[發(fā)明專利]用于在渲染圖像中使用的可重新照明紋理

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• 申請日: 2015-08-07
• 公開（公告）號: CN112017272A
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發(fā)明（設計）人: J·伊姆伯;A·希爾頓;J-Y·吉耶莫特
• 申請（專利權）人: 想象技術有限公司
• 主分類號: G06T15/50
• 分類號: G06T15/50
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 姚杰

1.一種確定針對圖像處理系統(tǒng)中的場景的局部輻照估計的方法，所述方法包括：

獲得針對所述場景中的一個或多個表面上的樣本位置的初始輻照估計，所述初始輻照估計是基于針對所述場景的全局輻照估計的；

獲得指示所述場景中依賴于視角的所述樣本位置的可見性的可見性指示；

使用所獲得的所述初始輻照估計和所獲得的所述可見性指示，來計算針對所述場景的角度依賴性輻射估計；以及

使用所述輻射估計和所述可見性指示，以確定所述樣本位置處的局部輻照估計。

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，還包括：使用所述局部輻照估計來確定針對紋理的本征顏色估計。

3.根據(jù)權利要求1或2所述的方法，其中所述全局輻照估計依賴于表面法線，并且其中獲得針對所述場景中的一個或多個表面上的樣本位置的初始輻照估計包括：使用所述樣本位置的表面法線，通過對所述全局輻照估計進行采樣來確定所述初始輻照估計。

4.根據(jù)權利要求1或2所述的方法，其中針對所述場景的所述全局輻照估計可以通過以下而被確定：

分析所述場景的至少一個視圖，以估計描述所述場景中的所述一個或多個表面的場景幾何，并且將初始紋理分段成多種材料，所述初始紋理可被分離成本征顏色估計和對應的陰影估計；

確定針對所述材料中的每種材料的初始粗糙本征顏色估計；

確定一個或多個縮放因子，用于縮放所述初始粗糙本征顏色估計中的相應的一個或多個初始粗糙本征顏色估計，所述縮放因子是基于材料輻照估計之間的差異而被確定的，所述材料輻照估計針對所述材料、基于與所述材料的所述初始粗糙本征顏色估計的縮放版對應的陰影估計而被確定；以及

使用所確定的所述縮放因子來確定所述全局輻照估計作為表面法線的函數(shù)。

5.根據(jù)權利要求4所述的方法，其中針對所述材料中的每種材料，所述初始粗糙本征顏色估計通過找到針對所述材料的所述初始紋理中的值的平均值而被確定。

6.根據(jù)權利要求4所述方法，其中使用所確定的所述縮放因子來確定所述全局輻照估計包括：

使用所確定的所述縮放因子，來縮放所述初始粗糙本征顏色估計中的所述一個或多個初始粗糙本征顏色估計；以及

使用縮放的所述粗糙本征顏色估計以確定所述全局輻照估計作為表面法線的函數(shù)。

7.根據(jù)權利要求6所述方法，其中使用縮放的所述粗糙本征顏色估計以確定所述全局輻照估計包括：

組合縮放的所述粗糙本征顏色估計，以形成全局粗糙本征顏色估計；以及

使用所述全局粗糙本征顏色估計以確定所述全局輻照估計作為表面法線的函數(shù)。

8.根據(jù)權利要求7所述的方法，還包括：將二階球諧函數(shù)擬合到所述全局輻照估計，從而對所述全局輻照估計進行去噪。

9.根據(jù)權利要求4所述的方法，其中確定一個或多個縮放因子包括：

確定針對所述材料輻照估計的重疊區(qū)域中的不同材料的材料輻照估計之間的所述差異的測量，所述差異的所述測量依賴于所述縮放因子，其中對于特定縮放因子，針對材料的所述材料輻照估計匹配于與用所述特定縮放因子縮放的所述初始粗糙本征顏色估計的版本對應的所述陰影估計；以及

確定所述縮放因子以便最小化所述差異的所述測量。

10.根據(jù)權利要求1或2所述的方法，其中獲得可見性指示包括：

基于通過分析所述場景的至少一個視圖而確定的、描述所述場景中的所述一個或多個表面的所估計的場景幾何，來確定所述可見性指示。

11.根據(jù)權利要求1或2所述的方法，其中所述可見性指示是針對樣本位置x、以及針對高達第K階球諧函數(shù)的第k階球諧函數(shù)的球諧函數(shù)系數(shù)b_x，k的形式。