[發明專利]一種緊湊型質子能譜測量裝置

在審

• 申請號: 202010871815.2
• 申請日: 2020-08-26
• 公開（公告）號: CN111948699A
• 公開（公告）日: 2020-11-17
• 發明（設計）人: 閆亞東;劉霞剛;高煒;李奇;王軍寧;何俊華
• 申請（專利權）人: 中國科學院西安光學精密機械研究所
• 主分類號: G01T1/36
• 分類號: G01T1/36
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 董娜

1.一種緊湊型質子能譜測量裝置，其特征在于：包括沿質子出射方向依次同軸設置的楔形濾片(1)、閃爍體(2)、成像鏡頭及探測器；

所述楔形濾片(1)的薄邊厚度為0.2mm～2mm，厚邊厚度為1.0mm～10mm；

所述成像鏡頭采用物方遠心系統；

質子束入射楔形濾片(1)，經楔形濾片(1)能譜過濾后入射閃爍體(2)，激發出可見光子并入射至所述成像鏡頭，成像鏡頭將可見光子的空間分布圖像成像到所述探測器的像增強靶面(12)上。

2.根據權利要求1所述緊湊型質子能譜測量裝置，其特征在于：所述楔形濾片(1)的薄邊厚度為0.4mm，厚邊厚度為2.0mm，面型尺寸為40mm×40mm。

3.根據權利要求2所述緊湊型質子能譜測量裝置，其特征在于：所述成像鏡頭的物方數值孔徑NA為0.164。

4.根據權利要求1至3任一所述緊湊型質子能譜測量裝置，其特征在于：還包括密封窗(9)；

所述成像鏡頭包括沿質子出射方向依次同軸設置的第一透鏡(3)、第二透鏡(4)、第三透鏡(5)、第四透鏡(6)、第五透鏡(7)、第六透鏡(8)、第七透鏡(10)和第八透鏡(11)；

所述密封窗(9)設置在第六透鏡(8)和第七透鏡(10)之間，所述第七透鏡(10)、第八透鏡(11)以及探測器共同密封在大氣艙或大氣包中。

5.根據權利要求4所述緊湊型質子能譜測量裝置，其特征在于：所述第一透鏡(3)前表面的球面半徑為-81.65，后表面的球面半徑為-54.41；

所述第二透鏡(4)前表面的球面半徑為153.46，后表面的球面半徑為-150.34；

所述第三透鏡(5)前表面的球面半徑為59.16，前表面的二次曲線系數k、二階系數α₁、四階系數α₂、六階系數α₃分別為0.5313、7.983×10^-5、-3.125×10^-7、-1.996×10^-11；

所述第四透鏡(6)前表面的球面半徑為-153.46，后表面的球面半徑為52.24；

所述第五透鏡(7)前表面的球面半徑為153.46，后表面的球面半徑為-150.34；

所述第六透鏡(8)前表面的球面半徑為153.46，后表面的球面半徑為-150.34；

所述第七透鏡(10)前表面的球面半徑為31.9，后表面的球面半徑為30.57；

所述第八透鏡(11)前表面的球面半徑為-57.15，后表面的球面半徑為141.88。

6.根據權利要求5所述緊湊型質子能譜測量裝置，其特征在于：所述閃爍體(2)、第一透鏡(3)、第二透鏡(4)、第三透鏡(5)、第四透鏡(6)、第五透鏡(7)、第六透鏡(8)、密封窗(9)、第七透鏡(10)、第八透鏡(11)的厚度分別為2.0mm、13.1mm、12.3mm、13.5mm、6.20mm、12.3mm、12.3mm、12.0mm、12.1mm、3.2mm。

7.根據權利要求6所述緊湊型質子能譜測量裝置，其特征在于：所述閃爍體(2)后表面到第一透鏡(3)前表面的距離為51.78mm；

所述第一透鏡(3)后表面到第二透鏡(4)前表面的距離為146.22mm；

所述第二透鏡(4)后表面到第三透鏡(5)前表面的距離為0.63mm；

所述第三透鏡(5)后表面到第四透鏡(6)前表面的距離為2.83mm；

所述第四透鏡(6)后表面到第五透鏡(7)前表面的距離為47.83mm；

所述第五透鏡(7)后表面到第六透鏡(8)前表面的距離為24.19mm；

所述第六透鏡(8)后表面到密封窗(9)前表面的距離為23.40mm；

所述密封窗(9)后表面到第七透鏡(10)前表面的距離為12.37mm；

所述第七透鏡(10)后表面到第八透鏡(11)前表面的距離為8.5mm；

所述第八透鏡(11)后表面到像增強靶面(12)的距離為9.91mm。