[發明專利]電纜導體直流電阻測試裝置

在審

• 申請號: 202010862756.2
• 申請日: 2020-08-25
• 公開（公告）號: CN112067895A
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 付超;鄧先生;應斯;伍罡;袁田;王琦;王欣盛;張錦;龔宇佳;方睿;楊國泰;魏志雄;黃小華;張春龍;姚藝新;張國兵;田園
• 申請（專利權）人: 中國電力科學研究院有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 北京工信聯合知識產權代理有限公司 11266
• 代理人: 夏德政

1.一種電纜導體直流電阻測試裝置，其特征在于，包括：兩個電流電極裝置(1)和至少兩個電位電極裝置(2)；其中，

兩個所述電流電極裝置(1)分別一一對應地且可拆卸地設置于電纜導體(3)的兩個端部，兩個所述電流電極裝置(1)均用于與外接設備相連接，并向所述電纜導體(3)提供電流，以形成電流回路；

各所述電位電極裝置(2)間隔地且可拆卸地設置于所述電纜導體(3)，每個所述電位電極裝置(2)均用于檢測所述電纜導體(3)的電位。

2.根據權利要求1所述的電纜導體直流電阻測試裝置，其特征在于，每個所述電流電極裝置(1)均包括：均具有導電性的殼體(11)、第一鎖緊機構、第一接觸機構和測量柱(12)；其中，

所述殼體(11)的一端為開口端，另一端為封閉端，所述殼體(11)套設于所述電纜導體(3)的端部，并且，所述殼體(11)的封閉端與所述電纜導體(3)的端部相接觸，所述殼體(11)的外壁開設有用于安裝端電極(13)的安裝孔；

所述第一鎖緊機構設置于所述殼體(11)，用于使所述殼體(11)與所述電纜導體(3)相鎖緊；

所述第一接觸機構設置于所述殼體(11)的內壁，用于使所述殼體(11)與所述電纜導體(3)緊密接觸；

所述測量柱(12)設置于所述殼體(11)的外壁，用于與電流測量裝置相連接。

3.根據權利要求2所述的電纜導體直流電阻測試裝置，其特征在于，所述第一接觸機構包括：至少五個電流塊(14)和多個接觸電極(15)；其中，

所述電纜導體(3)為圓柱狀，所述電纜導體(3)包括：至少五個截面為扇形的分割導體；

各所述電流塊(14)沿所述殼體(11)的周向且可拆卸地設置于所述殼體(11)的內壁，并且，每個所述電流塊(14)均與所述分割導體相接觸；

各所述接觸電極(15)均設置于所述殼體(11)的封閉端的內壁且與各所述分割導體的端部相接觸。

4.根據權利要求3所述的電纜導體直流電阻測試裝置，其特征在于，每個所述接觸電極(15)與所述分割導體相接觸的端部均設置有彈性件。

5.根據權利要求2所述的電纜導體直流電阻測試裝置，其特征在于，所述第一鎖緊機構包括：至少五個第一鎖緊螺栓(16)；其中，

所述殼體(11)沿周向開設有至少五個第一螺紋孔(111)，各所述第一鎖緊螺栓(16)一一對應地穿設且螺接于各所述第一螺紋孔(111)，每個所述第一鎖緊螺栓(16)的端部均抵接于所述電流塊(14)，以通過所述電流塊(14)對所述電纜導體(3)鎖緊。

6.根據權利要求2所述的電纜導體直流電阻測試裝置，其特征在于，所述殼體(11)開設有多個第一減重孔(112)。

7.根據權利要求1所述的電纜導體直流電阻測試裝置，其特征在于，每個所述電位電極裝置(2)均包括：均具有導電性的筒體(21)、第二鎖緊機構和第二接觸機構；其中，

所述筒體(21)的兩端均為開口端，所述筒體(21)套設于所述電纜導體(3)的外部，所述筒體(21)的外壁開設有用于與電位測量裝置連接的測量孔(211)；

所述第二鎖緊機構設置于所述筒體(21)，用于使所述筒體(21)與所述電纜導體(3)相鎖緊；

所述第二接觸機構設置于所述筒體(21)的內壁，用于使所述筒體(21)與所述電纜導體(3)緊密接觸。

8.根據權利要求7所述的電纜導體直流電阻測試裝置，其特征在于，所述第二接觸機構包括：至少五個電位塊(22)；其中，

所述電纜導體(3)為圓柱狀，所述電纜導體(3)包括：至少五個截面為扇形的分割導體；

各所述電位塊(22)沿所述筒體(21)的周向且可拆卸地設置于所述筒體(21)的內壁，并且，每個所述電位塊(22)均與所述分割導體相接觸。