[發(fā)明專利]一種動態(tài)檢測光照對物質(zhì)紫外吸光度影響的檢測儀

有效

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• 申請日: 2020-08-26
• 公開（公告）號: CN112014319B
• 公開（公告）日: 2021-11-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 魏潔書
• 申請（專利權(quán)）人: 中山大學新華學院
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/33
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 張金福

本發(fā)明提供一種動態(tài)檢測光照對物質(zhì)紫外吸光度影響的檢測儀，包括測量光源、快門、收集盒和光譜儀，其中：所述測量光源安裝有所述快門，所述測量光源發(fā)出測量光照射在待測樣品上，所述收集盒上開有采樣口和發(fā)射口，所述待測樣品放置于采樣口上，所述收集盒中包括照射光源，所述照射光源發(fā)出照射光照射在所述采樣口并且測量光與照射光照射待測樣品的同一位置，所述收集盒收集測量光與照射光照射待測樣品后的光，所述光譜儀從所述發(fā)射口接收收集盒收集的光，測量待測樣品的吸光度。本發(fā)明通過電磁快門實現(xiàn)瞬時光照，通過高速光譜儀和高速快門的配合動態(tài)監(jiān)測光照對物質(zhì)吸光度的影響，同時測量光和照射光在同一光路照射樣品，使結(jié)果精確。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光檢測領(lǐng)域，更具體地，涉及一種動態(tài)檢測光照對物質(zhì)紫外吸光度影響的檢測儀。

背景技術(shù)

紫外-可見分光光度法是在200～760mn波長范圍內(nèi)測定物質(zhì)的吸光度，用于鑒別、雜質(zhì)檢查和定量測定的方法。當光穿過被測物質(zhì)時，物質(zhì)對光的吸收程度隨光的波長不同而變化。

因此，通過測定物質(zhì)在不同波長處的吸光度，并繪制其吸光度與波長的關(guān)系圖即得被測物質(zhì)的吸收光譜。從吸收光譜中，可以確定最大吸收波長λmax和最小吸收波長λmin。物質(zhì)的吸收光譜具有與其結(jié)構(gòu)相關(guān)的特征性。有些物質(zhì)在光照條件下不穩(wěn)定，因此，可以通過測定物質(zhì)在光照條件下吸光度的變化，鑒定物質(zhì)的穩(wěn)定性或光敏性。

公開日為2006年03月29日，公開號為CN1752739公開了一種快速測量光譜的分光光度計，包括一光源，在該光源輸出的主光路上，依次是分光光度系統(tǒng)，色輪，第三反射鏡，凹面反射鏡，衍射光柵，狹縫和接收器，該接收器的輸出端接一數(shù)據(jù)處理及控制器，所述的光源由一寬光譜鹵鎢燈、一氘燈和在光源輸出光路的切換式第一半透半反鏡構(gòu)成，所述的狹縫位于所述的光源和第二半透半反鏡之間，在所述的狹縫和第二半透半反鏡之間還有一準直組合透鏡；所述的凹面反射鏡和所述的接收系統(tǒng)之間還有一會聚透鏡；所述的接收器是一列陣CCD。

目前的紫外-可見分光光度計檢測物質(zhì)光照后的吸光度時，光照條件不穩(wěn)定，測量光和照射光不在同一光路，無法精確到照射樣品同一位置，測定結(jié)果有偏差。且無法實現(xiàn)瞬時光照或設(shè)定光照時長，無法監(jiān)測光照過程對樣品吸光度的影響。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種動態(tài)檢測光照對物質(zhì)紫外吸光度影響的檢測儀，可檢測樣品在光照下的吸光度變化，光照條件穩(wěn)定，可實現(xiàn)瞬時光照，設(shè)定光照時長，亦可監(jiān)測光照過程對物質(zhì)吸光度的影響，使用方便，數(shù)據(jù)穩(wěn)定精確。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的技術(shù)方案如下：

一種動態(tài)檢測光照對物質(zhì)紫外吸光度影響的檢測儀，包括測量光源、快門、收集盒和光譜儀，其中：

所述測量光源安裝有所述快門，所述測量光源發(fā)出測量光照射在待測樣品上，所述收集盒上開有采樣口和發(fā)射口，所述待測樣品放置于采樣口上，所述收集盒中包括照射光源，所述照射光源發(fā)出照射光照射在所述采樣口并且測量光與照射光照射待測樣品的同一位置，所述收集盒收集測量光與照射光照射待測樣品后的光，所述光譜儀能所述發(fā)射口接收收集盒收集的光，測量待測樣品的吸光度。

上述方案中通過快門的開閉，達到瞬時光照的效果，避免反復開關(guān)燈而引起光源不穩(wěn)定，測量光和照射光照射在待測樣品的同一位置，結(jié)果更加精確。

優(yōu)選地，還包括光纖，所述測量光源連接光纖，通過光纖將測量光照射在待測樣品上，所述快門安裝在光纖截面上。

優(yōu)選地，所述快門為電磁快門。

優(yōu)選地，所述快門為高速電磁快門，精確到毫秒級速度。

優(yōu)選地，所述光譜儀為高速光譜儀。

優(yōu)選地，所述測量光源和照射光源在照射樣品時不同時開啟，避免了測量光與照射光之間互相干擾，在高速光譜儀和高速快門的配合下，可動態(tài)監(jiān)測樣品吸光度的變化。