[發明專利]光學系統

在審

• 申請號: 202010859815.0
• 申請日: 2020-08-24
• 公開（公告）號: CN111855545A
• 公開（公告）日: 2020-10-30
• 發明（設計）人: 卜洋洋;張國聯
• 申請（專利權）人: 山東卓越生物技術股份有限公司
• 主分類號: G01N15/14
• 分類號: G01N15/14
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 劉娜

1.一種光學系統，其特征在于，包括：

底板(10)；

光學組件(20)，所述光學組件(20)與所述底板(10)連接，且所述光學組件(20)的至少一部分相對于所述底板(10)可活動設置，所述光學組件(20)射出激光的方向為第一方向，在水平面上與所述第一方向垂直的方向為第二方向，在豎直面上與所述第一方向垂直的方向為第三方向；

調試工裝(30)，所述調試工裝(30)與所述底板(10)連接，且所述調試工裝(30)的至少一部分相對于所述底板(10)可活動設置，所述調試工裝(30)與所述光學組件(20)分體可拆卸連接，并能夠帶動所述光學組件(20)的各個部件在所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向中的至少一個方向上運動，以調整所述光學組件(20)的各個部件之間的相對位置。

2.根據權利要求1所述的光學系統，其特征在于，所述光學組件(20)和/或所述調試工裝(30)開設有長圓形的第一滑孔，所述底板(10)上開設有第一過孔，緊固件穿設在所述第一滑孔和所述第一過孔中，并使所述光學組件(20)和/或所述調試工裝(30)相對于所述底板(10)滑動設置，所述底板(10)上設置有定位銷(11)，所述定位銷(11)位于所述光學組件(20)和/或所述調試工裝(30)沿滑動方向的側邊，并控制所述光學組件(20)和/或所述調試工裝(30)的滑動方向。

3.根據權利要求1所述的光學系統，其特征在于，所述光學組件(20)包括：

激光定位臺(21)，所述激光定位臺(21)與所述底板(10)固定連接，所述底板(10)上設置有定位柱，所述定位柱伸入至所述激光定位臺(21)內，所述激光定位臺(21)上設置有沿所述第一方向開設的滑道；

激光器(22)，所述激光器(22)可滑動地設置在所述滑道上，所述激光器(22)沿所述第一方向開設有第二滑孔，所述激光定位臺(21)開設有第二過孔，緊固件穿設在所述第二滑孔和所述第二過孔中，并使所述激光器(22)與所述激光定位臺(21)滑動連接。

4.根據權利要求3所述的光學系統，其特征在于，所述滑道和/或所述第二過孔設置有倒角，以調整所述激光器(22)相對于所述底板(10)的平行度。

5.根據權利要求1所述的光學系統，其特征在于，所述光學組件(20)包括：

流動室定位臺(23)，所述流動室定位臺(23)沿所述第二方向開設有第三滑孔，緊固件穿過所述第三滑孔與所述底板(10)連接，并使所述流動室定位臺(23)與所述底板(10)滑動連接；

流動室組件(24)，所述流動室組件(24)開設有周向延伸的第四滑孔，緊固件穿過所述第四滑孔與所述流動室定位臺(23)連接，并使所述流動室組件(24)與所述流動室定位臺(23)可轉動連接，以改變所述激光射入所述流動室組件(24)的參數。

6.根據權利要求1所述的光學系統，其特征在于，所述光學組件(20)包括：

前向探測器橫向調節板(25)，所述前向探測器橫向調節板(25)沿所述第二方向開設有第五滑孔，緊固件穿過所述第五滑孔與所述底板(10)連接，并使所述前向探測器橫向調節板(25)與所述底板(10)滑動連接；

前向探測器縱向調節板(26)，所述前向探測器縱向調節板(26)沿所述第三方向開設有第六滑孔，緊固件穿過所述第六滑孔與所述前向探測器橫向調節板(25)的側面連接，并使所述前向探測器縱向調節板(26)與所述前向探測器橫向調節板(25)滑動連接；

側向探測器支架(27)，所述側向探測器支架(27)沿所述第二方向開設有第七滑孔，緊固件穿過所述第七滑孔與所述前向探測器縱向調節板(26)連接，并使所述側向探測器支架(27)與所述前向探測器縱向調節板(26)滑動連接。

7.根據權利要求6所述的光學系統，其特征在于，所述前向探測器縱向調節板(26)具有卡位凸臺，所述側向探測器支架(27)與所述卡位凸臺抵接，以使所述側向探測器支架(27)上側向探測器中心與所述激光在同一水平面內。