[發(fā)明專利]功能模組及其制備方法和應(yīng)用有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010874631.1 | 申請日: | 2020-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN112071941B | 公開(公告)日: | 2022-04-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周長著;汪智偉;馮葉;黎年賜;楊春雷 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳先進(jìn)技術(shù)研究院 |
| 主分類號: | H01L31/101 | 分類號: | H01L31/101;H01L31/0216;H01L31/18 |
| 代理公司: | 深圳市科進(jìn)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 魏毅宏 |
| 地址: | 518055 廣東省深圳*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 功能 模組 及其 制備 方法 應(yīng)用 | ||
本發(fā)明涉及一種功能模組及其制備方法和應(yīng)用。該功能模組包括襯底、吸收層和勢壘層。吸收層設(shè)置在襯底上。吸收層含有硒元素和錫元素。勢壘層設(shè)置在吸收層的遠(yuǎn)離襯底的一側(cè)上。勢壘層含有鍺元素。該功能模組能夠制備效率較高的探測器。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光電技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種功能模組及其制備方法和應(yīng)用。
背景技術(shù)
短波紅外光探測器在民用、工業(yè)、科學(xué)等領(lǐng)域有廣泛的用途而備受關(guān)注,但是目前市場上使用的短波紅外探測器主要是InGaAs探測器,它的性能雖然比較好,然而其諸如工藝苛刻等缺點(diǎn)導(dǎo)致這種探測器多用于軍事和航空等領(lǐng)域,無法普及民用。具有含錫硒層的探測器(例如:以鋅黃錫礦結(jié)構(gòu)的I2-II-IV-VI4型四元硒族化合物半導(dǎo)體Cu2CdxZn1-xSnSe4)的生產(chǎn)工藝的要求相對較低,但現(xiàn)有的具有含錫硒層的探測器的效率較低,不能滿足實(shí)際需求。
發(fā)明內(nèi)容
基于此,有必要提供一種能夠制備效率較高的探測器的功能模組。
此外,還提供一種功能模組的制備方法及功能模組的應(yīng)用。
一種功能模組,包括:
襯底;及
吸收層,設(shè)置在所述襯底上,所述吸收層含有硒元素和錫元素;及
勢壘層,設(shè)置在所述吸收層的遠(yuǎn)離所述襯底的一側(cè)上,所述勢壘層含有鍺元素。
研究發(fā)現(xiàn),現(xiàn)有的具有含錫硒層的探測器的含錫硒層中容易形成易揮發(fā)的SnSe復(fù)合物,使得該薄膜表面形成缺陷,造成大量載流子匯聚,增加漏電流,降低器件的效率。上述功能模組通過在含有硒元素和錫元素的吸收層上設(shè)置含有鍺元素、不易揮發(fā)的寬禁帶勢壘層,以減少吸收層表面缺陷、電荷復(fù)合以及Sn和Se化合物揮發(fā),減少漏電流,能夠用于制備效率較高的探測器。經(jīng)試驗(yàn)驗(yàn)證,采用上述功能模組制作的探測器的漏電流為20μA/cm2~80μA/cm2,量子效率為60%~95%(集中在波長為500nm-1600nm)。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述勢壘層為銅鎘鋅鍺硒薄膜層或者銅鋅鍺硒薄膜層;
及/或,所述吸收層為銅鋅錫硒薄膜層或者銅鎘鋅錫硒薄膜層;
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述吸收層的厚度為1.0μm~1.5μm;
及/或,所述勢壘層的厚度為90nm~110nm。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述功能模組還包括第一電極、緩沖層、第二電極和柵極層,所述第一電極設(shè)置在所述襯底及所述吸收層之間,所述緩沖層設(shè)置在所述勢壘層的遠(yuǎn)離所述吸收層的一側(cè)上,所述第二電極設(shè)置在所述緩沖層的遠(yuǎn)離所述勢壘層的一側(cè),所述柵極層設(shè)置在所述第二電極的遠(yuǎn)離所述緩沖層的一側(cè)。
一種功能模組的制備方法,包括如下步驟:
采用第一靶材在襯底上形成吸收層,所述第一靶材含有硒元素和錫元素;及
采用第二靶材在所述吸收層的遠(yuǎn)離所述襯底的一側(cè)上形成勢壘層,得到功能模組,所述第二靶材含有鍺元素。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述第一靶材還含有銅元素及鋅元素;所述第二靶材還含有銅元素、鋅元素和硒元素;
或者,所述第一靶材還含有銅元素、鋅元素及鎘元素;所述第二靶材還含有銅元素、鋅元素、硒元素及鎘元素。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,包括如下步驟:
將所述襯底置于鍍膜設(shè)備,所述鍍膜設(shè)備具有銅靶源、鎘靶源、鋅靶源、錫靶源、硒靶源、鍺靶源;
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





