[發明專利]一種超大動態范圍光纖損耗分布測試裝置及測試方法

有效

• 申請號: 202010860620.8
• 申請日: 2020-08-25
• 公開（公告）號: CN112051031B
• 公開（公告）日: 2022-07-19
• 發明（設計）人: 李立功;袁明;閆繼送;閆寶東;董杰;張志遠;韓強;張洋;郭洪龍;李述標;盛立文;龔侃;郎金鵬
• 申請（專利權）人: 中電科思儀科技股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 青島智地領創專利代理有限公司 37252
• 代理人: 種艷麗

1.一種超大動態范圍光纖損耗分布測試裝置，其特征在于：包括CPU模塊、第一激光器控制模塊、1550nm激光器控制模塊、1550nm光隔離器、1550nm1:9光耦合器、1550nm移頻調制模塊、1550nm脈沖調制模塊、EDFA、環形器、1550nm1:1耦合器、擾偏器模塊、第一O/E模塊、高通濾波器、第一前置放大模塊、第一A/D模塊、第一采集模塊、WDM、1455nm激光器控制模塊、1455nm光隔離器、1455nm1:99光耦合器、第二O/E模塊、第二前置放大模塊、第二A/D模塊、第二采集模塊、第二激光器控制模塊和被測光纖/光纜；

CPU模塊、第一激光器控制模塊、1550nm激光器控制模塊、1550nm光隔離器、1550nm1:9光耦合器通過線路依次連接；1550nm1:9光耦合器的90％輸出端口與1550nm移頻調制模塊連接，1550nm1:9光耦合器的10％輸出端口與擾偏器模塊連接；1550nm移頻調制模塊、1550nm脈沖調制模塊、EDFA、環形器的一端通過線路依次連接；1550nm1:1耦合器的兩個50％輸出端分別與擾偏器模塊和環形器的另一端接連接，1550nm1:1耦合器的輸入端與第一O/E模塊連接；環形器的第三端與WDM的1550nm端口連接；

第一O/E模塊、高通濾波器、第一前置放大模塊、第一A/D模塊、第一采集模塊、CPU模塊通過線路依次連接；

CPU模塊、1455nm激光器控制模塊、1455nm光隔離器、1455nm1:99光耦合器通過線路依次連接；1455nm1:99光耦合器的1％輸出端與第二O/E模塊連接，1455nm1:99光耦合器的99％輸出端與WDM的1455nm端連接；WDM的輸出端與被測光纖/光纜連接；

第二O/E模塊、第二前置放大模塊、第二A/D模塊、第二采集模塊、第二激光器控制模塊、1455nm激光器控制模塊通過線路依次連接。

2.根據權利要求1所述的超大動態范圍光纖損耗分布測試裝置，其特征在于：1550nm激光器控制模塊的工作波長范圍為1550nm±5nm；1550nm脈沖調制模塊的脈沖調制范圍為1ns～16380ns；第二O/E模塊為光電轉換模塊。