[發明專利]一種導引頭動態指標測試平臺及測試方法

有效

• 申請號: 202010877404.4
• 申請日: 2020-08-27
• 公開（公告）號: CN112013720B
• 公開（公告）日: 2022-09-23
• 發明（設計）人: 王超;周奐斌;劉俊池;朱祥;鐘國義
• 申請（專利權）人: 湖北三江航天萬峰科技發展有限公司
• 主分類號: F41H13/00
• 分類號: F41H13/00;F42B35/00
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司 42104
• 代理人: 劉志菊;萬仲達

1.一種導引頭動態指標測試平臺，包括機械臺體和測控機柜，機械臺體包括轉臺基座（1），測控機柜包括控制計算機（18）、狀態監控單元（26）、軸一控制板（30）和軸二控制板（31），其特征在于：所述轉臺基座（1）上方設置有軸二電機（4），所述軸二電機（4）底面與轉臺基座（1）頂面之間設置有軸二碼盤（5），所述軸二碼盤（5）頂面與軸二電機（4）底面固定連接，所述軸二碼盤（5）底面與轉臺基座（1）頂面固定連接，所述軸二電機（4）輸出端頂面與軸二主軸（6）底面固定連接，所述軸二主軸（6）上端水平設置有軸二工作臺（10），所述軸二工作臺（10）固定套設在軸二主軸（6）上，所述軸二工作臺（10）頂面從左往右設置有目標模擬器（11）和緩沖器（12），所述軸二主軸（6）側面固定設置有軸二插銷（9），所述軸二插銷（9）底端與軸二電機（4）頂面卡接，所述軸二主軸（6）內部中空設置，所述軸二主軸（6）頂面開口設置，所述軸二主軸（6）內部設置有軸一電機（7），所述軸一電機（7）底面與軸一碼盤（8）頂面固定連接，所述軸一碼盤（8）底面與軸二主軸（6）內部底面固定連接，所述軸二工作臺（10）頂面水平設置有軸一工作臺（13），所述軸一電機（7）輸出桿頂面與軸一工作臺（13）底面固定連接，所述軸一工作臺（13）上方豎直設置有固定插銷（16），所述固定插銷（16）底端貫穿軸一工作臺（13）與軸二工作臺（10）頂面卡接，所述軸一工作臺（13）右側豎直固定設置有軸一插銷（15），所述軸一插銷（15）底端與軸二電機（4）頂面卡接，所述軸一工作臺（13）頂面設置有滾轉工裝（14），所述軸一控制板（30）和軸二控制板（31）分別與軸一電機（7）和軸二電機（4）電連接。

2.根據權利要求1所述的一種導引頭動態指標測試平臺，其特征在于：所述滾轉工裝（14）包括滾轉軸（141）、大理石墊（142）、導引頭工裝（143）、定位插銷（144）、基座靠塊（145）、工裝靠塊（146）、手柄（147）和鎖緊旋鈕（148），所述滾轉軸（141）豎直設置在軸一工作臺（13）上方，所述大理石墊（142）頂面與滾轉軸（141）底面固定連接，所述大理石墊（142）底面與軸一工作臺（13）頂面固定連接，所述導引頭工裝（143）固定設置在滾轉軸（141）右端，所述基座靠塊（145）和工裝靠塊（146）均勻設置在滾轉軸（141）內壁，所述滾轉軸（141）內部設置有導引頭（17），所述導引頭（17）表面與滾轉軸（141）內壁接觸。

3.根據權利要求2所述的一種導引頭動態指標測試平臺，其特征在于：所述轉臺基座（1）底部外側固定設置有調平地腳（2），所述轉臺基座（1）右側設置有導電滑環（3）。

4.根據權利要求2所述的一種導引頭動態指標測試平臺，其特征在于：所述目標模擬器（11）底面和緩沖器（12）底面與軸二工作臺（10）頂面固定連接，所述緩沖器（12）為兩個，兩個所述緩沖器（12）以目標模擬器（11）軸線前后對稱設置。

5.根據權利要求2所述的一種導引頭動態指標測試平臺，其特征在于：所述滾轉軸（141）側面均勻開設有定位插孔，所述定位插銷（144）一端表面與定位插孔內壁滑動連接，所述鎖緊旋鈕（148）與定位插銷（144）另一端固定連接，所述手柄（147）固定設置在導引頭工裝（143）的右側端面上。