[發明專利]一種測量液晶透過波前的干涉儀在審
| 申請號: | 202010864875.1 | 申請日: | 2020-08-25 |
| 公開(公告)號: | CN111854984A | 公開(公告)日: | 2020-10-30 |
| 發明(設計)人: | 祝沛 | 申請(專利權)人: | 上海乾曜光學科技有限公司 |
| 主分類號: | G01J9/02 | 分類號: | G01J9/02;G01J9/00;G01M11/02 |
| 代理公司: | 上海助之鑫知識產權代理有限公司 31328 | 代理人: | 王風平 |
| 地址: | 201800 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測量 液晶 透過 干涉儀 | ||
1.一種測量液晶透過波前的干涉儀,與待測的液晶板相對應,包括基座和安裝在基座上的工控機;
其特征在于:
所述基座上設置有光路結構;
所述基座上安裝有相機,相機連接工控機;
所述光路結構包括光源設備和對應光源設備的反射參考鏡;光源設備與反射參考鏡之間依次設置有分光棱鏡、第一準直鏡和透射參考鏡;所述分光棱鏡上另一側位置對應相機,且相機的鏡頭與分光棱鏡之間設置有第二準直鏡。
2.根據權利要求1所述的一種測量液晶透過波前的干涉儀,其特征在于:所述光源設備包括圓偏振光輸出的激光器、設置在激光器和分光棱鏡之間的旋轉偏振片、聚光鏡;激光器發射出來的激光經過旋轉偏振片和聚光鏡后照射到分光棱鏡上。
3.根據權利要求2所述的一種測量液晶透過波前的干涉儀,其特征在于:所述分光棱鏡使用的是非偏振分光棱鏡。
4.根據權利要求3所述的一種測量液晶透過波前的干涉儀,其特征在于:所述激光照射到液晶板上后會分解為o光和e光;o光方向與旋轉偏振片的偏振方向一致。
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