[發明專利]用于檢查分析儀的狀態的技術

在審

• 申請號: 202010862268.1
• 申請日: 2020-08-25
• 公開（公告）號: CN112444586A
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發明（設計）人: S·昆特;B·蒂曼;F·施溫伯格;M·斯汀格
• 申請（專利權）人: 豪夫邁·羅氏有限公司
• 主分類號: G01N30/62
• 分類號: G01N30/62;G01N30/86
• 代理公司: 北京坤瑞律師事務所 11494
• 代理人: 岑曉東

1.一種監視包括質譜儀(MS)的分析儀的狀態的自動化方法，所述質譜儀具有耦接到液相色譜(LC)流的電噴霧電離(ESI)源(45)，所述方法包括：

監視(101)所述ESI源(45)的電噴霧電離電流；以及

基于所監視的所述ESI源(45)的電離電流識別(107)所述分析儀的多個條件中的某一條件，

其中，所述多個條件中的一個條件是在所述LC流的LC柱(9a；9b)下游在所述分析儀的液相色譜流中存在死體積(13)。

2.根據權利要求1所述的方法，其進一步包括監視一個或多個附加參數，所述一個或多個附加參數包括所述分析儀的液相色譜(LC)流中的壓力，其中所述對某一條件的識別進一步基于所監視的附加參數以區分所述多個條件。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其進一步包括監視一個或多個附加參數，所述一個或多個附加參數包括所述分析儀的液相色譜(LC)流的色譜圖的一個或多個色譜特征，其中所述對某一條件的識別進一步基于所監視的附加參數以區分所述多個條件。

4.根據權利要求3所述的方法，其中所述色譜特征選自由峰寬參數、保留時間參數、峰高參數、峰面積參數和峰對稱性參數組成的列表。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其中所述條件包括以下一項或多項：所述分析儀的特定部件的老化，或所述分析儀的特定部件的錯誤或缺陷。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的方法，其中所述多個條件進一步包括以下一項或多項：

存在柱前死體積(15)；

閥錯誤；

噴霧針老化；

柱缺陷；

柱老化；

噴霧不穩定；

堵塞；

泄漏；

離子源污染。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的方法，其中所述對多個條件中的某一條件的識別包括確定以下一項或多項：所監視的參數的減小、所監視的參數的增大、所監視的參數的波動、所監視的參數的時間序列(21；22；31a；31b；32a；32b)中的曲線偏移以及所監視的參數的時間序列(21；22；31a；31b；32a；32b)的曲線變化。

8.根據權利要求7所述的方法，其中基于所監視的所述ESI源(45)的電離電流識別在液相色譜流中是否存在死體積(13)包括評估所監視的所述ESI源(45)的電離電流的時間序列中的曲線偏移。

9.根據權利要求2至8中任一項所述的方法，其中所測量的所述附加參數是以內標物測量的。

10.根據前述權利要求1至9中的任一項所述的方法，其進一步包括：根據所確定的所述分析儀的條件觸發多個響應中的一個或多個所選擇的響應(74)。

11.根據權利要求10所述的方法，其中所述多個響應包括以下一項或多項：

記錄所確定的所述分析儀的狀態；

開始或調度自動維護操作；

生成錯誤消息；

要求操作員執行預定維護操作；

通知服務提供方；以及

調度預防性維護操作。

12.根據權利要求11所述的方法，其中所述維護操作為以下項中的一項：重新連接所述ESI源(45)的毛細管；更換所述分析儀的LC流的LC柱(9a；9b)；清潔所述ESI源(45)的離子源；以及清潔或更換所述ESI源(45)的毛細管。

13.根據權利要求1至12中任一項所述的方法，其進一步包括基于所監視的電噴霧電離電流以及任選地一個或多個所測量的附加參數來預測所述電噴霧電離電流以及任選地一個或多個所測量的附加參數隨時間推移的發展，以及

基于所預測的所述電噴霧電離電流以及任選地一個或多個所測量的附加參數的發展來觸發響應。