一灰度值的任一像素點進行聚類處理。