[發明專利]一種循環冗余校驗方法和裝置在審
| 申請號: | 202010868867.4 | 申請日: | 2020-08-25 |
| 公開(公告)號: | CN114124291A | 公開(公告)日: | 2022-03-01 |
| 發明(設計)人: | 李西昆;樊震 | 申請(專利權)人: | 北京百卓網絡技術有限公司 |
| 主分類號: | H04L1/00 | 分類號: | H04L1/00 |
| 代理公司: | 北京集智東方知識產權代理有限公司 11578 | 代理人: | 陳亞斌;關兆輝 |
| 地址: | 100095 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 循環 冗余 校驗 方法 裝置 | ||
1.一種循環冗余校驗方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取待處理的數據報文;
獲取所述待處理的數據報文的有效字節和無效字節,將所述無效字節填充為0;
設置CRC32_D512算法模塊;
輸入所述有效字節到所述CRC32_D512算法模塊;
基于所述CRC32_D512算法模塊計算得到第一CRC結果;
設置反推導crc32_rollback模塊;
輸入所述第一CRC結果至所述反推導crc32_rollback模塊;
基于所述反推導crc32_rollback模塊反推得到第二CRC結果;
基于所述有效字節的字節數和所述第二CRC結果,選擇獲取第三CRC結果。
2.根據權利要求1所述的循環冗余校驗方法,其特征在于,
將所述第三CRC結果附在所述數據報文上;
發送附有所述第三CRC結果的數據報文。
3.根據權利要求2所述的循環冗余校驗方法,其特征在于,
接收附有所述第三CRC結果的數據報文;
基于所述數據報文計算獲取第四CRC結果;
對比所述第三CRC結果和所述第四CRC結果,若所述第三CRC結果與所述第四CRC結果相同,則所述數據報文校驗成功,若所述第三CRC結果與所述第四CRC結果不相同,則所述數據報文校驗失敗。
4.根據權利要求3所述的循環冗余校驗方法,其特征在于,
所述待處理的數據報文的位寬為512bit,所述第一CRC結果的位寬為32bit。
5.根據權利要求4所述的循環冗余校驗方法,其特征在于,
基于FPGA或CPLD芯片和Verilog語言,進行CRC結果計算和循環冗余校驗。
6.一種循環冗余校驗裝置,其特征在于,包括
報文獲取模塊,用于獲取待處理的數據報文和所述待處理的數據報文的有效字節和無效字節,并將所述無效字節填充為0;
CRC32_D512算法模塊,用于基于輸入的所述有效字節計算得到第一CRC結果;
反推導crc32_rollback模塊,用于基于輸入的所述第一CRC結果反推得到第二CRC結果;
第三CRC結果獲取模塊,用于基于所述有效字節的字節數和所述第二CRC結果,選擇獲取第三CRC結果。
7.根據權利要求6所述的循環冗余校驗裝置,其特征在于,還包括,
報文發送模塊,用于發送附有所述第三CRC結果的數據報文。
8.根據權利要求7所述的循環冗余校驗裝置,其特征在于,
報文接收模塊,用于接收附有所述第三CRC結果的數據報文;
第四CRC結果獲取模塊,用于基于所述數據報文計算獲取第四CRC結果;
結果對比模塊,用于對比所述第三CRC結果和所述第四CRC結果,若所述第三CRC結果與所述第四CRC結果相同,則所述數據報文校驗成功,若所述第三CRC結果與所述第四CRC結果不相同,則所述數據報文校驗失敗。
9.根據權利要求8所述的循環冗余校驗裝置,其特征在于,
還包括FPGA或CPLD芯片,所述FPGA或CPLD芯片用于CRC結果計算和循環冗余校驗,所述待處理的數據報文的位寬為512bit,所述第一CRC結果的位寬為32bit。
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