[發明專利]一種混頻器直流偏置校準方法、設備及介質

在審

• 申請號: 202010864644.0
• 申請日: 2020-08-25
• 公開（公告）號: CN112083370A
• 公開（公告）日: 2020-12-15
• 發明（設計）人: 李清石;金長新;劉強
• 申請（專利權）人: 濟南浪潮高新科技投資發展有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 北京君慧知識產權代理事務所(普通合伙) 11716
• 代理人: 董延麗

本申請公開了一種混頻器直流偏置校準方法、設備及介質，應用在直流偏置校準系統中，方法包括：上位機確定預先設置的第一次掃描信息；根據第一次掃描信息，進行第一次掃描；接收頻譜分析儀發送的第一次掃描結果，并選擇若干個候選電壓值；確定預先設置的第二次掃描信息；基于第二次掃描信息、若干個候選電壓值，進行第二次掃描；接收頻譜分析儀發送的第二次掃描結果，并選取最優電壓值。以此能夠在保證掃描次數不會過多的同時，也能夠達到較高的掃描精度。并且，以此得到的最優電壓值是全局的最優電壓值，而非局部的最優電壓值，能夠保證掃描效果。

技術領域

本申請涉及混頻器領域，具體涉及一種混頻器直流偏置校準方法、設備及介質。

背景技術

混頻器是輸出信號頻率等于兩輸入信號頻率之和、差或為兩者其他組合的電路。混頻器通常由非線性元件和選頻回路構成。

在日常使用工作過程中，需要先對混頻器進行直流偏置校準。而在直流偏置校準的過程中，需要對輸入端口的直流偏置電壓分別進行調整，以尋求輸出端輸出的信號中有最小的本振信號輸出，即本振信號對輸出信號的影響最小。

但是現在有技術中，在進行直流偏置校準時，如果掃描次數太小，會導致最終掃描結果效果較差，如果掃描次數太多，會導致校準時間太長。

發明內容

為了解決上述問題，本申請提出了一種混頻器直流偏置校準方法，包括：應用在直流偏置校準系統中，所述直流偏置校準系統包括任意信號發生器、微波源、混頻器、頻譜分析儀、上位機，所述方法包括：所述上位機確定預先設置的第一次掃描信息，所述第一次掃描信息包括第一次掃描范圍、第一次掃描點數、門限值；根據所述第一次掃描信息，控制所述任意信號發生器、所述微波源、所述混頻器進行第一次掃描；接收所述頻譜分析儀發送的第一次掃描結果，并基于所述門限值以及所述第一次掃描結果選擇若干個候選電壓值；確定預先設置的第二次掃描信息，所述第二次掃描信息包括電壓相對值、第二次掃描點數，所述電壓相對值與第二次掃描范圍相對應；基于所述第二次掃描信息、所述若干個候選電壓值，控制所述任意信號發生器、所述微波源、所述混頻器進行進行第二次掃描；接收所述頻譜分析儀發送的第二次掃描結果，并基于所述第二次掃描結果選取最優電壓值。

在一個示例中，根據所述第一次掃描信息，控制所述任意信號發生器、所述微波源、所述混頻器進行第一次掃描，包括：根據所述第一次掃描范圍、所述第一次掃描點數，確定第一步進值；基于所述第一步進值、所述第一次掃描范圍以及預設的初始電壓值，控制所述任意信號發生器向所述混頻器發送輸入信號，以及控制所述微波源向所述混頻器發送本振信號；基于所述第二次掃描信息、所述若干個候選電壓值，控制所述任意信號發生器、所述微波源、所述混頻器進行進行第二次掃描，包括：根據所述電壓相對值、所述第二次掃描點數，確定第二步進值；基于所述第二步進值、所述電壓相對值以及所述若干個候選電壓值，控制所述任意信號發生器向所述混頻器發送輸入信號，以及控制所述微波源向所述混頻器發送本振信號。

在一個示例中，基于所述第一步進值、所述第一次掃描范圍以及預設的初始電壓值，控制所述任意信號發生器向所述混頻器發送輸入信號，以及控制所述微波源向所述混頻器發送本振信號，包括：控制所述任意信號發生器向所述混頻器發送所述初始電壓值對應的所述輸入信號；將所述初始電壓值增加或減少所述第一步進值后，得到重新計算的電壓值，并控制所述任意信號發生器向所述混頻器發送所述重新計算的電壓值對應的所述輸入信號，直至所述重新計算的電壓值達到所述第一次掃描范圍對應的電壓值；基于所述第二步進值、所述電壓相對值以及所述若干個候選電壓值，控制所述任意信號發生器向所述混頻器發送輸入信號，以及控制所述微波源向所述混頻器發送本振信號，包括：針對所述若干個候選電壓值中的每個候選電壓值，控制所述任意信號發生器向所述混頻器發送該候選電壓值對應的所述輸入信號；將該候選電壓值增加或減少所述第二步進值后，得到重新計算的電壓值，并控制所述任意信號發生器向所述混頻器發送所述重新計算的電壓值對應的所述輸入信號，直至所述重新計算的電壓值達到所述電壓相對值對應的掃描范圍。